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环规检测仪制造技术

技术编号:35216147 阅读:24 留言:0更新日期:2022-10-15 10:31
本发明专利技术涉及螺纹检测技术领域,公开了一种环规检测仪,包括千分表,还包括:底座,竖直开设有一对相互平行的安装孔;一对滑动轴,每一滑动轴的嵌入端嵌入安装在对应的安装孔内;浮动座,活动套装在一对滑动轴上,能够沿每一滑动轴的延伸方向上下移动;量爪,包括固定爪和活动爪,量爪具有收缩状态以及展开状态,浮动座带动活动爪沿滑动轴的延伸方向移动能够调整量爪在收缩状态和展开状态之间转换;顶板,安装在一对滑动轴的裸露端的端头,千分表可拆卸安装在顶板上,在量爪处于展开状态下,千分表的检测头与浮动座抵接。该环规检测仪,解决了环规内螺纹检测过程中因待检测内螺纹直径不同需要准备多个尺寸的塞规进行检测而导致的生产成本高的问题。的生产成本高的问题。的生产成本高的问题。

【技术实现步骤摘要】
环规检测仪


[0001]本专利技术涉及螺纹检测
,具体地,涉及一种用于检测环规内螺纹的环规检测仪。

技术介绍

[0002]内螺纹攻牙加工的过程会发生异常状况,在攻牙时产生的料屑有时会依附在螺纹攻牙器上并一同进行高速旋转,依附的料屑破坏螺纹原有的结构,最常见的瑕疵如:螺纹坡的刮痕、螺峰的崩塌与螺谷的裂痕。一般而言,螺纹坡的刮痕为凸起状瑕疵,会造成内、外螺纹无法顺利旋入和旋出;而螺峰或螺谷的崩塌或裂痕为凹陷状瑕疵,是造成内、外螺纹旋入后出现无法密合或松动的主因。由于内螺纹特殊的结构与空间位置的限制,目前螺纹塞规除传统接触式检测固有的缺点外,仅能检测出凸起状瑕疵,而无法检测凹陷状瑕疵。
[0003]目前内螺纹非接触式检测法共有四种:

光反射法,利用发射器将光束照射在螺纹上,再以接收器收集物件表面的反射光线并将信息转换成量测值,以检查孔内螺纹特征;

漏磁检测法,由磁场探测加工过的管壁内的螺纹,由磁场的变化检测出缺陷位置;

涡电流检测法,以涡流电磁感应比对孔壁电场的几何形状,侦测螺纹缺陷;

工业用电脑横向断层摄影法,通过断层扫描技术,取得螺纹物件在不同角度上的断层扫描图,以测量螺纹的特征。上述方法中,光反射法每次仅能针对其小部分的螺纹进行检查,且容易受到物件表面的液体或油渍的影响,降低侦测能力;漏磁检测法与涡电流检测法仅能透过磁场或涡电流的变化,粗略地判别缺陷的存在与否、或缺陷的大致分布位置,仅适用于由金属材质铸造的待测物件;断层摄影法存在设备费用高昂的经济性问题,不符合经济效益。而塞规检测内螺纹需要根据待检测零件的内螺纹直径准备相应尺寸的塞规,在螺距相同、导程相同以及牙数相同的情况下内螺纹直径尺寸众多,为了检测不同直径的环规内螺纹需要准备多个塞规,这样增加了塞规的存储量提高了生产成本,同时也不方便使用。
[0004]因此,亟需一种内螺纹检测装置以解决上述至少一种问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施方式的目的是提供一种环规检测仪以解决目前环规内螺纹检测过程中因同一螺距、导程和牙数的待检测内螺纹直径不同需要准备多个尺寸的塞规进行检测而造成的生产成本提高的问题。
[0006]为了实现上述目的,本专利技术提供一种环规检测仪,包括千分表,所述环规检测仪还包括:
[0007]底座,竖直开设有一对相互平行的安装孔;
[0008]一对滑动轴,每一滑动轴具有嵌入端和裸露端,每一滑动轴的嵌入端嵌入安装在对应的安装孔内;
[0009]浮动座,活动套装在所述一对滑动轴上,能够沿每一滑动轴的延伸方向上下移动;
[0010]量爪,用于检测环规内螺纹,所述量爪包括固定爪和活动爪,所述固定爪设置在所
述底座上,所述活动爪设置在所述浮动座上,所述量爪具有所述活动爪与所述固定爪贴合的收缩状态以及所述活动爪远离所述固定爪给定距离的展开状态,所述浮动座带动所述活动爪沿所述滑动轴的延伸方向移动能够调整所述量爪在收缩状态和展开状态之间转换;
[0011]顶板,安装在所述一对滑动轴的裸露端的端头,所述千分表可拆卸安装在所述顶板上,在所述量爪处于展开状态下,所述千分表的检测头与所述浮动座抵接。
[0012]具体地,所述环规检测仪还包括:一对复位弹簧,每一所述滑动轴上套装一个复位弹簧且设置在所述底座与所述浮动座之间。
[0013]具体地,所述滑动轴为滚珠花键轴;
[0014]所述环规检测仪还包括:嵌入安装在每一安装孔内且套装在对应滑动轴上的花键轴外筒,所述花键轴外筒与所述浮动座固定。
[0015]具体地,所述环规检测仪还包括:调整钉,具有操控端和螺接端,所述调整钉的螺接端螺接于所述顶板上,在所述量爪处于展开状态下,所述螺接端的端面与所述浮动座抵接。
[0016]具体地,所述环规检测仪还包括:固定手柄和活动手柄,所述固定手柄固定在所述底座上,所述活动手柄固定在所述浮动座上。
[0017]具体地,所述底座上开设有第一通槽,所述浮动座上开设有第二通槽,所述第一通槽和所述第二通槽的延伸方向均与滑动轴的延伸方向一致且所述第一通槽和所述第二通槽连通,所述固定爪固定安装在所述第一通槽内,所述活动爪固定安装在所述第二通槽内。
[0018]具体地,所述第二通槽的槽底设置有定位凸块,所述活动爪朝向所述第二通槽的槽底的一面上开设有与所述定位凸块相匹配的定位凹槽,所述活动爪固定安装在所述第二通槽内的情况下,所述定位凸块嵌入在所述定位凹槽内。
[0019]具体地,所述顶板包括:平板部和凸台部,所述平板部安装在所述一对滑动轴的裸露端的端头,所述凸台部凸起设置在所述平板部的上表面,在所述顶板上开设有竖直贯穿所述凸台部和所述平板部的安装通孔,所述千分表的固定测杆嵌入安装在所述安装通孔内。
[0020]具体地,所述环规检测仪还包括:紧固钉,螺接于所述凸台部,所述紧固钉导入端的端头伸入到所述安装通孔内以顶紧所述千分表的固定测杆。
[0021]具体地,所述环规检测仪还包括:衬套,沿所述衬套的轴向开设有调整缝,嵌入设置在所述安装通孔内以阻隔所述千分表的固定测杆与所述安装通孔的孔壁接触。
[0022]本专利技术提供的环规检测仪,在底座上竖直安装一对滑动轴,在滑动轴上活动套装一个浮动座,将检测环规内螺纹的量爪的固定爪和活动爪分别设置在底座和浮动座上,通过浮动座带动活动爪在滑动轴的延伸方向的移动,从而调整活动爪和固定爪之间的距离,方便量爪检测不同直径的环规内螺纹,减少了塞规的储备量,降低了生产成本,解决了环规内螺纹检测过程中因同一螺距、导程和牙数的待检测内螺纹直径不同需要准备多个尺寸的塞规进行检测而造成的生产成本提高的问题。
[0023]本专利技术实施方式的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
[0024]附图是用来提供对本专利技术实施方式的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与
下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术实施方式,但并不构成对本专利技术实施方式的限制。在附图中:
[0025]图1是本专利技术提供的一种环规检测仪的结构示意图;
[0026]图2是图1不同角度的结构示意图;
[0027]图3是图1另一角度的结构示意图;
[0028]图4是本专利技术提供的一种环规检测仪一侧无防护侧板的主视图;
[0029]图5是图4提供的一种环规检测仪无千分表的俯视图。
[0030]附图标记说明
[0031]1‑
千分表;2

底座;3

滑动轴;4

浮动座;5

量爪;6

顶板;7

复位弹簧;8

调整钉;9

固定手柄;10

活动手柄;11

衬套;12

紧固钉;13

防护侧板本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种环规检测仪,包括千分表(1),其特征在于,所述环规检测仪还包括:底座(2),竖直开设有一对相互平行的安装孔;一对滑动轴(3),每一滑动轴(3)具有嵌入端和裸露端,每一滑动轴(3)的嵌入端嵌入安装在对应的安装孔内;浮动座(4),活动套装在所述一对滑动轴(3)上,能够沿每一滑动轴(3)的延伸方向上下移动;量爪(5),用于检测环规内螺纹,所述量爪(5)包括固定爪(51)和活动爪(52),所述固定爪(51)设置在所述底座(2)上,所述活动爪(52)设置在所述浮动座(4)上,所述量爪(5)具有所述活动爪(52)与所述固定爪(51)贴合的收缩状态以及所述活动爪(52)远离所述固定爪(51)给定距离的展开状态,所述浮动座(4)带动所述活动爪(52)沿所述滑动轴(3)的延伸方向移动能够调整所述量爪(5)在收缩状态和展开状态之间转换;顶板(6),安装在所述一对滑动轴(3)的裸露端的端头,所述千分表(1)可拆卸安装在所述顶板(6)上,在所述量爪(5)处于展开状态下,所述千分表(1)的检测头与所述浮动座(4)抵接。2.根据权利要求1所述的环规检测仪,其特征在于,所述环规检测仪还包括:一对复位弹簧(7),每一所述滑动轴(3)上套装一个复位弹簧(7)且设置在所述底座(2)与所述浮动座(4)之间。3.根据权利要求1所述的环规检测仪,其特征在于,所述滑动轴(3)为滚珠花键轴;所述环规检测仪还包括:嵌入安装在每一安装孔内且套装在对应滑动轴(3)上的花键轴外筒(31),所述花键轴外筒(31)与所述浮动座(4)固定。4.根据权利要求1所述的环规检测仪,其特征在于,所述环规检测仪还包括:调整钉(8),具有操控端和螺接端,所述调整钉(8)的螺接端螺接于所述顶板(6)上,在所述量爪(5)处于展开状态下,所述螺接端的端面与所述浮动座(4)抵接。5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:房妤张玉辉
申请(专利权)人:张玉辉
类型:发明
国别省市:

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