一种应用于射频测试机的辅助测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种应用于射频测试机的辅助测试设备，包括定向耦合器、环形器、高通滤波器、混频器和低通滤波器；定向耦合器的输入端用于与射频芯片的天线端口电连接，定向耦合器的输出端与环形器的2端口电连接；定向耦合器的耦合端与高通滤波器的输入端电连接，高通滤波器的输出端与混频器的输入端电连接，混频器的输出端与低通滤波器的输入端电连接，混频器的外接信号端与外接信号源电连接。通过定向耦合器和环形器将射频芯片的ANT端口发射端指标和接收端指标分成两个端口测试，且通过定向耦合器、高通滤波器、混频器和低通滤波器的组合，利用外接信号源将主频中的谐波进行降频和滤波处理。和滤波处理。和滤波处理。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于射频测试机的辅助测试设备


[0001]本技术属于芯片检测
，更具体地，涉及一种应用于射频测试机的辅助测试设备。

技术介绍

[0002]现阶段，射频收发芯片设计已经较为成熟和产业化，国内外一些半导体公司所提供的射频解决方案已经在无线设备领域应用非常广泛，而芯片的量产测试是保证产品质量的必不可少的过程。
[0003]目前，射频前端芯片的量产测试均采用ATE（Automatic Test Equipment，自动化测试设备）进行测试，对于一些同时具有收发功能的射频芯片模组，例如WIFI射频前端模组芯片（后称芯片），如图1所示，TX至ANT通路为芯片的发射链路，ANT至RX通路为芯片的接收链路，因此，ANT（天线）端需要进行发射端性能测试和接收端性能测试。测试芯片的发射端性能时，ANT端的输出功率可达到30 dBm以上；测试芯片的接收端性能时，ANT端的输入功率最小可达到
‑
20 dBm以下，此时测试机的功率收发范围将达到50 dBm以上。若直接连接ATE的ANT端进行测试，测试机将无法同时满足发射端和接收端的功率指标要求。
[0004]随着互联网的使用率继续增长，通信技术对无线频谱的依赖性越来越高。WiFi 6E频段的开放，使得无线频谱最高已经达到了7.125 GHz。芯片的二次谐波和三次谐波测试作为量产测试中必不可少的测试指标，在测试应用于7.125 GHz频段产品的三次谐波时，需要ATE的测量频率指标达到21.375 GHz以上，这将对测试机本身的频率指标要求非常高。同时，部分产品的主频信号在30dBm以上，谐波信号可能为
‑
50dBm以下，此时信号的主频功率与谐波功率相差较大，这将对测试机的测量动态范围要求非常高，其中信号的测量动态范围指同一测量时刻可变化信号功率最大值与最小值的比值。
[0005]除高端应用领域的定制化射频测试机外，现有射频测试机的频谱指标通常为10 MHz~8 GHz，功率指标通常为
‑
60~10 dBm，测量动态范围为70 dBm，无法满足上述测试需求指标。
[0006]因此，期待专利技术一种应用于射频测试机的辅助测试设备，能够有效降低射频测试机的谐波测试频率指标要求和测量动态范围要求。

技术实现思路

[0007]本技术的目的是提供一种应用于射频测试机的辅助测试设备，以降低射频测试机的谐波测试频率指标要求和测量动态范围要求。
[0008]为了实现上述目的，本技术提供一种应用于射频测试机的辅助测试设备，包括定向耦合器、环形器、高通滤波器、混频器和低通滤波器；
[0009]所述定向耦合器的输入端用于与射频芯片的天线端口电连接，所述定向耦合器的输出端与所述环形器的2端口电连接，所述环形器的3端口用于与射频测试机的第一测试端口电连接以对所述射频芯片的天线端口的发射性能进行测试，所述环形器的1端口用于与
所述射频测试机的第二测试端口电连接以对所述射频芯片的天线端口的接收性能进行测试；
[0010]所述定向耦合器的耦合端与所述高通滤波器的输入端电连接，所述高通滤波器的输出端与所述混频器的输入端电连接，所述混频器的输出端与所述低通滤波器的输入端电连接，所述混频器的外接信号端与外接信号源电连接，所述低通滤波器的输出端用于与所述射频测试机的第三测试端口电连接以对所述射频芯片的发射性能的谐波信号进行测试。
[0011]所述定向耦合器的输入端用于与射频芯片的天线端口电连接，所述定向耦合器的输出端与所述环形器的2端口电连接，所述环形器的3端口用于与射频测试机的第一测试端口电连接以对所述射频芯片的天线端口的发射性能进行测试，所述环形器的1端口用于与所述射频测试机的第二测试端口电连接以对所述射频芯片的天线端口的接收性能进行测试；
[0012]所述定向耦合器的耦合端与所述高通滤波器的输入端电连接，所述高通滤波器的输出端与所述混频器的输入端电连接，所述混频器的输出端与所述低通滤波器的输入端电连接，所述混频器的外接信号端与外接信号源电连接，所述低通滤波器的输出端用于与所述射频测试机的第三测试端口电连接以对所述射频芯片的发射性能的谐波信号进行测试。
[0013]可选地，还包括：ANT端双母头、SG
—
LO端双母头、MSR端双母头、SRC端双母头和HARM端双母头；
[0014]所述ANT端双母头的一个母头与所述定向耦合器的输入端电连接，另一个母头用于与所述射频芯片的天线端口电连接；
[0015]所述SG
—
LO端双母头的一个母头与所述混频器的外接信号端电连接，另一个母头用于与所述外接信号源电连接；
[0016]所述MSR端双母头的一个母头与所述环形器的3端口电连接，另一个母头用于与所述射频测试机的第一测试端口电连接；
[0017]所述SRC端双母头的一个母头与所述环形器的1端口电连接，另一个母头用于与所述射频测试机的第二测试端口电连接；
[0018]所述HARM端双母头的一个母头与所述低通滤波器的输出端电连接，另一个母头用于与所述射频测试机的第三测试端口电连接。
[0019]可选地，还包括：功率衰减器；
[0020]所述功率衰减器的输入端与所述MSR端双母头的另一个母头电连接，输出端用于与所述射频测试机的第一测试端口电连接。
[0021]可选地，还包括：第一双公头、第二双公头和第三双公头；
[0022]所述ANT端双母头通过所述第一双公头与所述定向耦合器的输入端电连接；
[0023]所述定向耦合器的耦合端通过所述第二双公头与所述高通滤波器的输入端电连接；
[0024]所述高通滤波器的输出端通过所述第三双公头与所述混频器的输入端电连接。
[0025]可选地，还包括：第一射频线、第二射频线、第三射频线、第四射频线、第五射频线和第六射频线；
[0026]所述定向耦合器的输出端通过所述第一射频线与所述环形器的2端口电连接；
[0027]所述环形器的3端口通过所述第二射频线与所述MSR端双母头电连接；
[0028]所述环形器的1端口通过所述第三射频线与所述SRC端双母头电连接；
[0029]所述混频器的外接信号端通过所述第四射频线与所述SG
—
LO端双母头电连接；
[0030]所述混频器的输出端通过所述第五射频线与所述低通滤波器的输入端电连接；
[0031]所述低通滤波器的输出端通过所述第六射频线与所述HARM端双母头电连接。
[0032]可选地，还包括：射频连接器；
[0033]所述射频芯片的天线端口通过所述射频连接器与所述ANT端双母头电连接。
[0034]本技术的有益效果在于：
[0035]本技术的应用于射频测试机的辅助测试设备，包括定向耦合器、环形器、高通滤波器、混频器和低通滤波器，通过定向耦合器和环形器将射频芯片的ANT端口发射端指标和接收端指标本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于射频测试机的辅助测试设备，其特征在于，包括定向耦合器、环形器、高通滤波器、混频器和低通滤波器；所述定向耦合器的输入端用于与射频芯片的天线端口电连接，所述定向耦合器的输出端与所述环形器的2端口电连接，所述环形器的3端口用于与射频测试机的第一测试端口电连接以对所述射频芯片的天线端口的发射性能进行测试，所述环形器的1端口用于与所述射频测试机的第二测试端口电连接以对所述射频芯片的天线端口的接收性能进行测试；所述定向耦合器的耦合端与所述高通滤波器的输入端电连接，所述高通滤波器的输出端与所述混频器的输入端电连接，所述混频器的输出端与所述低通滤波器的输入端电连接，所述混频器的外接信号端与外接信号源电连接，所述低通滤波器的输出端用于与所述射频测试机的第三测试端口电连接以对所述射频芯片的发射性能的谐波信号进行测试。2.根据权利要求1所述的应用于射频测试机的辅助测试设备，其特征在于，还包括：ANT端双母头、SG
—
LO端双母头、MSR端双母头、SRC端双母头和HARM端双母头；所述ANT端双母头的一个母头与所述定向耦合器的输入端电连接，另一个母头用于与所述射频芯片的天线端口电连接；所述SG
—
LO端双母头的一个母头与所述混频器的外接信号端电连接，另一个母头用于与所述外接信号源电连接；所述MSR端双母头的一个母头与所述环形器的3端口电连接，另一个母头用于与所述射频测试机的第一测试端口电连接；所述SRC端双母头的一个母头与所述环形器的1端口电连接，另一个母头用于与所述射频测试机的第二测试端口电连接；所述HARM端双母...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏文泽，崔嘉，
申请(专利权)人：北京唯捷创芯精测科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：