【技术实现步骤摘要】
一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规
[0001]本技术涉及塞规量具
,具体涉及一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规。
技术介绍
[0002]石墨电极接头是石墨电极的配件和石墨电极配套使用,如图1所示,从外形上看,石墨电极整体呈圆柱状,其两端设有同轴的圆锥孔。成品的石墨电极需要检验其两端圆锥孔与石墨电极之间的同轴度,圆锥孔与石墨电极端面的垂直度以及石墨电极外圆周壁的圆度;现有检验方法为采用螺纹塞规进行测量,但是采用该方法步骤繁琐,耗时长(螺纹塞规的旋入与旋出),不适于在线对各个产品进行检测。
技术实现思路
[0003]有鉴于此,本技术的目的在于提供一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规,以解决环形塞规使用不便和耗时长的技术问题。
[0004]本技术所采用的技术方案为:
[0005]设计一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规,包括上大下小的本体以及设置于所述本体顶端的基准板,所述本体的高度大于所述待测圆锥孔的深度,所述基准板的上表面为水平基准面,且基准板的长度大于待测圆锥孔的大径端的直径,在所述本体长度方向的两侧均设有与待测圆锥孔相适配的锥度测量面;所述基准板上表面设有凸起,所述凸起上设有垂直基准面。
[0006]优选的,所述凸起有两个,并以两锥度测量面的镜像对称面镜像对称。
[0007]优选的,所述垂直基准面为圆弧面,且所述圆弧面与标准石墨电极外圆周面同轴。
[0008]优选的,所述垂直基准面设置于两个凸台相背离的一 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规,其特征在于:包括上大下小的本体以及设置于所述本体顶端的基准板,所述本体的高度大于待测圆锥孔的深度,所述基准板的上表面为水平基准面,且基准板的长度大于待测圆锥孔的大径端的直径,在所述本体长度方向的两侧均设有与待测圆锥孔相适配的锥度测量面;所述基准板上表面设有凸起,所述凸起上设有垂直基准面。2.根据权利要求1所述的可同时测量圆度、垂直度和同轴度的专用片型塞规,其特征在于:所述凸起有两个,并以两锥度测量面的镜像对称面镜像对称。3.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员:芦海涛,李明杰,李三强,季磊,李现成,苏双军,张胜恩,尚亚博,
申请(专利权)人:开封平煤新型炭材料科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。