一种齿杆检测校正一体工作台及齿杆检测校正方法技术

本发明专利技术涉及齿杆检测校正技术领域，尤其涉及一种齿杆检测校正一体工作台及齿杆检测校正方法，包括：架体结构、检测组件和工作台组件；架体结构包括：桌板、横梁和支撑架；桌板为检测校正齿杆的工作台；横梁顶部滑动连接检测组件；支撑架为横梁和桌板的支撑结构；检测组件包括：百分表、调节臂和表座；百分表包括：表盘和测针；测针抵接齿杆，并检测齿杆的标准；调节臂两端转动连接百分表和表座；表座滑动连接横梁；工作台组件在桌板上工作，抵接所需测试的齿杆，并调节齿杆位置，配合检测组件检测。通过本发明专利技术，解决了用目测方法找出形变点的缺陷，且检测后的齿杆直线度可控、操作安全且简单，对其它内芯棒的齿杆也可以检测其直线度。对其它内芯棒的齿杆也可以检测其直线度。对其它内芯棒的齿杆也可以检测其直线度。

【技术实现步骤摘要】
一种齿杆检测校正一体工作台及齿杆检测校正方法


[0001]本专利技术涉及齿杆检测校正
，尤其涉及一种齿杆检测校正一体工作台及齿杆检测校正方法。

技术介绍

[0002]目前，光伏电池片制造、硅片承载盒多处使用齿杆元件，而作为精密元件的制造，在制造工艺上对齿杆的精度要求很高。
[0003]市场上现有的齿杆，注塑后形变量过大，为避免报废就会用目测的方式找出齿杆上形变量最大的点，然后用手按压的方式校正。这种方式校正出来的齿杆直线度不精准、操作方式粗糙、费力易发生安全事故。
[0004]公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本公开总体
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成本领域技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种齿杆检测校正一体工作台及齿杆检测校正方法，可有效解决
技术介绍
中的问题。
[0006]为了达到上述目的，本专利技术所采用的技术方案是：一种齿杆检测校正一体工作台，包括：架体结构、检测组件和工作台组件；所述架体结构包括：桌板、横梁和支撑架；所述桌板为检测校正齿杆的工作台；所述横梁顶部滑动连接所述检测组件；所述支撑架为所述横梁和桌板的支撑结构；所述检测组件包括：百分表、调节臂和表座；所述百分表包括：表盘和测针；所述测针抵接所述齿杆，并检测所述齿杆的标准；所述调节臂两端转动连接所述百分表和表座；所述表座滑动连接所述横梁；所述工作台组件在所述桌板上工作，抵接所需测试的所述齿杆，并调节所述齿杆位置，配合所述检测组件检测。r/>[0007]进一步地，所述工作台组件设有两组，每组包括：支撑台和两个轴承；两组所述工作台组件相对设置，且分别抵接所述齿杆的两端；所述支撑台端面开设有两凹槽，供所述轴承对应安装；所述轴承包括：轴身和轴帽；所述轴身安装在所述凹槽内，所述轴帽设置在所述轴身一端，两个所述轴帽共同抵接所述齿杆，并沿所述轴身轴转动。
[0008]进一步地，所述桌板开设有滑道，并配接有调节座，所述调节座设置在所述支撑台底部，且与每个所述支撑台一一对应，调节两个所述支撑台之间的距离。
[0009]进一步地，所述调节臂包括：第一连接臂和第二连接臂；所述第一连接臂一端转动连接所述表座，另一端设有连接头；所述第二连接臂一端固定有所述百分表，另一端设有滚头，与所述连接头配接，使第二连接臂相对于所述第一连接臂可自由转动。
[0010]进一步地，所述架体结构还包括调平组件，包括：调平螺母和螺栓；所述螺栓穿过所述支撑架底部一角，并通过所述调平螺母对所述支撑架调平。
[0011]进一步地，所述表座为磁性结构，所述横梁为可被所述磁性结构吸附的金属结构。
[0012]进一步地，一种齿杆检测方法，用于所述的一种齿杆检测校正一体工作台，检测方法包括：将所述齿杆放置在所述支撑台上，且两端分别抵接在所述轴帽；选用至少3个所述百分表，所述百分表的测针与所述齿杆的设定位置相抵；通过所述轴帽和轴身的转动，带动所述齿杆转动，并通过所述测针检测出凸起部位置；其中在检测过程中，通过改变所述百分表的测针所在所述齿杆的位置实现测试位置的转变。
[0013]进一步地，所述设定位置至少包括所述齿杆的两端和中部；所述测试位置的转变按照直线方向匀速进行，或者，按照设定时间间隔和位置间隔进行。
[0014]进一步地，一种齿杆校正方法，采用对所述齿杆检测方法的凸起部进行校正，校正方法包括：准备一根校正杠杆，一端抵住所述横梁的底端，另一端压在所述齿杆凸起的位置，且与所述齿杆交叉抵接，通过外力固定所述齿杆两端，使所述齿杆凸起部在校正过程中朝向所述校正杠杆，通过所述校正杠杆对所述齿杆的挤压实现形变。
[0015]进一步地，所述校正齿杆包括环形套，所述环形套凸起部带有V型槽，所述环形套套设在所述校正杠杆，所述V型槽抵在所述齿杆的齿间。
[0016]通过本专利技术的技术方案，可实现以下技术效果：有效解决了用目测方法找出形变点的缺陷，且检测后的齿杆直线度可控、操作安全且简单，对其它内芯棒的齿杆也可以检测其直线度。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为齿杆检测校正一体工作台的结构示意图；图2为检测组件的结构示意图；图3为工作台组件的结构示意图；图4为图3中D处的局部放大图；图5为工作台组件的局部放大图；图6调节臂的分解示意图；图7为图1中A处的局部放大图；
图8为图1中B处的局部放大图；图9为图1中C处的局部放大图；图10校正方法的工作示意图；图11带有环形套校正杠杆与齿杆抵接的正视图；附图标记：1、架体结构；11、桌板；111、滑道；12、横梁；13、支撑架；141、调平螺母；142、螺栓；2、检测组件；21、百分表；211、测针；22、表座；23、调节臂；231、第一连接臂；232、第二连接臂；233、滚头；234、连接头；24、锁紧装置；241、锁紧螺母；3、工作台组件；31、支撑台；311、凹槽；32、调节座；33、轴承；331、轴身；332、轴帽；4、齿杆；5、校正杠杆；6、环形套。
具体实施方式
[0019]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0020]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0021]如图1~9所示，一种齿杆检测校正一体工作台，包括：架体结构1、检测组件2和工作台组件3；架体结构1包括：桌板11、横梁12和支撑架13；桌板11为检测校正齿杆4的工作台；横梁12顶部滑动连接检测组件2；支撑架13为横梁12和桌板11的支撑结构；检测组件2包括：百分表21、调节臂23和表座22；百分表21包括：表盘和测针211；测针211抵接齿杆4，并检测齿杆4的标准；调节臂23两端转动连接百分表21和表座22；表座22滑动连接横梁12；工作台组件3在桌板11上工作，抵接所需测试的齿杆4，并调节齿杆4位置，配合检测组件2检测。
[0022]通过本专利技术的技术方案，有效解决了用目测方法找出形变点的缺陷，且检测后的齿杆4直线度可控、操作安全且简单，对其它内芯棒的齿杆4也可以检测其直线度。
[0023]在检测过程中，支撑架13对桌板11和横梁12起支撑作用，横梁12的位置高度略高于桌板11，为后续校正提供支点，检测组件2可沿着横梁12滑动，调节具体的需要测试的位置，齿杆4具体检测在工作台组件3上进行，工作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种齿杆检测校正一体工作台，其特征在于，包括：架体结构、检测组件和工作台组件；所述架体结构包括：桌板、横梁和支撑架；所述桌板为检测校正齿杆的工作台；所述横梁顶部滑动连接所述检测组件；所述支撑架为所述横梁和桌板的支撑结构；所述检测组件包括：百分表、调节臂和表座；所述百分表包括：表盘和测针；所述测针抵接所述齿杆，并检测所述齿杆的标准；所述调节臂两端转动连接所述百分表和表座；所述表座滑动连接所述横梁；所述工作台组件在所述桌板上工作，抵接所需测试的所述齿杆，并调节所述齿杆位置，配合所述检测组件检测。2.根据权利要求1所述的齿杆检测校正一体工作台，其特征在于，所述工作台组件设有两组，每组包括：支撑台和两个轴承；两组所述工作台组件相对设置，且分别抵接所述齿杆的两端；所述支撑台端面开设有两凹槽，供所述轴承对应安装；所述轴承包括：轴身和轴帽；所述轴身安装在所述凹槽内，所述轴帽设置在所述轴身一端，两个所述轴帽共同抵接所述齿杆，并沿所述轴身轴转动。3.根据权利要求2所述的齿杆检测校正一体工作台，其特征在于，所述桌板开设有滑道，并配接有调节座，所述调节座设置在所述支撑台底部，且与每个所述支撑台一一对应，调节两个所述支撑台之间的距离。4.根据权利要求1所述的齿杆检测校正一体工作台，其特征在于，所述调节臂包括：第一连接臂和第二连接臂；所述第一连接臂一端转动连接所述表座，另一端设有连接头；所述第二连接臂一端固定有所述百分表，另一端设有滚头，与所述连接头配接，使第二连接臂相对于所述第一连接臂可自由转动。5.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王建卿，
申请(专利权)人：常州皓晟精密机械有限公司，
类型：发明
国别省市：