发射模组的脏污监测系统、脏污检测方法及相关设备技术方案

本发明专利技术公开了一种发射模组的脏污监测系统、深度相机、智能终端、脏污检测方法及计算机可读存储介质，脏污监测系统包括光源、光学元件、检测元件及处理器，光源用于发射光信号，光学元件位于光源的投射路径上，检测元件在接收被光学元件反射的光信号后生成光电流，处理器用于根据光电流计算光学元件对光信号的反射率，当光学元件的反射率大于第一预设阈值时，判定光学元件存在脏污。本发明专利技术中处理器根据检测元件生成的光电流计算光学元件对光信号的反射率，并根据反射率监测光学元件是否脏污，在光学元件脏污时可以及时察觉。在光学元件脏污时可以及时察觉。在光学元件脏污时可以及时察觉。

【技术实现步骤摘要】
发射模组的脏污监测系统、脏污检测方法及相关设备


[0001]本专利技术涉及三维视觉传感
，尤其涉及的是一种发射模组的脏污监测系统、深度相机、智能终端、脏污检测方法及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着自动化技术和人工智能的迅速发展，机器人被广泛应用在各种场景，例如送餐机器人、扫地机机器人等，通常机器人使用结构光传感器、飞行时间(Time
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Flight，TOF)传感器等三维视觉传感器进行视觉感知，以实现空间定位、导航、避障等功能。然而，在实际应用中，当三维视觉传感器长期使用时，三维视觉传感器的表面不可避免的会出现脏污，影响三维视觉传感器的探测精度等性能。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的在于提供一种发射模组的脏污监测系统、深度相机、智能终端、脏污检测方法及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中当三维视觉传感器长期使用时，会在三维视觉传感器的表面出现脏污，影响三维视觉传感器的探测精度等性能的技术问题。
[0004]为了实现上述目的，本专利技术第一方面提供一种发射模组的脏污监测系统，脏污监测系统包括光源、光学元件、检测元件及处理器，其中：光源用于发射光信号，光学元件位于光源的投射路径上，检测元件在接收被光学元件反射的光信号后生成光电流，处理器用于根据光电流计算光学元件对光信号的反射率，当光学元件的反射率大于第一预设阈值时，判定光学元件存在脏污。
[0005]在一些实施例中，脏污监测系统还包括用于驱动光源发光的驱动芯片，驱动芯片还用于根据脏污程度调节光源的发光功率。
[0006]在一些实施例中，当确定光学元件脏污时，处理器还用于发出光学元件脏污提醒。
[0007]在一些实施例中，当光学元件的反射率小于第二预设阈值且大于第三预设阈值时，处理器还用于确定光学元件发生破裂，并发出光学元件破裂提醒及关闭光源；当光学元件的反射率小于第三预设阈值时，处理器还用于确定光学元件脱落，并发出光学元件脱落提醒及关闭光源；其中，第二预设阈值小于或等于第一预设阈值。
[0008]本专利技术第二方面提供一种深度相机，包括接收模组及如上述任一实施例所述的发射模组的脏污监测系统，光源发射的光信号经光学元件出射后投射至目标物体，接收模组用于接收目标物体反射回的光信号。
[0009]本专利技术第三方面提供一种智能终端，包括存储器及上述第一方面所述的发射模组的脏污监测系统。
[0010]本专利技术第四方面提供一种基于上述第一方面所述的脏污监测系统的脏污检测方法，包括：控制光源发射光信号，光信号经光学元件后投射至目标物体；控制检测元件接收被光学元件反射的光信号并生成光电流；根据光电流计算光学元件对光信号的反射率，当
光学元件的反射率大于第一预设阈值时，判定光学元件存在脏污。
[0011]本专利技术第五方面提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有脏污检测程序，脏污检测程序被处理器执行时实现上述脏污检测方法的步骤。
[0012]由上可见，本专利技术中，检测元件接收光学元件反射的光信号并生成光电流，处理器根据光电流计算光学元件对光信号的反射率，当光学元件的反射率大于第一预设阈值时，判定光学元件存在脏污，因此，通过脏污监测系统可以监测光学元件是否脏污，当光学元件脏污时可以及时发现，进而保证深度相机的探测精度。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
[0014]图1是本专利技术智能终端的一些实施例的结构示意图
[0015]图2是本专利技术深度相机的一些实施例的结构示意图；
[0016]图3是本专利技术发射模组的脏污监测系统的一些实施例的结构示意图；
[0017]图4是本专利技术实施例提供的当光学元件无脏污时，发射模组发射的光信号示意图；
[0018]图5是本专利技术实施例提供的当光学元件有脏污时，发射模组发射的光信号示意图；
[0019]图6是本专利技术实施例提供的光学元件的反射率与脏污程度的拟合曲线；
[0020]图7是本专利技术实施例提供的脏污检测方法的一些实施例的流程示意图。
具体实施方式
[0021]以下描述中，为了说明而不是为了限定，提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节，以便透彻理解本专利技术实施例。然而，本领域的技术人员应当清楚，在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本专利技术。在其它情况下，省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明，以免不必要的细节妨碍本专利技术的描述。
[0022]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0023]还应当理解，在本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0024]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0025]如在本说明书和所附权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当
…
时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似的，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述的条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
[0026]下面结合本专利技术实施例的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地
描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0027]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术，但是本专利技术还可以采用其它不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似推广，因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0028]随着科技的发展，移动机器人已经随处可见，例如餐厅的送餐机器人，家居的扫地机机器人等，为了提高移动机器人应用的可靠性，需要使用各种不同类型的传感器。例如结构光、双目、iTOF、dTOF等三维视觉传感器可以满足机器人的近距避障、室内空间定位、导航的应用。目前，移动机器人在应用中通常存在灰尘等脏污的环境，当三维视觉传感器长期使用时，不可避免的会在表面出现脏污，此本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发射模组的脏污监测系统，其特征在于，包括光源、光学元件、检测元件及处理器，其中：所述光源用于发射光信号；所述光学元件位于所述光源的投射路径上；所述检测元件在接收被所述光学元件反射的光信号后生成光电流；所述处理器用于根据所述光电流计算所述光学元件对所述光信号的反射率，当所述光学元件的反射率大于第一预设阈值时，判定所述光学元件存在脏污。2.根据权利要求1所述的脏污监测系统，其特征在于，所述处理器还用于根据所述光电流确定所述光学元件的脏污程度。3.根据权利要求2所述的脏污监测系统，其特征在于，所述脏污监测系统还包括用于驱动所述光源发光的驱动芯片，所述驱动芯片还用于根据所述脏污程度调节所述光源的发光功率。4.根据权利要求1所述的脏污监测系统，其特征在于，当确定所述光学元件脏污时，所述处理器还用于发出所述光学元件脏污提醒。5.根据权利要求1所述的脏污监测系统，其特征在于，当所述光学元件的反射率小于第二预设阈值且大于第三预设阈值时，所述处理器还用于确定所述光学元件发生破裂，并发出所述光学元件破裂提醒；当所述光学元件的反射率小于所述第三预设阈值时，所述处理器还用于确定所述光学元件脱落，并发出所述光学元件脱落提醒；其中，所述第二预...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙瑞，王家麒，焦健楠，陶郅，王飞，
申请(专利权)人：深圳奥芯微视科技有限公司，
类型：发明
国别省市：