AOI检测设备制造技术

技术编号:35134149 阅读:20 留言:0更新日期:2022-10-05 10:08
本发明专利技术公开一种AOI检测设备,AOI检测设备包括工作台、传送机构、至少两个输送机构、推料机构以及检测机构,传送机构设于工作台,传送机构设有供IC塑封体放置的检测工位、上料工位以及下料工位,至少两个输送机构均设于工作台,其中的一输送机构位于传送机构设有上料工位的一侧,另一输送机构位于传送机构设有下料工位的一侧,推料机构设于工作台,并位于传送机构设有上料工位的一侧,检测机构可移动地设于工作台,并位于传送机构的上方,检测机构朝向检测工位,以对IC塑封体进行检测,如此,可通过AOI检测设备的各个机构配合取代人工输送和传送IC塑封体的工作过程,从而可以通过AOI检测设备提高检测车间的工作效率。测设备提高检测车间的工作效率。测设备提高检测车间的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
AOI检测设备


[0001]本专利技术涉及AOI检测
,特别涉及一种AOI检测设备。

技术介绍

[0002]IC(Integrated Circuit,集成电路)塑封体打标后,会存在有字符,因此需要对字符进行检测。
[0003]而目前对于IC塑封体上的字符进行检测时,大多数过程是通过人工来实现,即,人工将IC塑封体进行上下料的输送和人工将IC塑封体传送至检测工位进行检测等过程,这种人工输送和传送的方式效率较低,影响检测车间的工作效率。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是提供一种AOI检测设备,旨在通过设置传送机构、两输送机构、推料机构以及检测机构,实现将IC塑封体自动化检测,解决了现有的通过人工将IC塑封体进行输送和运输进行检测,导致检测车间效率较低的技术问题。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提出的AOI检测设备,所述AOI检测设备包括工作台、传送机构、至少两个输送机构、推料机构以及检测机构,所述传送机构设于所述工作台,所述传送机构设有供所述IC塑封体放置的检测工位、上料工位以及下料工位,沿所述传送机构的传送方向上,所述上料工位和所述下料工位分别位于所述检测工位的两侧,至少两个所述输送机构均设于所述工作台,其中的一所述输送机构位于所述传送机构设有所述上料工位的一侧,另一所述输送机构位于所述传送机构设有所述下料工位的一侧,所述推料机构设于所述工作台,并位于所述传送机构设有上料工位的一侧,用于推动所述IC塑封体由所述输送机构移动至所述上料工位处,所述检测机构可移动地设于所述工作台,并位于所述传送机构的上方,所述检测机构朝向所述检测工位,以对所述IC塑封体进行检测。
[0006]可选地,所述输送机构包括第一输送组件、第二输送组件以及夹爪组件,所述输送机构具有高度方向和长度方向,所述第一输送组件与所述第二输送组件沿所述输送机构的高度方向呈间隔排布,所述IC塑封体装设于料盒,所述夹爪组件沿所述输送机构的高度方向和长度方向可移动设置,用以夹持所述料盒从所述第一输送组件输送至所述第二输送组件。
[0007]可选地,所述夹爪组件包括固定板、夹持板以及压板,所述固定板具有长度方向,所述夹持板固定安装于所述固定板,所述压板可移动地设于所述固定板,并沿所述固定板的长度方向设于所述夹持板的一侧,所述压板与所述夹持板围合形成有供夹持所述料盒的夹持空间,所述压板朝向所述夹持空间的一侧设有转动结构,所述转动结构具有圆弧面,所述压板朝向所述夹持空间的方向移动时,所述圆弧面抵接于所述料盒,以使所述转动结构沿朝向所述夹持空间的方向进行转动,以推动所述料盒朝所述夹持空间内移动。
[0008]可选地,所述转动结构包括转动板和转动轴,所述转动板朝向所述夹持空间的表面为所述圆弧面,所述转动板具有宽度方向,并沿其宽度方向上相对的两侧均设有第一转
动孔,所述转动轴沿其长度方向上的两侧转动穿设于所述第一转动孔,并沿其长度方向上的中部转动穿设于所述压板。
[0009]可选地,所述传送机构包括传送机架和推块组件,所述传送机架设有所述检测工位、所述上料工位以及所述下料工位,所述推块组件沿所述传送机架的传送方向可移动地设于所述传送机架,以推动所述IC塑封体从所述上料工位移动至所述检测工位供所述检测机构进行检测,并推动所述IC塑封体从所述检测工位移动至所述下料工位进行下料。
[0010]可选地,定义所述传送机架具有高度方向,所述推块组件沿所述传送机架的高度方向可移动地设于所述传送机架。
[0011]可选地,所述推块组件包括推块和第一驱动件,所述推块用于推动所述IC塑封体沿所述传送机架的传送方向进行移动,所述第一驱动件安装于所述传送机架,并驱动连接所述推块,以驱动所述推块沿所述传送机架的高度方向进行移动。
[0012]可选地,所述推块组件设有两个,两所述推块组件分别设于所述传送机架的传送方向上相对的两侧;
[0013]和/或,所述传送机构还包括过渡组件,所述过渡组件设于所述传送机架设有所述上料工位的一侧,用于将所述IC塑封体传送至所述上料工位处。
[0014]可选地,所述传送机构设有至少两保压组件,定义所述传送机构具有宽度方向,至少两所述保压组件安装于所述传送机构,并设于所述传送机构沿其宽度方向上相对的两侧,用于将所述检测工位上的所述IC塑封体进行保压;
[0015]和/或,所述传送机构设有真空吸盘,所述真空吸盘安装于所述传送机构,并设有所述检测工位,所述真空吸盘用于吸附固定所述检测工位上的所述IC塑封体。
[0016]可选地,所述检测机构包括两CCD检测组件,两所述CCD检测组件均设于所述工作台,并沿所述传送机构的传送方向间隔排布,两所述CCD检测组件均朝向所述检测工位;
[0017]和/或,所述AOI检测设备还包括风刀机构,所述风刀机构设于所述工作台,并位于所述传送机构的上方,所述风刀机构用于去除所述IC塑封体的灰尘;
[0018]和/或,所述AOI检测设备还包括离子风机机构,所述离子风机机构设于所述工作台,并位于所述传送机构的上方,所述离子风机机构用于消除所述IC塑封体的静电。
[0019]本专利技术技术方案通过设置有传送机构、两输送机构、推料机构以及检测机构,即,装设在料盒的IC塑封体由输送机构输送至传送机构的上料工位,并由推料机构将IC塑封体从料盒中推出,且IC塑封体通过传送机构移动至检测工位由检测机构进行检测,检测完毕后移动至下料工位,由另一输送机构进行输送下料,如此,可通过AOI检测设备的各个机构配合取代人工输送和传送IC塑封体的工作过程,从而可以通过AOI检测设备提高检测车间的工作效率。
附图说明
[0020]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0021]图1为本专利技术AOI检测设备一实施例的结构示意图;
[0022]图2为本专利技术AOI检测设备另一实施例的结构示意图;
[0023]图3为图1所示传送机构的结构示意图;
[0024]图4为图3所示传送机架、推块组件以及过渡组件的结构示意图;
[0025]图5为图3所示保压组件、过渡组件以及推块组件的结构示意图;
[0026]图6为图1所示输送机构的结构示意图;
[0027]图7为图6所示夹爪组件的结构示意图;
[0028]图8为图6所示夹爪组件另一视角的结构示意图。
[0029]附图标号说明:
[0030]标号名称标号名称100AOI检测设备355从动轮组10工作台357皮带20风刀机构40离子风机机构30传送机构50输送机构31传送机架51夹爪组件31a上料工位511固定板31b检测工位513夹持板31c下料工位515压板311保压组件517转动结构315真空吸本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种AOI检测设备,用于对IC塑封体进行检测,其特征在于,所述AOI检测设备包括:工作台;传送机构,所述传送机构设于所述工作台,所述传送机构设有供所述IC塑封体放置的检测工位、上料工位以及下料工位,沿所述传送机构的传送方向上,所述上料工位和所述下料工位分别位于所述检测工位的两侧;至少两个输送机构,至少两个所述输送机构均设于所述工作台,其中的一所述输送机构位于所述传送机构设有所述上料工位的一侧,另一所述输送机构位于所述传送机构设有所述下料工位的一侧;推料机构,所述推料机构设于所述工作台,并位于所述传送机构设有上料工位的一侧,用于推动所述IC塑封体由所述输送机构移动至所述上料工位处;以及检测机构,所述检测机构可移动地设于所述工作台,并位于所述传送机构的上方,所述检测机构朝向所述检测工位,以对所述IC塑封体进行检测。2.如权利要求1所述的AOI检测设备,其特征在于,所述输送机构包括第一输送组件、第二输送组件以及夹爪组件,所述输送机构具有高度方向和长度方向,所述第一输送组件与所述第二输送组件沿所述输送机构的高度方向呈间隔排布,所述IC塑封体装设于料盒;所述夹爪组件沿所述输送机构的高度方向和长度方向可移动设置,用以夹持所述料盒从所述第一输送组件输送至所述第二输送组件。3.如权利要求2所述的AOI检测设备,其特征在于,所述夹爪组件包括:固定板,所述固定板具有长度方向;夹持板,所述夹持板固定安装于所述固定板;以及压板,所述压板可移动地设于所述固定板,并沿所述固定板的长度方向设于所述夹持板的一侧,所述压板与所述夹持板围合形成有供夹持所述料盒的夹持空间;所述压板朝向所述夹持空间的一侧设有转动结构,所述转动结构具有圆弧面,所述压板朝向所述夹持空间的方向移动时,所述圆弧面抵接于所述料盒,以使所述转动结构沿朝向所述夹持空间的方向进行转动,以推动所述料盒朝所述夹持空间内移动。4.如权利要求3所述的AOI检测设备,其特征在于,所述转动结构包括:转动板,所述转动板朝向所述夹持空间的表面为所述圆弧面,所述转动板具有宽度方向,并沿其宽度方向上相对的两侧均设有第一转动孔;和转动轴,所述转动轴沿其长度方向上的两侧转动穿设于所述第一转动孔,并沿其长度方向上的中部转动穿设于所述压板。5.如权利要求1至4...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄昌春李文强杨建新朱霆盛辉周学慧张凯
申请(专利权)人:深圳泰德半导体装备有限公司
类型:发明
国别省市:

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