一种继电器生产用光耦检测装置及检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及继电器生产设备领域，公开了一种继电器生产用光耦检测装置及检测方法，检测装置包括依次设置的上料振动盘、导料机构、输送机构以及检测机构；上料振动盘内形成有用于输送光耦元件的螺旋送料轨道，导料机构包括导料盘、转动盘以及识别组件，转动盘上分布有若干容纳槽，光耦元件能够经由上料振动盘导入容纳槽内，导料盘设有第一出料口和第二出料口，识别组件能够根据识别到光耦元件形态将光耦元件由第一出料口或第二出料口导向输送机构，输送机构用于将光耦元件输送至检测机构进行检测；检测方法包括上料步骤、识别步骤、分料步骤、送料步骤以及检测步骤；本发明专利技术的技术方案其具有检测全自动化操作、高效率、高准确性的优点。优点。优点。

【技术实现步骤摘要】
一种继电器生产用光耦检测装置及检测方法


[0001]本专利技术涉及继电器生产设备领域，尤其涉及一种继电器生产用光耦检测装置及检测方法。

技术介绍

[0002]光耦合器以光为介质传输电信号。它对输入输出电信号有很好的隔离作用，因此被广泛应用于各种电路中。目前，它已成为种类最多、用途最广的光电器件之一。光电耦合器一般由三部分组成：光发射、光接收和信号放大。具有抗干扰能力强、运行稳定、无接触、使用寿命长、传输效率高等特点。
[0003]光耦合器亦称光电隔离器或光电耦合器，简称光耦，是光耦继电器中不可缺少的元件，在继电器生产过程中，对光耦的检测是保证继电器质量的不可缺少的工序。
[0004]现有技术一般是通过操作人员手持万能表的两个表笔对光耦元件进行检测，这种方式的整体效率较低，且用工成本较高。

技术实现思路

[0005]本专利技术的第一目的意在提供一种继电器生产用光耦检测装置，其具有检测全自动化操作、高效率、高准确性的优点。
[0006]为达到上述目的，本专利技术的基本方案如下：
[0007]一种继电器生产用光耦检测装置，包括依次设置的上料振动盘、导料机构、输送机构以及检测机构；
[0008]所述上料振动盘内形成有用于容纳光耦元件的料斗，所述料斗连接有用于输送光耦元件的螺旋送料轨道，所述螺旋送料轨道的宽度与光耦元件的宽度相适配；
[0009]所述导料机构包括机架以及导料盘，所述导料盘竖直安装在机架上，所述导料盘内转动连接有转动盘，所述机架上安装有用于驱动转动盘转动的第一驱动组件，所述转动盘的侧面与导料盘的内壁之间形成有间隙，所述转动盘的侧面等距分布有若干用于容纳光耦元件的容纳槽，所述导料盘顶部开设有进料口，所述进料口与螺旋送料轨道的出料端连接，光耦元件能够经螺旋送料轨道落入容纳槽内；
[0010]所述导料盘侧面设有第一出料口，所述导料盘底部设有第二出料口，所述输送机构包括第一输送组件以及第二输送组件，所述第一输送组件的初始端与第一出料口连接，所述第二输送组件的初始端与第二出料口连接；
[0011]所述导料盘内设有用于识别光耦元件形态的识别组件，当识别组件识别到光耦元件呈现为第一形态时，所述转动盘转动以将容纳槽内的光耦元件导向第一出料口，当识别组件识别到光耦元件呈现为第二形态时，所述转动盘转动以将容纳槽内的光耦元件导向第二出料口；
[0012]所述检测机构包括检测平台以及检测组件，所述检测平台分别与第一输送组件以及第二输送组件的末端连接，所述检测组件包括分别设置在检测平台两侧的第一检测器以
及第二检测器，所述第一检测器以及第二检测器能够分别与光耦元件的输入端引脚以及输出端引脚接触以检测光耦元件。
[0013]进一步地，所述第一出料口的外部滑动连接有用于打开或封闭第一出料口的挡板，所述挡板的一侧连接有用于驱动挡板滑动的第二驱动组件，所述识别组件与第二驱动组件相互控制连接；当识别组件识别到光耦元件呈现为第一形态时，第二驱动组件驱动挡板滑动以打开第一出料口，当识别组件识别到光耦元件呈现为第二形态时，第二驱动组件驱动挡板滑动以关闭第一出料口。
[0014]进一步地，所述识别组件包括第一图像采集器、第二图像采集器以及第一控制器，所述第一控制器分别与第一图像采集器、第二图像采集器电连接；
[0015]所述第一图像采集器设置有多个，转动盘内部形成有用于容纳第一图像采集器以及第一控制器的容置腔，各个第一图像采集器的采集端分别与各个容纳槽相对，且容纳槽底部中心位置开设有通孔，所述第一图像采集器的采集端能够透过通孔采集到容纳槽内的光耦元件的形态以生成第一待比对图像，并将第一待比对图像发送至第一控制器；
[0016]所述第二图像采集器安装于导料盘内壁且位于第一出料口和第二出料口之间，所述第二图像采集器能够采集到光耦元件的形态以生成第二待比对图像，并将第二待比对图像发送至第一控制器；
[0017]所述第一控制器关联有图像数据库，所述图像数据库预存储有第一基准图像以及第二基准图像；
[0018]所述第一控制器配置有图像处理模块，所述图像处理模块配置有形态识别单元、第一图像比对单元以及第二图像比对单元，当第一控制器接收到第一待比对图像时，所述形态识别单元能够识别第一待比对图像中的特征点，当形态识别单元识别到特征点时，输出识别结果为光耦元件的形态为第一形态；当形态识别单元未识别到特征点时，输出识别结果为光耦元件的形态为第二形态；
[0019]当识别结果为光耦元件的形态为第一形态时，所述第一图像比对单元比对第一待比对图像与第一基准图像的相似值，当第一待比对图像与第一基准图像完全相同时，输出比对结果为图像相同；当第一待比对图像与第一基准图像不相同时，输出比对结果为图像不相同；
[0020]当识别结果为光耦元件的形态为第二形态时，所述第二图像比对单元比对第二待比对图像与第二基准图像的相似值，当第二待比对图像与第二基准图像完全相同时，输出比对结果为图像相同；当第二待比对图像与第二基准图像不相同时，输出比对结果为图像不相同。
[0021]进一步地，所述第一输送组件以及第二输送组件均配置有输送平台，所述输送平台上设有输送带以及转向件，所述输送带为可换向的输送带，且输送带能够输送光耦元件至检测平台，所述转向件能够调转输送平台以切换光耦元件的形态；
[0022]所述第一控制器配置有信号输出模块，所述信号输出模块与图像处理模块相互关联，所述第一控制器分别与转向件以及输送带电连接；
[0023]当形态识别单元输出识别结果为光耦元件的形态为第一形态时，光耦元件由第一出料口落入第一输送组件，当第一图像比对单元输出比对结果为图像不相同时，所述信号输出模块向第一输送组件的输送带以及转向件发出控制指令，第一输送组件的转向件调转
输送平台以切换光耦元件的形态，同时第一输送组件的输送带调换输送方向并将光耦元件输送至检测平台；
[0024]当形态识别单元输出识别结果为光耦元件的形态为第二形态时，光耦元件由第二出料口落入第二输送组件，当第二图像比对单元输出比对结果为图像不相同时，所述信号输出模块向第二输送组件输送带以及转向件发出控制指令，第二输送组件的转向件调转输送平台以切换光耦元件的形态，同时第二输送组件的输送带调换输送方向并将光耦元件输送至检测平台。
[0025]进一步地，所述容纳槽内设有用于承接光耦元件的承载台，且承载台整体为透明状，所述第一图像采集器的采集端能够依次透过通孔以及承载台采集到容纳槽内的光耦元件的形态；
[0026]所述承载台滑动连接于容纳槽内，且容纳槽底部设有与承载台滑动配合的圆弧形滑轨，所述圆弧形滑轨上安装有限位块，所述承载台底部中心位置设有配重块，当转动盘转动时，所述承载台能够沿着圆弧形滑轨滑动直至承载台与限位块相抵。
[0027]进一步地，所述第一检测器包括第一检测电路以及第一引导组件，所述第一检测电路包括设置于同一回路内的第一电源、第一电阻以及两个接线端，当光耦元件被输送至检测平台时，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种继电器生产用光耦检测装置，其特征在于：包括依次设置的上料振动盘、导料机构、输送机构以及检测机构；所述上料振动盘内形成有用于容纳光耦元件的料斗，所述料斗连接有用于输送光耦元件的螺旋送料轨道，所述螺旋送料轨道的宽度与光耦元件的宽度相适配；所述导料机构包括机架以及导料盘，所述导料盘竖直安装在机架上，所述导料盘内转动连接有转动盘，所述机架上安装有用于驱动转动盘转动的第一驱动组件，所述转动盘的侧面与导料盘的内壁之间形成有间隙，所述转动盘的侧面等距分布有若干用于容纳光耦元件的容纳槽，所述导料盘顶部开设有进料口，所述进料口与螺旋送料轨道的出料端连接，光耦元件能够经螺旋送料轨道落入容纳槽内；所述导料盘侧面设有第一出料口，所述导料盘底部设有第二出料口，所述输送机构包括第一输送组件以及第二输送组件，所述第一输送组件的初始端与第一出料口连接，所述第二输送组件的初始端与第二出料口连接；所述导料盘内设有用于识别光耦元件形态的识别组件，当识别组件识别到光耦元件呈现为第一形态时，所述转动盘转动以将容纳槽内的光耦元件导向第一出料口，当识别组件识别到光耦元件呈现为第二形态时，所述转动盘转动以将容纳槽内的光耦元件导向第二出料口；所述检测机构包括检测平台以及检测组件，所述检测平台分别与第一输送组件以及第二输送组件的末端连接，所述检测组件包括分别设置在检测平台两侧的第一检测器以及第二检测器，所述第一检测器以及第二检测器能够分别与光耦元件的输入端引脚以及输出端引脚接触以检测光耦元件。2.根据权利要求1所述的一种继电器生产用光耦检测装置，其特征在于：所述第一出料口的外部滑动连接有用于打开或封闭第一出料口的挡板，所述挡板的一侧连接有用于驱动挡板滑动的第二驱动组件，所述识别组件与第二驱动组件相互控制连接；当识别组件识别到光耦元件呈现为第一形态时，第二驱动组件驱动挡板滑动以打开第一出料口，当识别组件识别到光耦元件呈现为第二形态时，第二驱动组件驱动挡板滑动以关闭第一出料口。3.根据权利要求2所述的一种继电器生产用光耦检测装置，其特征在于：所述识别组件包括第一图像采集器、第二图像采集器以及第一控制器，所述第一控制器分别与第一图像采集器、第二图像采集器电连接；所述第一图像采集器设置有多个，转动盘内部形成有用于容纳第一图像采集器以及第一控制器的容置腔，各个第一图像采集器的采集端分别与各个容纳槽相对，且容纳槽底部中心位置开设有通孔，所述第一图像采集器的采集端能够透过通孔采集到容纳槽内的光耦元件的形态以生成第一待比对图像，并将第一待比对图像发送至第一控制器；所述第二图像采集器安装于导料盘内壁且位于第一出料口和第二出料口之间，所述第二图像采集器能够采集到光耦元件的形态以生成第二待比对图像，并将第二待比对图像发送至第一控制器；所述第一控制器关联有图像数据库，所述图像数据库预存储有第一基准图像以及第二基准图像；所述第一控制器配置有图像处理模块，所述图像处理模块配置有形态识别单元、第一
图像比对单元以及第二图像比对单元，当第一控制器接收到第一待比对图像时，所述形态识别单元能够识别第一待比对图像中的特征点，当形态识别单元识别到特征点时，输出识别结果为光耦元件的形态为第一形态；当形态识别单元未识别到特征点时，输出识别结果为光耦元件的形态为第二形态；当识别结果为光耦元件的形态为第一形态时，所述第一图像比对单元比对第一待比对图像与第一基准图像的相似值，当第一待比对图像与第一基准图像完全相同时，输出比对结果为图像相同；当第一待比对图像与第一基准图像不相同时，输出比对结果为图像不相同；当识别结果为光耦元件的形态为第二形态时，所述第二图像比对单元比对第二待比对图像与第二基准图像的相似值，当第二待比对图像与第二基准图像完全相同时，输出比对结果为图像相同；当第二待比对图像与第二基准图像不相同时，输出比对结果为图像不相同。4.根据权利要求3所述的一种继电器生产用光耦检测装置，其特征在于：所述第一输送组件以及第二输送组件均配置有输送平台，所述输送平台上设有输送带以及转向件，所述输送带为可换向的输送带，且输送带能够输送光耦元件至检测平台，所述转向件能够调转输送平台以切换光耦元件的形态；所述第一控制器配置有信号输出模块，所述信号输出模块与图像处理模块相互关联，所述第一控制器分别与转向件以及输送带电连接；当形态识别单元输出识别结果为光耦元件的形态为第一形态时，光耦元件由第一出料口落入第一输送组件，当第一图像比对单元输出比对结果为图像不相同时，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄成贵，
申请(专利权)人：宁波信创智电器有限公司，
类型：发明
国别省市：