样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法。样品分离用芯片包括第一基板、第一电极、第一介电层、第二基板、第二电极、第二介电层与通道层。第一电极设置在第一基板上。第一介电层设置在第一电极上，且包括第一开口。第一开口暴露出第一电极的一部分。第二电极设置在第二基板上。第二介电层设置在第二电极上，且包括第二开口。第二开口暴露出第二电极的一部分。第一开口所暴露出的第一电极的面积小于第二开口所暴露出的第二电极的面积。通道层夹设于第一介电层与第二介电层之间，且包括贯孔。贯孔连通于第一开口与第二开口之间。上述样品分离用芯片有助于缩短样品检测流程与检测时间。测流程与检测时间。测流程与检测时间。

【技术实现步骤摘要】
样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法


[0001]本专利技术涉及一种芯片、检测装置与检测方法，尤其涉及一种样品分离用芯片、样品检测装置及利用表面增强拉曼光谱(surface
‑
enhanced Raman spectrum)的样品检测方法。

技术介绍

[0002]目前在进行疾病的病源体分析时，由于检测流程复杂且检测时间过长，因此常会延误最佳治疗时间。以细菌分离为例，传统上是用离心、免疫抗体标靶、透析等方式做分离，但这些方法需要长时间等待及繁复技术来达到分离效果。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种样品分离用芯片、样品检测装置及利用表面增强拉曼光谱的样品检测方法，其有助于缩短样品检测流程与检测时间。
[0004]本专利技术提出一种样品分离用芯片，包括第一基板、第一电极、第一介电层、第二基板、第二电极、第二介电层与通道层。第一电极设置在第一基板上。第一介电层设置在第一电极上，且包括第一开口。第一开口暴露出第一电极的一部分。第二电极设置在第二基板上。第二介电层设置在第二电极上，且包括第二开口。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种样品分离用芯片，其特征在于，包括：第一基板；第一电极，设置在所述第一基板上；第一介电层，设置在所述第一电极上，且包括第一开口，其中所述第一开口暴露出所述第一电极的一部分；第二基板；第二电极，设置在所述第二基板上；第二介电层，设置在所述第二电极上，且包括第二开口，其中所述第二开口暴露出所述第二电极的一部分，且所述第一开口所暴露出的所述第一电极的面积小于所述第二开口所暴露出的所述第二电极的面积；以及通道层，夹设于所述第一介电层与所述第二介电层之间，且包括贯孔，其中所述贯孔连通于所述第一开口与所述第二开口之间。2.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第一开口、所述第二开口与所述贯孔彼此对准。3.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述贯孔的上视面积大于所述第一开口的上视面积。4.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述贯孔的上视面积大于等于所述第二开口的上视面积。5.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第一开口的数量为一个。6.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第一开口的数量为多个。7.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第二开口的数量为一个。8.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第二开口的数量为多个。9.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第一开口的上视形状、所述第二开口的上视形状与所述贯孔的上视形状分别包括圆形、多边形、不规则形或其组合。10.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第一介电层还包括第三开口，其中所述第三开口暴露出所述第一电极的另一部分。11.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第二介电层还包括第四开口，其中所述第四开口暴露出所述第二电极的另一部分。12.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述第一电极的材料与所述第二电极的材料分别包括铟锡氧化物、金属、导电型的碳材或其组合。13.根据权利要求1所述的样品分离用芯片，其特征在于，所述通道层的厚度范围为20微米至...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈冠宏，曾繁根，
申请(专利权)人：曾繁根，
类型：发明
国别省市：