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本实用新型涉及集成电路测试技术领域，具体是一种DRAM测试装置，包括线性丝杆模组，线性丝杆模组底部固定连接有底板，底板上设置有第一通槽，底板底部固定连接有支撑杆，支撑杆共设有多个，线性丝杆模组上固定连接有背板，背板上固定连接有顶板，顶板底部...
该专利属于全中半导体（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过全中半导体（深圳）有限公司授权不得商用。

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