存储器的校验管脚处理方法、装置、设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种存储器的校验管脚处理方法、装置、设备和存储介质。所述方法可应用于云技术和车载终端的应用场景，包括：接收目标存储器中各校验管脚基于第一数据读取指令返回的第一数据信号和采样脉冲信号；通过延时电路分别对各第一数据信号进行时移，以使时移后各第一数据信号中的目标电平值与采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数；当接收到目标存储器中各校验管脚返回的第二数据信号时，通过延时电路分别对各第二数据信号中目标数据信号进行时移，以使时移后各第二数据信号中的目标电平值对齐，得到第二时延参数；基于第一时延参数和第二时延参数，确定校验管脚的采样时延参数。采用本方法能够确保基于采样脉冲信号采样数据信号时的正确性。数据信号时的正确性。数据信号时的正确性。

【技术实现步骤摘要】
存储器的校验管脚处理方法、装置、设备和存储介质


[0001]本申请涉及计算机
，特别是涉及一种存储器的校验管脚处理方法、装置、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]高带宽存储器(High Bandwidth Memory，HBM)是一种高速高带宽的新型内存存储器，主要应用于人工智能芯片的领域。HBM的读数据信号的传输线路容易受到芯片工艺、工作电压、环境温度以及信号间串扰的影响而发生故障，导致所传输的读数据信号出现错误，因此需要对读数据信号是否发送错误进行检测。
[0003]传统的检测方法主要将读数据信号与读数据信号的奇偶校验PAR(Parity Check，奇偶校验)信号、读数据信号的采样脉冲信号一起传输，以便接收方基于采样脉冲信号采样奇偶校验信号得到校验信息，进而基于校验信息来校验读数据信号是否传输错误。
[0004]然而奇偶校验信号也会受到芯片工艺、工作电压、环境温度以及信号间串扰的影响，使得奇偶校验信号和采样脉冲信号出现偏移，接收方在基于采样脉冲信号采样奇偶校验信号时采样错误导致得到错误的校验信息，进而导致对数据信号的校验结果错误的情况。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高对奇偶校验信号采样正确率的存储器的校验管脚处理方法、装置、设备和存储介质。
[0006]第一方面，本申请提供了一种存储器的校验管脚处理方法。所述方法包括：
[0007]向目标存储器发送第一数据读取指令；
[0008]接收所述目标存储器中各校验管脚返回的第一数据信号和采样脉冲信号；
[0009]通过延时电路分别对各所述第一数据信号进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中的目标电平值与所述采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数；
[0010]当接收到所述目标存储器中各所述校验管脚返回的第二数据信号时，通过所述延时电路分别对各所述第二数据信号中目标数据信号进行时移，以使时移后各所述第二数据信号中的目标电平值对齐，得到第二时延参数；
[0011]基于所述第一时延参数和所述第二时延参数，确定所述校验管脚的采样时延参数。
[0012]第二方面，本申请还提供了一种存储器的校验管脚处理装置。所述装置包括：
[0013]指令发送模块，用于向目标存储器发送第一数据读取指令；
[0014]信号接收模块，用于接收所述目标存储器中各校验管脚返回的第一数据信号和采样脉冲信号；
[0015]信号时移模块，用于通过延时电路分别对各所述第一数据信号进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中的目标电平值与所述采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数；
当接收到所述目标存储器中各所述校验管脚返回的第二数据信号时，通过所述延时电路分别对各所述第二数据信号中目标数据信号进行时移，以使时移后各所述第二数据信号中的目标电平值对齐，得到第二时延参数；
[0016]时延确定模块，基于所述第一时延参数和所述第二时延参数，确定所述校验管脚的采样时延参数。
[0017]第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
[0018]向目标存储器发送第一数据读取指令；
[0019]接收所述目标存储器中各校验管脚返回的第一数据信号和采样脉冲信号；
[0020]通过延时电路分别对各所述第一数据信号进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中的目标电平值与所述采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数；
[0021]当接收到所述目标存储器中各所述校验管脚返回的第二数据信号时，通过所述延时电路分别对各所述第二数据信号中目标数据信号进行时移，以使时移后各所述第二数据信号中的目标电平值对齐，得到第二时延参数；
[0022]基于所述第一时延参数和所述第二时延参数，确定所述校验管脚的采样时延参数。
[0023]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0024]向目标存储器发送第一数据读取指令；
[0025]接收所述目标存储器中各校验管脚返回的第一数据信号和采样脉冲信号；
[0026]通过延时电路分别对各所述第一数据信号进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中的目标电平值与所述采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数；
[0027]当接收到所述目标存储器中各所述校验管脚返回的第二数据信号时，通过所述延时电路分别对各所述第二数据信号中目标数据信号进行时移，以使时移后各所述第二数据信号中的目标电平值对齐，得到第二时延参数；
[0028]基于所述第一时延参数和所述第二时延参数，确定所述校验管脚的采样时延参数。
[0029]第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
[0030]向目标存储器发送第一数据读取指令；
[0031]接收所述目标存储器中各校验管脚返回的第一数据信号和采样脉冲信号；
[0032]通过延时电路分别对各所述第一数据信号进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中的目标电平值与所述采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数；
[0033]当接收到所述目标存储器中各所述校验管脚返回的第二数据信号时，通过所述延时电路分别对各所述第二数据信号中目标数据信号进行时移，以使时移后各所述第二数据信号中的目标电平值对齐，得到第二时延参数；
[0034]基于所述第一时延参数和所述第二时延参数，确定所述校验管脚的采样时延参数。
[0035]上述存储器的校验管脚处理方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产
品，通过向目标存储器发送第一数据读取指令；接收目标存储器中各校验管脚返回的第一数据信号和采样脉冲信号；通过延时电路分别对各第一数据信号进行时移，以使时移后各第一数据信号中的目标电平值与采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数；当接收到目标存储器中各校验管脚返回的第二数据信号时，通过延时电路分别对各第二数据信号中目标数据信号进行时移，以使时移后各第二数据信号中的目标电平值对齐，得到第二时延参数；基于第一时延参数和第二时延参数，确定校验管脚的采样时延参数，从而在后续接收到各校验管脚返回的数据信号后，也即收到奇偶校验信号后，可以按照所确定的采样时延参数对奇偶校验信号进行时移，以使时移后的奇偶校验信号与采样脉冲信号对齐，确保了基于采样脉冲信号采样奇偶校验信号时的正确性。
附图说明
[0036]图1为一个实施例中存储器的校验管脚处理方法的应用环境图；
[0037]图2为一个实施例中读指令的示意图；
[0038]图3为一个实施例中读数据的示意图；
[0039]图4为另一个实施例中读数据的示意图；
[0040]图5另一个实施例中读数据的示意图；
[0041]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器的校验管脚处理方法，其特征在于，所述方法包括：向目标存储器发送第一数据读取指令；接收所述目标存储器中各校验管脚返回的第一数据信号和采样脉冲信号；通过延时电路分别对各所述第一数据信号进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中的目标电平值与所述采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数；当接收到所述目标存储器中各所述校验管脚返回的第二数据信号时，通过所述延时电路分别对各所述第二数据信号中目标数据信号进行时移，以使时移后各所述第二数据信号中的目标电平值对齐，得到第二时延参数；基于所述第一时延参数和所述第二时延参数，确定所述校验管脚的采样时延参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：向所述目标存储器发送操作模式配置指令，以使所述目标存储器基于所述操作模式配置指令配置操作模式为目标模式；所述向目标存储器发送第一数据读取指令，包括：向处于所述目标模式的目标存储器发送第一数据读取指令。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述操作模式配置指令配置操作模式为目标模式，包括：对所述目标存储器的读指令处理电路进行初始化；基于所述操作模式配置指令，配置所述读指令处理电路的操作模式为所述目标模式。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一数据信号是基于读数据中的目标数据位而生成的；所述读数据是所述目标存储器基于所述第一数据读取指令从所述目标存储器的寄存器中所读取出的数据。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过延时电路分别对各所述第一数据信号进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中的目标电平值与所述采样脉冲信号对齐，得到第一时延参数，包括：通过所述延时电路分别对各所述第一数据信号沿第一方向进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中目标电平值的上升沿与所述采样脉冲信号的上升沿对齐，得到第一时移参数；通过所述延时电路分别对各所述第一数据信号沿第二方向进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中目标电平值的下降沿与所述采样脉冲信号的上升沿对齐，得到第二时移参数；所述第一方向与所述第二方向是相反的方向；基于所述第一时移参数和所述第二时移参数，确定各所述校验管脚对应的第一时延参数。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：按照所述采样脉冲信号采样所述第一数据信号，得到第一采样数据；所述通过所述延时电路分别对各所述第一数据信号沿第一方向进行时移，以使时移后各所述第一数据信号中目标电平值的上升沿与所述采样脉冲信号的上升沿对齐，得到第一时移参数，包括：通过所述延时电路分别对各所述第一数据信号沿第一方向进行时移；
按照所述采样脉冲信号对沿所述第一方向时移的第一数据信号进行采样，得到第二采样数据；当各所述第二采样数据中目标数据位的值，与所述第一采样数据中目标数据位所对应的目标值相同时，确定时移后各所述第一数据信号中目标电平值的上升沿与所述采样脉冲信号的上升沿对齐；将各所述第二采样数据对应的时移长度确定为第一时移参数。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：当存在目标数据位的值与所述第一采样数据中目标数据位所对应的目标值不相同的所述第二采样数据时，返回执行所述向目标存储器发送第一数据读取指令的步骤，直至所得的时移后各所述第一数据信号中目标电平值的上升沿与所述采样脉冲信号的上升沿对齐；将各所述第二采样数据对应的时移长度确定为第一时移参数。8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：强鹏，
申请(专利权)人：腾讯科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：