一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规制造技术

本实用新型专利技术公开了塞规量具技术领域的一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，旨在解决环形塞规使用不便和耗时长的技术问题，该塞规包括本体以及设置于本体顶部的条型凸台，在所述本体的两侧分别设有锥度测量面Ⅰ和锥度测量面Ⅱ，锥度测量面Ⅰ和锥度测量面Ⅱ镜像对称，且两者顶端的间距为待测圆锥孔大径端的极限尺寸Ⅰ，两者底端的间距为待测圆锥孔小径端的极限尺寸Ⅱ，所述极限尺寸Ⅰ和极限尺寸Ⅱ为同一类极限尺寸；所述凸台的长度大于待测圆锥孔的极限尺寸Ⅰ以使凸台的下表面形成基准面。本实用新型专利技术结构简单，操作方便，可快速完成石墨电极圆锥孔内径径向尺寸的检验，剔除不符合尺寸要求的石墨电极，适用于石墨电极的在线检测。测。测。

【技术实现步骤摘要】
一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规


[0001]本技术涉及塞规量具
，具体涉及一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规。

技术介绍

[0002]石墨电极接头是石墨电极的配件和石墨电极配套使用，如图1所示，从外形上看，石墨电极整体呈圆柱状，其两端设有同轴的圆锥孔。成品的石墨电极需要检验其两端圆锥孔内径尺寸是否满足要求，如果内径尺寸过大，在与石墨电极接头进行装配时会出现间隙，如果尺寸过小，则无法与石墨电极接头进行装配。而现有检验方法为采用螺纹塞规进行测量，但是采用该方法步骤繁琐，耗时长（螺纹塞规的旋入与旋出），不适于在线对各个产品进行检测。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，以解决环形塞规使用不便和耗时长的技术问题。
[0004]本技术所采用的技术方案为：
[0005]设计一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，包括本体以及沿本体长度方向设置于本体顶部的条型凸台，所述本体的高度等于待测圆锥孔的深度，在所述本体长度方向的两侧分别设有锥度测量面Ⅰ和锥度测量面Ⅱ，锥度测量面Ⅰ和锥度测量面Ⅱ镜像对称，且两者顶端的间距为待测圆锥孔大径端的极限尺寸Ⅰ，两者底端的间距为待测圆锥孔小径端的极限尺寸Ⅱ，所述极限尺寸Ⅰ和极限尺寸Ⅱ为同一类极限尺寸；所述凸台的长度大于待测圆锥孔的极限尺寸Ⅰ以使凸台的下表面形成基准面。
[0006]优选的，所述极限尺寸Ⅰ和极限尺寸Ⅱ均为上极限尺寸。
[0007]优选的，所述极限尺寸Ⅰ和极限尺寸Ⅱ均为下极限尺寸。
[0008]优选的，所述本体上设有若干减重孔。
[0009]优选的，该塞规还包括滑块Ⅰ和滑块Ⅱ，所述滑块Ⅰ和滑块Ⅱ的一侧分别与所述本体的长度方向的一侧对应滑动连接、顶端与所述凸台卡接，所述滑块Ⅰ和滑块Ⅱ相互背离的一侧对应设有锥度测量面Ⅲ、锥度测量面Ⅳ，所述锥度测量面Ⅲ和锥度测量面Ⅳ镜像对称，且两者顶端的间距为待测圆锥孔大径端的上极限尺寸，两者底端的间距为待测圆锥孔小径端的上极限尺寸，所述凸台的长度大于待测圆锥孔大径端的上极限尺寸。
[0010]优选的，所述本体包括左侧板、右侧板和连接板，所述左侧板的左侧为所述锥度测量面Ⅰ、底端与连接板左端固定相连，所述右侧板的右侧为锥度测量面Ⅱ、底端与连接板的右端固定相连；所述连接板长度可调，在所述凸台上沿其长度方向设有四个卡槽，所述左侧板和右侧板的顶端设有与所述卡槽相配合的卡扣；当所述卡扣与中间两个卡槽卡接时，锥度测量面Ⅰ和锥度测量面Ⅱ顶端的间距为待测圆锥孔大径端的下极限尺寸、底端的间距为待测圆锥孔小径端的下极限尺寸；当所述卡扣与外侧两个卡槽卡接时，锥度测量面Ⅰ和锥度
测量面Ⅱ顶端的间距为待测圆锥孔大径端的上极限尺寸、底端的间距为待测圆锥孔小径端的上极限尺寸。
[0011]与现有技术相比，本技术的有益技术效果是：
[0012]1、本技术结构简单，操作方便，可快速完成石墨电极圆锥孔内径径向尺寸的检验，剔除不符合尺寸要求的石墨电极，适用于石墨电极的在线检测。
[0013]2、本技术中将配套使用的通规和止规设置成一体化结构，可有效防止通规或止规缺少现象的发生；同时便于塞规的存储与携带。
附图说明
[0014]图1为石墨电极的结构示意图；
[0015]图2为本技术的通规的结构示意图；
[0016]图3为本技术的止规的结构示意图；
[0017]图4为本技术的结构示意图之一；
[0018]图5为本技术的结构示意图之二；
[0019]1为本体，2为凸台，3为基准面，4为锥度测量面Ⅰ，5为锥度测量面Ⅱ，6为减重孔，7为滑块Ⅰ，8为滑块Ⅱ，9为卡扣，10为卡槽，11为锥度测量面Ⅲ，12为锥度测量面Ⅳ，13为左侧板，14为右侧板，15为连接板。
具体实施方式
[0020]下面结合附图和实施例来说明本技术的具体实施方式，但以下实施例只是用来详细说明本技术，并不以任何方式限制本技术的范围。以下实施例中所涉及的单元模块零部件、结构、机构等器件，如无特别说明，则均为常规市售产品。
[0021]实施例1：一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，该塞规是一种没有刻度的专用量具，只能判断产品是否在规定的检验极限范围内，该量规两件为一套，包括止规和通规。
[0022]如图2所示，通规包括本体1和条型凸台2，凸台2沿本体1长度方向设置于本体1的顶部，且凸台2的长度大于本体1的长度以使凸台2的下表面形成基准面3，本体1的高度H等于待测圆锥孔的深度，在本体1长度方向的两侧分别设有锥度测量面Ⅰ4和锥度测量面Ⅱ5，锥度测量面Ⅰ4和锥度测量面Ⅱ5均为平面并镜像对称，且两者顶端的间距为待测圆锥孔大径端的下极限尺寸D
‑
，两者底端的间距为待测圆锥孔小径端的下极限尺d
‑
。
[0023]如图3所示，止规的结构与通规基本相同，区别之处在于：锥度测量面Ⅰ4和锥度测量面Ⅱ5顶端的间距为待测圆锥孔大径端的上极限尺寸D+，两者底端的间距为待测圆锥孔小径端的上极限尺d+。
[0024]为了减轻塞规的重量，以便于携带，本体1上设有若干减重孔6。
[0025]实施例2：一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，该塞规是一种没有刻度的专用量具，只能判断产品是否在规定的检验极限范围内，该量规两件为一套，包括止规和通规，且通规和止规采用一体化设计。
[0026]如图4所示，本实施例与实施例1中的通规结构基本相同，区别之处在于：还包括滑块Ⅰ7和滑块Ⅱ8，滑块Ⅰ7的右侧与本体1的左侧滑动连接，滑块Ⅱ8的左侧与本体1的右侧滑
动连接，滑块Ⅰ7和滑块Ⅱ8的顶端均设有卡扣9，并与凸台2上设置的卡槽10卡接。滑块Ⅰ7背离滑块Ⅱ8的一侧（左侧）设有锥度测量面Ⅲ11，滑块Ⅱ8背离滑块Ⅰ7的一侧（右侧）设有锥度测量面Ⅳ12，锥度测量面Ⅲ11和锥度测量面Ⅳ12均为平面并镜像对称，且两者顶端的间距为待测圆锥孔大径端的上极限尺寸D+，两者底端的间距为待测圆锥孔小径端的下极限尺寸d+，凸台2的长度大于待测圆锥孔大径端的上极限尺寸D+以使凸台2的下表面形成基准面3。
[0027]实施例3：一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，该塞规是一种没有刻度的专用量具，只能判断产品是否在规定的检验极限范围内，该量规两件为一套，包括止规和通规，且通规和止规采用一体化设计。
[0028]如图5所示，该塞规包括本体1和条型凸台2，凸台2沿本体1长度方向设置于本体1的顶部，本体1的高度H等于待测圆锥孔的深度，本体1包括左侧板13、右侧板14和连接板15，左侧板13的左侧为锥度测量面Ⅰ4、底端与连接板15的左端固定相连、顶端设有卡扣9，右侧板14的右侧为锥度测量面Ⅱ5、底端与连接板15的右端固定相连、顶端设有卡扣9，连接板15长度可调，在凸台2上沿其长度方向设有四个与卡扣9相配合的卡槽10。当卡扣9与中间两个卡槽10卡接时，锥度测量面本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，其特征在于：包括本体以及沿本体长度方向设置于本体顶部的条型凸台，所述本体的高度等于待测圆锥孔的深度，在所述本体长度方向的两侧分别设有锥度测量面Ⅰ和锥度测量面Ⅱ，锥度测量面Ⅰ和锥度测量面Ⅱ镜像对称，且两者顶端的间距为待测圆锥孔大径端的极限尺寸Ⅰ，两者底端的间距为待测圆锥孔小径端的极限尺寸Ⅱ，所述极限尺寸Ⅰ和极限尺寸Ⅱ为同一类极限尺寸；所述凸台的长度大于待测圆锥孔的极限尺寸Ⅰ以使凸台的下表面形成基准面。2.根据权利要求1所述的检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，其特征在于：所述极限尺寸Ⅰ和极限尺寸Ⅱ均为上极限尺寸。3.根据权利要求1所述的检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，其特征在于：所述极限尺寸Ⅰ和极限尺寸Ⅱ均为下极限尺寸。4.根据权利要求1所述的检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，其特征在于：所述本体上设有若干减重孔。5.根据权利要求3所述的检验圆锥孔径向尺寸的专用片型塞规，其特征在于：该塞规还包括滑块Ⅰ和滑块Ⅱ，所述滑块Ⅰ和滑块Ⅱ的一侧分别与所述本体的长度方向的一侧对...

【专利技术属性】
技术研发人员：李明杰，许璐璐，季磊，芦海涛，李嘉骏，秦朝杰，尚亚博，李丰武，
申请(专利权)人：开封平煤新型炭材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：