晶圆盒真空装载装置制造方法及图纸

技术编号:34645928 阅读:100 留言:0更新日期:2022-08-24 15:22
本发明专利技术的实施提供一种晶圆盒真空装载装置,涉及半导体技术领域。晶圆盒真空装载装置包括装载腔体、密封框、透光板和非真空型传感器,密封框安装在装载腔体的内部、且与装载腔体的内壁密封连接,形成密封空腔,密封空腔与装载晶圆盒的空腔隔绝,透光板安装在密封框上;非真空型传感器安装在密封空腔内,非真空型传感器用于发出光线穿过透光板、并检测装载腔体内是否装入晶圆盒;其中,装载腔体的内壁上开设有穿线孔,穿线孔的一端与密封空腔连通,穿线孔的另一端与装载腔体的外部连通,非真空型传感器的连接线从穿线孔引出。这样,能够将非真空型传感器应用在晶圆盒真空装载装置中,用于检测是否装入晶圆盒,降低设备成本,提高传感器的稳定性。提高传感器的稳定性。提高传感器的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
晶圆盒真空装载装置


[0001]本专利技术涉及半导体
,具体而言,涉及一种晶圆盒真空装载装置。

技术介绍

[0002]在半导体真空传输平台设备中,需要监测各种功能的传感器,比如晶片(wafer)滑片检测传感器、mapping传感器、手指上wafer有无检测传感器以及cassette有无检测传感器等。这些传感器有的装在大气环境中,有的装在真空环境中。在同样功能的前提下,真空环境下对传感器的要求比在大气中的要更苛刻,需要传感器有足够的机械强度和刚度保证承压能力,并且要具有良好的气密性,因此真空环境下传感器的结构会相对复杂些。装在真空环境下,还需要配置光耦合器来密封真空侧和大气侧,并传送真空侧光纤和大气侧光纤的光。由此,真空环境下传感器会在成本上比大气下传感器高出1

2倍。
[0003]即使如此,真空下的传感器时常由于腔内真空度变化,进而由于承压过大导致传感器材质变形,然后导致检测不准确。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的包括提供了一种晶圆盒真空装载装置,其能够将非真空型传感器应用在晶圆盒真本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶圆盒真空装载装置,其特征在于,所述晶圆盒真空装载装置包括:装载腔体(1),用于装载晶圆盒(200);密封框(3),安装在所述装载腔体(1)的内部、且与所述装载腔体(1)的内壁密封连接,形成密封空腔(31),所述密封空腔(31)与所述装载腔体(1)用于装载所述晶圆盒(200)的空腔隔绝,所述密封框(3)上开设有安装通孔;透光板(4),安装在所述安装通孔内、且与所述密封框(3)密封连接;非真空型传感器(5),安装在所述密封空腔(31)内,所述非真空型传感器(5)用于发出光线(51)穿过所述透光板(4)、并检测所述装载腔体(1)内是否装入所述晶圆盒(200);其中,所述装载腔体(1)的所述内壁上开设有穿线孔(101),所述穿线孔(101)的一端与所述密封空腔(31)连通,所述穿线孔(101)的另一端与所述装载腔体(1)的外部连通,所述非真空型传感器(5)的连接线从所述穿线孔(101)引出。2.根据权利要求1所述的晶圆盒真空装载装置,其特征在于,所述晶圆盒真空装载装置还包括:反射板(6),安装在所述装载腔体(1)的内部、且与所述非真空型传感器(5)发出的光线(51)正对设置,所述反射板(6)用于将所述非真空型传感器(5)发出的光线(51)反射回所述非真空型传感器(5),所述晶圆盒(200)装入所述装载腔体(1)之后将阻断所述光线(51)。3.根据权利要求2所述的晶圆盒真空装载装置,其特征在于,所述晶圆盒真空装载装置还包括:支架(2),安装在所述装载腔体(1)的内部,所述支架(2)用于承载所述晶圆盒(200);传动杆(11),活动连接在所述支架(2)上,所述晶圆盒(200)放置在所述支架(2)上之后将推动所述传动杆(11)阻断所述光线(51)。4.根据权利要求3所述的晶圆盒真空装载装置,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:戴建波朱磊孙文彬
申请(专利权)人:无锡邑文电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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