集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件及制备方法技术

本发明专利技术提供一种集成开基区PNP晶体管的碳化硅MOSFET器件及其制备方法，N

【技术实现步骤摘要】
集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件及制备方法


[0001]本专利技术属于功率半导体
，具体是一种集成开基区PNP晶体管的平面型碳化硅MOSFET功率器件。

技术介绍

[0002]在航空、航天和军用装备中，功率半导体器件主要应用于电源与配电分系统，属于核心元器件。采用Si材料的功率半导体器件逐渐达到其理论极限，在现有研究的水平上难以进一步实现功率变换器的高频化、高功率密度及小型化。
[0003]具有禁带宽度大、临界击穿电场高、热导率高和电子饱和漂移速度高等特点的碳化硅(Silicon Carbide)材料可以更好地满足高速发展的航天技术对功率半导体器件提出的更高的工作频率、更高的工作电压、更低的导通电阻和高功率密度，同时具备抗辐照、耐极高温等耐特殊环境能力的需求。
[0004]碳化硅MOSFET具有更小的体积、更低的损耗、更强的电流导通能力，采用SiC功率MOSFET可简化功率电子系统的拓扑结构，减小系统整体损耗与体积，促进系统小型化、轻量化。SiC MOSFET栅氧化层薄、短路耐量小，由于高频开关特性，其对回路寄生参数的影响更加敏感，桥臂结构应用时更易因串扰而引起误导通导致短路。目前，宇航电源系统应用需要开关器件具有约10μs的短路耐受时间，从而使系统控制器能及时检测到故障。否则，器件的短路失效将导致电源系统故障，甚至威胁航天器的安全运行。然而，目前商业化SiC MOSFET器件的短路耐受时间约为6μs，因此有效提升平面栅SiC MOSFET短路耐受时间对实现其在宇航电源系统/推进系统中应用至关重要。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是优化元胞结构以提升器件本身的短路能力，确保短路及栅氧化层可靠性的同时又降低器件导通损耗及开关损耗，提出一种集成开基区PNP晶体管的碳化硅MOSFET器件及制备方法。通过开基区PNP晶体管结构来调节P型发射区的电位：当器件工作在反向阻断/短路状态时，漏极施加高电压，开基区PNP晶体管穿通，P型发射区电势被钳位在穿通电压为低电位，保护氧化层的能力较强，同时P型发射区与相邻P型阱区形成耗尽区夹断，限制短路电流的流通路径。在正向导通状态时，源漏电压较小，开基区PNP晶体管截止，P型发射区浮空，因此对器件的导通电阻几乎没有影响。由于P型发射区的电位在器件开关时通过开基区PNP晶体管调节且分裂栅结构使栅极与漂移区的重叠面积缩减，因此器件的栅漏电容也相对较小。因此本专利技术在增强器件短路可靠性及氧化层可靠性的同时，又保证了器件的正向导通特性，降低了器件的开关损耗。
[0006]为达到上述目的，本专利技术采用下述技术方案：
[0007]一种集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件，包括漏极金属6、漏极金属6上方的N+衬底5、N+衬底5上方的N
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漂移区4、N
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漂移区10上方的电流扩展层CSL10；所述电流扩展层CSL10的内部左方为P型第一基区3，所述P型第一基区3左上方具有第一P+欧姆接触区2，所
述第一P+欧姆接触区2右方为第一N+源区9；所述电流扩展层CSL10的内部中间为P型发射区11，所述P型发射区11上方具有N型基区13，所述N型基区13上方为P+集电区12；所述电流扩展层CSL10的内部右方为P型第二基区31，所述P型第二基区31右上方具有第二P+欧姆接触区21，所述第二P+欧姆接触区21左方为第二N+源区91；所述电流扩展层CSL10上方设有第一源极金属1；所述电流扩展层CSL10左上方为第一栅介质7，所述第一栅介质7内部设有第一多晶硅栅8；所述电流扩展层CSL10右上方为第二栅介质71，所述第一栅介质71内部设有第一多晶硅栅81；P型第一基区3第一栅介质7、及P型第二基区31靠近第二栅介质71的部分为器件的沟道。
[0008]作为优选方式，所述栅介质为SiO2。
[0009]作为优选方式，所述第一P+欧姆接触区2、第二P+欧姆接触区21、第一N+源区9、第二N+源区91、P型第一基区3、P型第二基区31、P型发射区11、N型基区13、P+集电区12均为多次离子注入形成。
[0010]作为优选方式，所述器件N
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漂移区4、N+衬底5、电流扩展层CSL10、P型第一基区3、P型第二基区31、P型发射区11、N型基区13、P+集电区12、第一P+欧姆接触区2、第二P+欧姆接触区21、第一N+源区9、第二N+源区91的材料均为碳化硅。
[0011]为实现上述专利技术目的，本专利技术还提供第二种集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件，包括漏极金属6、漏极金属6上方的N+衬底5、N+衬底5上方的N
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漂移区4、N
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漂移区4上方的电流扩展层CSL10；所述电流扩展层CSL10的内部左方为P型第一基区3，所述P型第一基区3左上方具有第一P+欧姆接触区2，所述第一P+欧姆接触区2右方为第一N+源区9；所述电流扩展层CSL10的内部中间为P型发射区11，所述P型发射区11上方为N+集电区51；所述电流扩展层CSL10的内部右方为P型第二基区31，所述P型第二基区31右上方具有第二P+欧姆接触区21，所述第二P+欧姆接触区21左方为第二N+源区91；所述电流扩展层CSL10上方设有第一源极金属1；所述电流扩展层CSL10左上方为第一栅介质7，所述第一栅介质7内部设有第一多晶硅栅8；所述电流扩展层CSL10右上方为第二栅介质71，所述第一栅介质71内部设有第二多晶硅栅81；P型第一基区3靠近第一栅介质7、及P型第二基区31靠近第二栅介质71的部分为器件的沟道。
[0012]为实现上述专利技术目的，本专利技术还提供第三种集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件，包括漏极金属6、漏极金属6上方的N+衬底5、N+衬底5上方的N
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漂移区4；所述N
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漂移区4的内部上方中间设有第一多晶硅栅8及第一栅介质7填充的凹槽，凹槽左侧为P型第一基区3，凹槽右下方为P型发射区11；所述P型发射区11上方具有N型基区13，所述N型基区13上方具有第二P+欧姆接触区21；所述P型第一基区3左上方为第一P+欧姆接触区2，所述P型基区3右上方为第一N+源区9；第一N+源区9与第一P+欧姆接触区2上方设有第一源极金属1；所述第二P+欧姆接触区21上方设有第二源极金属15；所述第一多晶硅栅8上方为栅极金属14，P型第一基区3靠近第一栅介质7的部分为器件的沟道。
[0013]为实现上述专利技术目的，本专利技术还提供第四种集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件，包括漏极金属6、漏极金属6上方的N+衬底5、N+衬底5上方的N
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漂移区4；所述N
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漂移区4的内部上方中间设有第一多晶硅栅8及第一栅介质7填充的凹槽，凹槽左侧为P型第一基区3，凹槽右下方为P型发射区11；所述P型发射区11上方具有第二N+源区91；所述P型第一基区3左上方为第一P+欧姆接触区2，所述P型基区3右上方为第一N+源区9；第一N+源区本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件，其特征在于：包括漏极金属(6)、漏极金属(6)上方的N+衬底(5)、N+衬底(5)上方的N
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漂移区(4)、N
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漂移区(4)上方的电流扩展层CSL(10)；所述电流扩展层CSL(10)的内部左方为P型第一基区(3)，所述P型第一基区(3)左上方具有第一P+欧姆接触区(2)，所述第一P+欧姆接触区(2)右方为第一N+源区(9)；所述电流扩展层CSL(10)的内部中间为P型发射区(11)，所述P型发射区(11)上方具有N型基区(13)，所述N型基区(13)上方为P+集电区(12)；所述电流扩展层CSL(10)的内部右方为P型第二基区(31)，所述P型第二基区(31)右上方具有第二P+欧姆接触区(21)，所述第二P+欧姆接触区(21)左方为第二N+源区(91)；所述电流扩展层CSL(10)上方设有第一源极金属(1)；所述电流扩展层CSL(10)左上方为第一栅介质(7)，所述第一栅介质(7)内部设有第一多晶硅栅(8)；所述电流扩展层CSL(10)右上方为第二栅介质(71)，所述第二栅介质(71)内部设有第二多晶硅栅(81)；P型第一基区(3)靠近第一栅介质(7)、及P型第二基区(31)靠近第二栅介质(71)的部分为器件的沟道。2.根据权利要求1所述的集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件，其特征在于：所述第一栅介质(7)与第二栅介质(71)为SiO2。3.根据权利要求1所述的集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件，其特征在于：所述第一P+欧姆接触区(2)、第二P+欧姆接触区(21)、第一N+源区(9)、第二N+源区(91)、P型第一基区(3)、P型第二基区(31)、P型发射区(11)、N型基区(13)、P+集电区(12)均为多次离子注入形成。4.根据权利要求1所述的P+屏蔽层电位可调碳化硅MOSFET器件，其特征在于：所述器件N
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漂移区(4)、N+衬底(5)、电流扩展层CSL(10)、P型第一基区(3)、P型第二基区(31)、P型发射区(11)、N型基区(13)、P+集电区(12)、第一P+欧姆接触区(2)、第二P+欧姆接触区(21)、第一N+源区(9)、第二N+源区(91)的材料均为碳化硅。5.一种集成开基区PNP晶体管碳化硅MOSFET器件，其特征在于：包括漏极金属(6)、漏极金属(6)上方的N+衬底(5)、N+衬底(5)上方的N
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漂移区(4)、N
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漂移区(4)上方的电流扩展层CSL(10)；所述电流扩展层CSL(10)的内部左方为P型第一基区(3)，所述P型第一基区(3)左上方具有第一P+欧姆接触区(2)，所述第一P+欧姆接触区(2)右方为第一N+源区(9)；所述电流扩展层CSL(10)的内部中间为P型发射区(11)，所述P型发射区(11)上方为N+集电区(51)；所述电流扩展层CSL(10)的内部右方为P型第二基区(31)，所述P型第二基区(31...

【专利技术属性】
技术研发人员：李轩，娄谦，王常旺，邓小川，张波，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：