本发明专利技术公开了一种存储装置和包括其的半导体系统。一种存储装置，包括：地址解码电路，其基于从存储控制器发送的地址来输出测试冗余地址；以及冗余地址检查电路，其确定所述测试冗余地址是否在代替故障地址，以便通过使用所述测试冗余地址来执行ECC测试操作。所述测试冗余地址来执行ECC测试操作。所述测试冗余地址来执行ECC测试操作。
【技术实现步骤摘要】
存储装置和包括其的半导体系统
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求在2021年4月19日在韩国知识产权局提交的申请号为10
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2021
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0050403的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。
[0003]各个实施例总体上涉及集成电路技术，更具体地涉及存储装置和使用其的半导体系统。
技术介绍
[0004]每一个电子装置可以包括许多电子部件。在电子装置中，计算机系统可以包括通过半导体配置的许多电子部件。在配置计算机系统的半导体装置中，诸如处理器或存储控制器的主机可以执行与存储装置的数据通信。存储装置可以通过包括多个存储单元来存储数据，该多个存储单元的每个都可以通过字线和位线来指定。存储装置可以在其中包括纠错码(ECC)电路以确保数据的可靠性。当数据被存储在存储装置中时，ECC电路可以生成奇偶校验数据，并且当数据被读取时，ECC电路可以通过使用奇偶校验数据来校正数据中的错误。为了测试存储装置的ECC电路是否正常执行纠错操作，主机可以执行ECC测试操作。可以通过有意地将错误插入要存储到存储装置的数据中并且检查ECC电路是否适当地校正错误来执行ECC测试操作。
技术实现思路
[0005]在实施例中，一种存储装置可以包括：地址解码电路，其基于从存储控制器发送的地址来输出测试冗余地址；以及冗余地址检查电路，其确定所述测试冗余地址是否在代替故障地址以便通过使用所述测试冗余地址来执行ECC测试操作。
[0006]在实施例中，一种存储装置可以包括：多个冗余区域；以及冗余地址检查电路，其通过将测试冗余地址与对应于所述冗余区域的多个冗余地址中的参考地址相比较来确定所述测试冗余地址是否可用于ECC测试操作。
[0007]在实施例中，一种半导体系统可以包括：具有ECC电路的存储装置，所述存储装置执行用于所述ECC电路的ECC测试操作；以及存储控制器，其向存储装置发送地址以用于所述ECC测试操作，其中，所述存储装置确定与所述地址相对应的测试冗余地址，并且在确定测试冗余地址不可用于所述ECC测试操作时向所述存储控制器输出警告信号。
附图说明
[0008]图1是示出根据本公开的实施例的半导体系统的结构的图。
[0009]图2A是示出根据本公开的实施例的使用冗余区域的方法的图。
[0010]图2B和图2C是示出根据本公开的实施例的冗余地址检查电路的结构的图。
[0011]图3A是示出根据本公开的实施例的使用冗余区域的方法的图。
[0012]图3B是示出根据本公开的实施例的冗余地址检查电路的结构的图。
[0013]图4是示出根据本公开的实施例的用于存储装置执行ECC测试操作的方法的流程图。
[0014]图5是示出根据本公开的实施例的用于存储控制器控制存储装置的ECC测试操作的方法的流程图。
具体实施方式
[0015]在下文中，以下将参考附图通过实施例的各种示例来描述存储装置和包括其的半导体系统。
[0016]各个实施例涉及提供一种存储装置以及包括其的半导体系统，该存储装置高效地执行ECC测试操作，而不影响存储装置的存储容量。
[0017]根据本公开的实施例的存储装置和包括其的半导体系统可以高效地执行ECC测试操作，而不影响存储装置的存储容量。
[0018]图1是示出根据本公开的实施例的半导体系统100的结构的图。
[0019]参考图1，半导体系统100可以包括存储控制器110和存储装置120。存储控制器110可以提供存储装置120进行操作所必需的各个控制信号。存储控制器110可以被内置在各种类型的主机设备中。主机设备的示例可以包括中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、多媒体处理器(MMP)、数字信号处理器以及应用处理器(AP)。在实施例中，存储控制器110与存储装置120一起可以被堆叠在一个衬底上，并且可以被封装成单个封装体。存储装置120的示例可以包括DRAM(动态随机存取存储器)、SRAM(静态随机存取存储器)、闪速存储器、FeRAM(铁电随机存取存储器)、PCRAM(相变随机存取存储器)、MRAM(磁随机存取存储器)和ReRAM(电阻随机存取存储器)。
[0020]存储控制器110可以通过一个或多个总线130耦接到存储装置120。总线130可以是用于传送信号的信号传输路径、链路或者信道。存储控制器110可以通过总线130向存储装置120传送诸如命令、地址和数据的信号，并且可以通过总线130从存储装置120接收包括数据的各种信号。
[0021]存储控制器110可以控制存储装置120，使得存储装置120执行纠错码(ECC)测试操作。ECC测试操作可以用于测试存储装置120中的ECC电路128是否正常地执行纠错操作。为了指示存储装置120执行ECC测试操作，存储控制器110可以向存储装置120发送ECC测试信号ECCT。ECC测试信号ECCT可以是用于将存储装置120中的模式寄存器(未示出)设置为预定值的信号，以使得存储装置120执行ECC测试操作。ECC测试信号ECCT可以是指示存储装置120执行ECC测试操作的预定命令。
[0022]存储控制器110可以向存储装置120发送地址AD以用于ECC测试操作。地址AD可以对应于存储装置120中的任何一个主区域MR。地址AD可以是行地址。当从存储装置120接收到指示地址AD不可用于ECC测试操作的警告信号WR时，存储控制器110可以向存储装置120发送与不可用的地址AD不同的地址AD。当从存储装置120接收到ECC测试操作的结果RECCT而非警告信号WR时，存储控制器110可以单独地存储地址AD，并且可以在稍后再次执行ECC测试操作时向存储装置120发送所存储的地址AD。也就是说，当确定地址AD可用于ECC测试操作时，存储控制器110可以单独地存储地址AD以供重新使用。
[0023]存储控制器110可以进一步向存储装置120发送数据DT以用于存储装置120的ECC测试操作。存储控制器110可以从存储装置120接收包括在ECC测试操作的结果RECCT中的纠错数据CDT。通过将纠错数据CDT与数据DT相比较，存储控制器110可以确定ECC电路128是否正常地执行纠错操作。例如，当纠错的数据CDT与数据DT相同时，存储控制器110可以确定ECC电路128正常地执行纠错操作，而当纠错的数据CDT不同于数据DT时，存储控制器110可以确定ECC电路128没有正常地执行纠错操作。
[0024]存储装置120可以基于存储控制器110进行操作。存储装置120可以包括存储单元阵列121、ECC测试控制电路122、地址解码电路123、冗余地址检查电路124、地址选择电路125、写驱动电路126、读/写电路127以及ECC电路128。
[0025]多个字线和多个位线可以被布置在存储单元阵列121中，并且多个存储单元可以耦接到多个字线和多个位线彼此相交的点。存储单元阵列121可以包括本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种存储装置，包括：地址解码电路，其基于从存储控制器发送的地址来输出测试冗余地址；以及冗余地址检查电路，其确定所述测试冗余地址是否在代替故障地址，以便通过使用所述测试冗余地址来执行ECC测试操作。2.根据权利要求1所述的存储装置，其中，所述冗余地址检查电路将所述测试冗余地址与参考地址相比较，以便确定所述测试冗余地址是否在代替故障地址，以及其中，所述参考地址是最近用于代替故障地址的冗余地址。3.根据权利要求2所述的存储装置，其中，所述冗余地址检查电路进一步将所述测试冗余地址与多个冗余地址中的最后冗余地址相比较，以便确定所述测试冗余地址是否在代替故障地址。4.根据权利要求1所述的存储装置，进一步包括地址选择电路，其中，所述地址解码电路基于所述地址而进一步将内部地址与所述测试冗余地址一起输出，其中，所述冗余地址检查电路通过确定所述测试冗余地址是否在代替故障地址来向所述地址选择电路输出冗余选择信号，以及其中，所述地址选择电路响应于所述冗余选择信号来输出所述内部地址和所述测试冗余地址中的任何一个。5.根据权利要求4所述的存储装置，其中，当确定所述测试冗余地址未在代替故障地址时，所述冗余地址检查电路使能所述冗余选择信号，以及其中，当所述冗余选择信号被使能时，所述地址选择电路输出所述内部地址和所述测试冗余地址中的所述测试冗余地址。6.根据权利要求4所述的存储装置，其中，当确定所述测试冗余地址在代替故障地址时，所述冗余地址检查电路禁止所述冗余选择信号，以及其中，当所述冗余选择信号被禁止时，所述地址选择电路输出所述内部地址和所述测试冗余地址中的所述内部地址。7.根据权利要求4所述的存储装置，其中，所述冗余地址检查电路当未在执行所述ECC测试操作时禁止所述冗余选择信号，以及其中，当所述冗余选择信号被禁止时，所述地址选择电路输出所述内部地址和所述测试冗余地址中的所述内部地址。8.根据权利要求4所述的存储装置，其中，所述地址解码电路在所述地址是故障地址时输出代替所述地址的冗余地址作为所述内部地址，并且在所述地址是正常地址时输出所述地址作为所述内部地址。9.根据权利要求4所述的存储装置，进一步包括读/写电路，所述读/写电路在所述地址选择电路输出所述测试冗余地址时将数据存储在与所述测试冗余地址相对应的冗余区域中，以执行所述ECC测试操作。10.根据权利要求1所述的存储装置，其中，...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔熙恩，郑泳韩，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：
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