本实用新型专利技术公开了一种红外检测晶片辅助装置，涉及晶片监测设备技术领域，包括底座，旋转托架，支撑柱和电机，所述底座上开设有柱形槽，所述旋转托架可转动的设置于柱形槽内，所述旋转托架由电机驱动，所述旋转托架中间位置处设有开口，开口内壁设置有若干支撑柱。通过本实用新型专利技术的设置，提出一种检测效率高，减轻操作人员劳动强度，同时可满足操作人员专注检查图像，无需手动转动晶片的红外检测晶片辅助装置。装置。装置。
【技术实现步骤摘要】
一种红外检测晶片辅助装置
[0001]本技术涉及晶片监测设备
，尤其涉及一种红外检测晶片辅助装置。
技术介绍
[0002]在对红外检测晶片进行观测时，需要将晶片放置在镜头下，由于晶片尺寸的大小不同，在镜头的焦距的不变的前提下，晶片尺寸越大，所观察的局部就小，因此要将晶片进行转动以观察完整的晶片。
[0003]目前对于较大尺寸的晶片观察时，是通过手动将检测晶片放置在托架上再通过人工进行手动转动，在此过程中还需要操作人员侧身观察晶片的位置并对照屏幕呈现的图像；因此，现有检测晶片方法中手动转动晶片的效率较低，晶片尺寸越大大，重量重，劳动强度大；同时员工需要扭身看屏幕图像，长时间工作对身体有伤害。
[0004]为此本技术提出一种检测效率高，减轻操作人员劳动强度，同时可满足操作人员专注检查图像，无需手动转动晶片的红外检测晶片辅助装置。
技术实现思路
[0005]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺陷，而提出的一种红外检测晶片辅助装置。
[0006]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0007]一种红外检测晶片辅助装置，包括底座，旋转托架，支撑柱和电机，所述底座上开设有柱形槽，所述旋转托架可转动的设置于柱形槽内，所述旋转托架由电机驱动，所述旋转托架中间位置处设有开口，开口内壁设置有若干支撑柱。
[0008]进一步的，所述电机固定连接于所述底座上，电机的电机轴上套设有锥齿轮，所述旋转托架上设置有与锥齿轮相适配的齿环。
[0009]进一步的，所述支撑柱呈环形阵列的排布于所述开口内。
[0010]进一步的，所述旋转托架上还设置有晶片检测传感器，所述晶片检测传感器与控制器电连接，所述控制器用于控制所述电机。
[0011]进一步的，所述柱形槽上设置有通孔，所述通孔的半径大于开口的半径，小于旋转托架的半径。
[0012]有益效果
[0013]相比于现有技术，本技术的有益效果在于：
[0014]通过本技术的设置，提出一种检测效率高，减轻操作人员劳动强度，同时可满足操作人员专注检查图像，无需手动转动晶片的红外检测晶片辅助装置。
附图说明
[0015]附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。
[0016]图1为一种红外检测晶片辅助装置的整体结构示意图。
[0017]图中：1、底座，2、旋转托架，3、支撑柱，4、电机。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0019]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0020]参照图1，一种红外检测晶片辅助装置，包括底座1，旋转托架2，支撑柱3和电机4，底座上开设有柱形槽，旋转托架可转动的设置于柱形槽内，旋转托架由电机驱动，旋转托架中间位置处设有开口，开口内壁设置有若干支撑柱，通过设置的开口以便于放置晶片，底部发射红外光通过开口照射晶片底部，红外光透过晶片，并被晶片上部的摄像头捕捉图像，以使操作人员能够观察到遮挡面积更小的晶片图像。旋转托架开口设置为生产的最大晶片直径尺寸，如检查其他尺寸晶片，可使用相应规格托盘放置在支撑柱上。
[0021]电机固定连接于底座上，电机的电机轴上套设有锥齿轮，旋转托架上设置有与锥齿轮相适配的齿环，电机带动锥齿轮旋转，进而带动齿环旋转，齿环与旋转托架同步旋转，最终实现晶片的自动化转动。
[0022]支撑柱呈环形阵列的排布于开口内。
[0023]旋转托架上还设置有晶片检测传感器，晶片检测传感器与控制器电连接，控制器用于控制电机。
[0024]柱形槽上设置有通孔，通孔的半径大于开口的半径，小于旋转托架的半径。
[0025]本技术的工作原理及使用流程：
[0026]一种红外检测晶片辅助装置，包括底座，旋转托架，支撑柱，电机，晶片检测传感器、控制器，在使用时将晶片放置在旋转托架上，晶片由支撑柱支撑，其中支撑柱与晶片检测传感器电连接，在晶片检测传感器检测到晶片后，旋转托架由电机控制并按照按程序设定的转速旋转进而带动晶片旋转，在此过程中操作人员可直接观看屏幕图像进行晶片的检查。
[0027]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种红外检测晶片辅助装置，其特征在于，包括底座，旋转托架，支撑柱和电机，所述底座上开设有柱形槽，所述旋转托架可转动的设置于柱形槽内，所述旋转托架由电机驱动，所述旋转托架中间位置处设有开口，开口内壁设置有若干支撑柱。2.根据权利要求1所述的一种红外检测晶片辅助装置，其特征在于，所述电机固定连接于所述底座上，电机的电机轴上套设有锥齿轮，所述旋转托架上设置有与锥齿轮相适配的齿环。3.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员：张华，任殿胜，张帅，
申请(专利权)人：保定通美晶体制造有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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