集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备技术方案

本发明专利技术公开了一种集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备。点对齐方法包括：确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，对象图形为多边形；确定对象图形上的待对齐顶点以及待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，待对齐顶点的数量少于对象图形的顶点总数；计算预设顶点与对齐点的偏移向量，并按照偏移向量移动每一待对齐顶点，得到目标图形。通过上述方式，本发明专利技术能够实现图形部分顶点的自动对齐，极大提高版图设计效率。极大提高版图设计效率。极大提高版图设计效率。

【技术实现步骤摘要】
集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及集成电路设计
，特别是涉及一种集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备。

技术介绍

[0002]在集成电路版图设计制图中，设计人员需要构建出很多基础的多边形图形,再对这些图形进行拼接、合并、对齐等操作，以构造出元器件图形。自动对齐功能是现有的版图设计软件中一个常见的功能，设计人员通常会使用自动对齐功能来实现图形的对齐操作。自动对齐功能是指设计人员选中一个图形的顶点以及该图形需要对齐的对齐点，该图形整体移动，直至所选顶点与对齐点重合。
[0003]在实现本专利技术的过程中，专利技术人发现现有技术存在以下问题：现有的图形自动对齐方案仅能够实现图形的整体移动，但在很多设计中，常常只需要将图形的部分顶点对齐，图形的其他顶点位置保持不变。所以开发人员只能手动拖动图形的顶点到其对应的对齐点，或者手动修改相应顶点的坐标，该过程枯燥繁琐、费时费力，容易出错，导致版图设计效率低下。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种集成电路版图图形的点对齐方法、系统、介质及电子设备，以解决现有技术无法实现图形部分顶点的自动对齐的问题，能够实现图形部分顶点的自动对齐，极大提高版图设计效率。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种集成电路版图图形的点对齐方法，包括：确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，所述对象图形为多边形；确定所述对象图形上的待对齐顶点以及所述待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，所述待对齐顶点的数量少于所述对象图形的顶点总数；计算所述预设顶点与所述对齐点的偏移向量，并按照所述偏移向量移动每一所述待对齐顶点，得到目标图形。
[0006]优选的，所述点对齐方法还包括：根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，所述目标图形的所有顶点均位于所述变形图形上。
[0007]优选的，所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，所述确定集成电路版图中待对齐的对象图形的步骤之前，还包括：确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形；所述点对齐方法还包括；以所述变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。
[0008]优选的，所述构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形的步骤包括：计算所述对象图形上每一边线的初始斜率；
在所述目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与所述对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线；将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形。
[0009]优选的，所述待对齐顶点为多个时，所述预设顶点为第一个待对齐顶点。
[0010]为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种集成电路版图图形的点对齐系统，包括：图形确定模块，用于确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，所述对象图形为多边形；位置确定模块，用于确定所述对象图形上的待对齐顶点以及所述待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，所述待对齐顶点的数量少于所述对象图形的顶点总数；图形移动模块，用于计算所述预设顶点与所述对齐点的偏移向量，并按照所述偏移向量移动每一所述待对齐顶点，得到目标图形。
[0011]优选的，所述点对齐系统还包括：图形构建模块，用于根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，所述目标图形的所有顶点均位于所述变形图形上。
[0012]优选的，所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，所述图形确定模块还用于在确定集成电路版图中待对齐的对象图形之前，确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形；所述点对齐系统还包括：图形生成模块，用于以所述变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。
[0013]优选的，所述图形构建模块包括：斜率计算单元，用于计算所述对象图形上每一边线的初始斜率；边线构建单元，用于在所述目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与所述对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线；图形确定单元，用于将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形。
[0014]优选的，所述待对齐顶点为多个时，所述预设顶点为第一个待对齐顶点。
[0015]为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被设置为运行时执行前述任一项所述的集成电路版图图形的点对齐方法。
[0016]为解决上述技术问题，本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行前述任一项所述的集成电路版图图形的点对齐方法。
[0017]区别于现有技术的情况，本专利技术提供的集成电路版图图形的点对齐方法通过确定集成电路版图中待对齐的对象图形，确定对象图形上的待对齐顶点以及待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，最后计算预设顶点与对齐点的偏移向量，并按照偏移向量移动每一待对齐顶点，得到目标图形，其中，对象图形为多边形，由于待对齐顶点的数量少于对象图形的顶点总数，在图形对齐过程中，仅对象图形的待对齐顶点移动，而不是对象图形的所有顶点移动，从而能够实现图形部分顶点的自动对齐，极大提高版图设计效率，可以大大降低设
计人员的劳动强度和时间成本。
[0018]本专利技术提供的集成电路版图图形的点对齐系统、存储介质及电子设备，与集成电路版图图形的点对齐方法属于同一专利技术构思，因此具有相同的有益效果，在此不再赘述。
附图说明
[0019]图1为本专利技术第一实施例提供的集成电路版图图形的点对齐方法的流程示意图。
[0020]图2a为三角图形对齐前的示意图。
[0021]图2b为三角图形对齐后的示意图。
[0022]图2c为在对齐后的三角图形的每个顶点构建边线后的示意图。
[0023]图2d为在图2c上确定的变形图形的示意图。
[0024]图3a为矩形图形对齐前的示意图。
[0025]图3b为矩形图形对齐后的示意图。
[0026]图3c为在对齐后的矩形图形的每个顶点构建边线后的示意图。
[0027]图3d为在图3c上确定的变形图形的示意图。
[0028]图4a为六边图形对齐前的示意图。
[0029]图4b为六边图形对齐后的示意图。
[0030]图4c为在对齐后的六边图形的每个顶点构建边线后的示意图。。
[0031]图4d为在图4c上确定的变形图形的示意图。
[0032]图5为图1所示的流程中步骤S4的具体流程示意图。
[0033]图6为本专利技术第二实施例提供的集成电路版图图形的点对齐方法的流程示意图。
[0034]图7a为椭圆图形的外切矩形对齐前的示意图。
[0035]图7b为外切矩形对齐后的示意图。
[0036]图7c为在对齐后的外切矩形的每个顶点构建边线后的示意图。
[0037]图7d为在图7c上确定的变形图形的示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路版图图形的点对齐方法，其特征在于，包括：确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，所述对象图形为多边形；确定所述对象图形上的待对齐顶点以及所述待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，其中，所述待对齐顶点的数量少于所述对象图形的顶点总数；计算所述预设顶点与所述对齐点的偏移向量，并按照所述偏移向量移动每一所述待对齐顶点，得到目标图形。2.根据权利要求1所述的点对齐方法，其特征在于，所述点对齐方法还包括：根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形，其中，所述目标图形的所有顶点均位于所述变形图形上。3.根据权利要求2所述的点对齐方法，其特征在于，所述对象图形为待对齐的椭圆图形的外切矩形，所述确定集成电路版图中待对齐的对象图形的步骤之前，还包括：确定集成电路版图中待对齐的椭圆图形；所述点对齐方法还包括；以所述变形图形相邻的两条边为长轴和短轴、所述变形图形的中心点为圆心重新生成内切椭圆图形。4.根据权利要求2或3所述的点对齐方法，其特征在于，所述根据所述目标图形构建与所述对象图形的每一边线斜率相同的变形图形的步骤包括：计算所述对象图形每一边线的初始斜率；在所述目标图形的每一顶点构建两条经过顶点且斜率与所述对象图形对应的顶点所在的两条边线的初始斜率相同的边线；将每一构建的边线相交后所构成的最大图形确定为变形图形。5.根据权利要求1所述的点对齐方法，其特征在于，所述待对齐顶点为多个时，所述预设顶点为第一个待对齐顶点。6.一种集成电路版图图形的点对齐系统，其特征在于，包括：图形确定模块，用于确定集成电路版图中待对齐的对象图形，其中，所述对象图形为多边形；位置确定模块，用于确定所述对象图形上的待对齐顶点以及所述待对齐顶点中预设顶点对应的对齐点，...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵勇杰，李舒啸，代方，熊秋锋，
申请(专利权)人：本源科仪成都科技有限公司，
类型：发明
国别省市：