一种DRAM测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及集成电路测试技术领域，具体是一种DRAM测试装置，包括线性丝杆模组，线性丝杆模组底部固定连接有底板，底板上设置有第一通槽，底板底部固定连接有支撑杆，支撑杆共设有多个，线性丝杆模组上固定连接有背板，背板上固定连接有顶板，顶板底部固定连接有测试仪本体，线性丝杆模组上设置有滑块，滑块上设置有连接板，连接板上固定连接有驱动电机，驱动电机上设置有驱动杆，驱动杆与连接板贯穿连接，驱动杆上设置有连接块，本实用新型专利技术通过连接杆转动至水平，使第一紧固板以及第二紧固板呈外翻状态，然后即可将存储器挤入第二紧固板中，通过弹簧杆弹簧的特性，使第二紧固板持续挤压存储器，防止存储器松动，导致影响测试效果。效果。效果。

【技术实现步骤摘要】
一种DRAM测试装置


[0001]本技术涉及集成电路测试
，具体是一种DRAM测试装置。

技术介绍

[0002]随着电子工业的进步及电子科技应用的快速发展，愈来愈多的电子产品被频繁的应用于日常生活中，以提升作业的方便性与生活品质，在许多不同的电子产品应用的中，皆须使用到许多不同种类的存储器元件，以提供各项操作所需的信息，且可作为资料与信息交换、暂存等空间之用，特别是电脑、通讯以及消费性电子产品等皆有日益频繁的应用。
[0003]现有技术中，存在问题如下：
[0004]现有的DRAM测试装置在测试存储器时，常常需要工作人员手动调节存储器的位置，才能使其进行测试，且在测试时，存储器表层的灰尘会影响到测试效果。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种DRAM测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]本技术的技术方案是：一种DRAM测试装置，包括线性丝杆模组，所述线性丝杆模组底部固定连接有底板，所述底板上设置有第一通槽，所述底板底部固定连接有支撑杆，所述支撑杆共设有多个，所述线性丝杆模组上固定连接有背板，所述背板上固定连接有顶板，所述顶板底部固定连接有测试仪本体，所述线性丝杆模组上设置有滑块，所述滑块上设置有连接板，所述连接板上固定连接有驱动电机，所述驱动电机上设置有驱动杆，所述驱动杆与所述连接板贯穿连接，所述驱动杆上设置有连接块，所述连接块上设置有连接杆，所述连接杆上固定连接有紧固机构。
[0007]优选的，所述紧固机构包括有第一紧固板以及第二紧固板，所述第一紧固板与所述连接杆固定连接，所述第一紧固板内壁固定连接有弹簧杆，所述弹簧杆共设有多个，所述弹簧杆与所述第二紧固板固定连接。
[0008]优选的，所述第二紧固板顶部呈斜坡状，所述第二紧固板为橡胶材质。
[0009]优选的，所述第二紧固板高度高于所述第一紧固板。
[0010]优选的，所述底板上设置有第二通槽，所述第二通槽上设置有清理辊，所述清理辊共设有多个，所述清理辊与所述第二紧固板相配合。
[0011]优选的，所述清理辊直径大于所述第二通槽。
[0012]优选的，所述连接板上固定连接有限位板，所述限位板底部固定连接有限位杆，所述限位杆与所述第一通槽贯穿连接，所述限位杆底部固定连接有限位块。
[0013]优选的，所述限位块与所述第一通槽呈十字交叉排列。
[0014]本技术通过改进在此提供一种DRAM测试装置，与现有技术相比，具有如下改进及优点：
[0015]其一：本技术通过连接杆转动至水平，使第一紧固板以及第二紧固板呈外翻
状态，然后即可将存储器挤入第二紧固板中，通过弹簧杆弹簧的特性，使第二紧固板持续挤压存储器，防止存储器松动，导致影响测试效果；
[0016]其二：本技术通过清理辊的设置，当第二紧固板转动至清理辊上方时，清理辊与存储器接触，从而通过清理辊将存储器表层中的灰尘清理干净，防止存储器表层有灰尘影响测试效果。
附图说明
[0017]下面结合附图和实施例对本技术作进一步解释：
[0018]图1是本技术的立体结构第一视角示意图；
[0019]图2是本技术的立体结构第二视角示意图；
[0020]图3是本技术的立体结构第三视角示意图；
[0021]图4是本技术的前视结构示意图；
[0022]图5是本技术的A处放大结构示意图。
[0023]图中：1、线性丝杆模组；101、底板；102、第一通槽；103、支撑杆；104、背板；105、顶板；106、测试仪本体；107、滑块；108、连接板；109、驱动电机；110、驱动杆；111、连接块；112、连接杆；113、第二通槽；114、清理辊；115、限位板；116、限位杆；117、限位块；2、紧固机构；201、第一紧固板；202、第二紧固板；203、弹簧杆。
具体实施方式
[0024]下面对本技术进行详细说明，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]本技术通过改进在此提供一种DRAM测试装置，本技术的技术方案是：
[0026]如图1
‑
图5所示，一种DRAM测试装置，包括线性丝杆模组1，线性丝杆模组1底部固定连接有底板101，底板101上设置有第一通槽102，底板101底部固定连接有支撑杆103，支撑杆103共设有多个，线性丝杆模组1上固定连接有背板104，背板104上固定连接有顶板105，顶板105底部固定连接有测试仪本体106，线性丝杆模组1上设置有滑块107，滑块107上设置有连接板108，连接板108上固定连接有驱动电机109，驱动电机109上设置有驱动杆110，驱动杆110与连接板108贯穿连接，驱动杆110上设置有连接块111，连接块111上设置有连接杆112，连接杆112上固定连接有紧固机构2，本设置中：首先通过启动驱动电机109，使驱动杆110带动连接块111以及连接杆112转动，通过转动使连接杆112转动至水平，即可将存储器挤入第二紧固板202中，通过连接杆112转动，使第二紧固板202转动至垂直向下，使第二紧固板202中的存储器与清理辊114接触，通过两者接触，从而使存储器表层清理干净，防止影响测试效果。
[0027]进一步的，紧固机构2包括有第一紧固板201以及第二紧固板202，第一紧固板201与连接杆112固定连接，第一紧固板201内壁固定连接有弹簧杆203，弹簧杆203共设有多个，弹簧杆203与第二紧固板202固定连接，本设置中：通过连接杆112转动至水平，使第一紧固板201以及第二紧固板202呈外翻状态，然后即可将存储器挤入第二紧固板202中，通过弹簧
杆203弹簧的特性，使第二紧固板202持续挤压存储器，防止存储器松动，导致影响测试效果。
[0028]进一步的，第二紧固板202顶部呈斜坡状，第二紧固板202为橡胶材质，本设置中：通过第二紧固板202为橡胶材质，便于第二紧固板202收缩紧固存储器。
[0029]进一步的，第二紧固板202高度高于第一紧固板201，本设置中：通过第二紧固板202高度高于第一紧固板201，便于第二紧固板202翻转时，存储器能与清理辊114接触。
[0030]进一步的，底板101上设置有第二通槽113，第二通槽113上设置有清理辊114，清理辊114共设有多个，清理辊114与第二紧固板202相配合，本设置中：通过清理辊114的设置，当第二紧固板202转动至清理辊114上方时，清理辊114与存储器接触，从而通过清理辊114将存储器表层中的灰尘清理干净，防止存储器表层有灰尘影响测试效果。
[0031]进一步的，清理辊11本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DRAM测试装置，其特征在于：包括线性丝杆模组(1)，所述线性丝杆模组(1)底部固定连接有底板(101)，所述底板(101)上设置有第一通槽(102)，所述底板(101)底部固定连接有支撑杆(103)，所述支撑杆(103)共设有多个，所述线性丝杆模组(1)上固定连接有背板(104)，所述背板(104)上固定连接有顶板(105)，所述顶板(105)底部固定连接有测试仪本体(106)，所述线性丝杆模组(1)上设置有滑块(107)，所述滑块(107)上设置有连接板(108)，所述连接板(108)上固定连接有驱动电机(109)，所述驱动电机(109)上设置有驱动杆(110)，所述驱动杆(110)与所述连接板(108)贯穿连接，所述驱动杆(110)上设置有连接块(111)，所述连接块(111)上设置有连接杆(112)，所述连接杆(112)上固定连接有紧固机构(2)。2.根据权利要求1所述的一种DRAM测试装置，其特征在于：所述紧固机构(2)包括有第一紧固板(201)以及第二紧固板(202)，所述第一紧固板(201)与所述连接杆(112)固定连接，所述第一紧固板(201)内壁固定连接有弹簧杆(203)，所述弹簧杆(203)共设有多个，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：阮健军，杨映周，
申请(专利权)人：全中半导体深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：