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本发明提供一种样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法。样品分离用芯片包括第一基板、第一电极、第一介电层、第二基板、第二电极、第二介电层与通道层。第一电极设置在第一基板上。第一介电层设置在第一电极上，且包括第一开口。第一开口暴露出第一电极...
该专利属于曾繁根所有，仅供学习研究参考，未经过曾繁根授权不得商用。

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