半导体器件模型测试数据的处理方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种半导体器件模型测试数据的处理方法和装置。其中半导体器件模型测试数据的处理方法具体包括：通过获取针对半导体器件执行测试的数据源集，将数据源集存储至嵌入式数据库；其中，数据源集包括：测试数据集、仿真数据集、源筛选数据集的一种或者多种；根据嵌入式数据库存储的数据源集，通过预设数据呈现条件，预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选项，查看、提取数据源集，生成自定义数据集并呈现，以及基于自定义数据集对半导体器件的器件模型进行拟合。实现提取的自定义数据集的图形绘制、模型提取，通过测试数据集的实时更新，进行反复的迭代验证，得到可靠的模型提取参数。模型提取参数。模型提取参数。

Processing method and device of semiconductor device model test data

【技术实现步骤摘要】
半导体器件模型测试数据的处理方法和装置


[0001]本专利技术涉及的领域是电子设计自动化，具体而言，公开了一种半导体器件模型测试数据的处理方法和装置。

技术介绍

[0002]半导体器件的测试数据仿真，是分析半导体器件原理和性能的重要工具，有着广泛的应用，其已经成为集成电路计算机辅助设计不可分割的一个部分，这种将基于仪器系统的实验“移植”到强大的计算机平台，能够省时省力地实现产品设计与研发，必然会为半导体行业的发展带来巨大社会经济效益。所谓的仿真设计技术，是指利用各种物理的和数学的，静态的和动态的，连续的和离散的模型可视化地复现实际系统中发生的本质过程，并通过对系统模型的实验来快速准确地预测和凝练出相关的物理规律以及趋势预测，进而助力我们对实际系统的研究，仿真设计技术包括测量、仿真、优化和统计分析工具等，借助于仿真分析，选择合适参数指标，优化芯片结构参数，进而提供高效可靠的实验设计方案。
[0003]于现有技术中，半导体器件的参数数据测量的实验结束后，将得到的测试数据导出为文本文件，集成电路建模软件导入文本文件进行进一步的拟合处理，本方法无法实现数据的全面分析和实时分析，导致无法及时发现器件测量过程中的异常情况，无法及时评估半导体器件的测试数据即物理实验数据的可靠性，无法及时验证半导体器件仿真模型及结果的可信度，无法及时改进和优化半导体器件数据测量的方案。
[0004]进一步地，由于半导体器件数据测量进行时或结束后，无法对测试数据和仿真数据进行全面、实时、有效的分析比对，未经过比对评比的测试数据，增加了模型提取失败的可能性，导致出现大量的资源浪费。

技术实现思路

[0005]为了解决现有技术中的缺陷，本申请提供了一种半导体器件模型测试数据的处理方法和装置。
[0006]本申请的第一方面提供了一种半导体器件模型测试数据的处理方法，该方法具体可以包括：
[0007]获取针对半导体器件执行测试的数据源集，数据源集包括：测试数据集、仿真数据集、源筛选数据集的一种或者多种；
[0008]保存数据源集，将数据源集存储至嵌入式数据库；
[0009]预设数据呈现条件，根据嵌入式数据库存储的数据源集，预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选择；
[0010]处理数据源集，根据预设数据呈现条件，提取数据源集，生成自定义数据集并呈现，以及基于自定义数据集对半导体器件的器件模型进行拟合。
[0011]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括：
[0012]根据半导体器件的预设测量参数，获取半导体器件的测试数据集。
[0013]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括获取仿真数据集包括：
[0014]调用半导体器件的器件模型的模型库文件进行解析，获取模型解析经过模型仿真得到的仿真数据数据集。
[0015]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括获取源筛选数据集包括：
[0016]基于半导体器件测量过程的测量参数和测量例程，获取源筛选数据集。
[0017]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括将数据源集存储至嵌入式数据库包括：
[0018]读取数据源集存储至嵌入式数据库并生成匹配嵌入式数据库的软链接文件，软链接文件和嵌入式数据库保存的数据源集的路径相对应具备第一映射关系；
[0019]根据第一映射关系，实现测试数据的编辑更新。
[0020]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括实现测试数据的编辑更新包括：
[0021]接收目标用户针对软链接文件的访问请求；
[0022]在第一映射关系存在编辑变更需求的情况下，则更新第一映射关系和软链接文件；
[0023]在目标用户读取编辑更新后的软链接文件时，根据更新后的第一映射关系，将更新后的软链接文件指向嵌入式数据库保存的数据源集的路径。
[0024]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选择包括：
[0025]根据半导体器件的类别、数据源集、半导体器件的数据类型预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选择。
[0026]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括提取数据源集包括：
[0027]获取某一半导体器件的测试数据；
[0028]在某一半导体器件的测试数据的值不为空的情况下，提取包括测试数据集的数据源集。
[0029]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括提取数据源集还包括：
[0030]获取某一半导体器件的仿真数据；
[0031]在仿真数据集对应的任一半导体器件的仿真数据的值不为空的情况下，提取包括仿真数据集的数据源集。
[0032]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括呈现数据源集包括：
[0033]根据提取的数据源信息生成自定义数据集，根据自定义数据集生成对应的二维矩阵；
[0034]在二维矩阵对应的数据存在的情况下，通过预设图像化界面算法实现自定义数据集显示在图形界面。
[0035]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括基于自定义数据集对半导体器件的器件模型进行拟合包括：
[0036]在自定义数据集包括测试数据集、仿真数据集的情况下，获取测试数据、仿真数据之间的误差数据；
[0037]根据误差数据对半导体器件的器件模型进行拟合。
[0038]在本申请的第一方面的一种可能实现方式中，获取测试数据集包括根据误差数据对半导体器件的器件模型进行拟合包括：
[0039]调整半导体器件的器件模型的模型文件里的预设参数，获取多组误差数据对半导体器件的器件模型进行迭代拟合；
[0040]在提取模型达到预设精度阈值的精度的情况下，生成器件模型拟合对应的预设参数；
[0041]其中，误差数据由仿真数据集与测试数据集之间的误差生成。
[0042]本申请的第二方面提供一种提取半导体器件模型测试数据的装置，该装置可以包括非暂态计算机存储介质，其上存储有一个或多个可执行指令，一个或多个可执行指令被处理器执行后，执行下述步骤：
[0043]获取针对半导体器件执行测试的数据源集，数据源集包括：测试数据集、仿真数据集、源筛选数据集的一种或者多种；
[0044]保存数据源集，将数据源集存储至嵌入式数据库；
[0045]预设数据呈现条件，根据嵌入式数据库的数据源集，预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选择；
[0046]处理数据源集，根据预设数据呈现条件，提取数据源集，生成自定义数据集并呈现，以及用自定义数据集对半导体器件的器件模型进行拟合。
[0047]本专利技术具备以下有益技术效果：
[0048]1、本申请通过设置嵌入式数据库保存测试数据集、仿真数据集，通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体器件模型测试数据的处理方法，其特征在于，所述的方法包括：获取所述针对半导体器件执行测试的数据源集，所述数据源集包括：测试数据集、仿真数据集、源筛选数据集的一种或者多种；保存所述数据源集，将所述数据源集存储至嵌入式数据库；预设数据呈现条件，根据所述嵌入式数据库存储的所述数据源集，预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选择；处理所述数据源集，根据所述预设数据呈现条件，提取所述数据源集，生成自定义数据集并呈现，以及基于所述自定义数据集对所述半导体器件的器件模型进行拟合。2.根据权利要求1所述的一种半导体器件模型测试数据的处理方法，其特征在于，获取所述测试数据集包括：根据所述半导体器件的预设测量参数，获取所述半导体器件的所述测试数据集。3.根据权利要求1所述的一种半导体器件模型测试数据的处理方法，其特征在于，获取所述仿真数据集包括：调用所述半导体器件的器件模型的模型库文件进行解析，获取所述模型解析经过模型仿真得到的所述仿真数据数据集。4.根据权利要求1所述的一种半导体器件模型测试数据的处理方法，其特征在于，获取所述源筛选数据集包括：基于所述半导体器件测量过程的所述测量参数和测量例程，获取所述源筛选数据集。5.根据权利要求1所述的一种半导体器件模型测试数据的处理方法，其特征在于，将所述数据源集存储至所述嵌入式数据库包括：读取数据源集存储至嵌入式数据库并生成匹配所述嵌入式数据库的软链接文件，所述软链接文件和所述嵌入式数据库保存的所述数据源集的路径相对应具备第一映射关系；根据所述第一映射关系，实现所述测试数据的编辑更新。6.根据权利要求5所述的一种半导体器件模型测试数据的处理方法，其特征在于，实现所述测试数据的编辑更新包括：接收目标用户针对所述软链接文件的访问请求；在所述第一映射关系存在编辑变更需求的情况下，则更新所述第一映射关系和所述软链接文件；在目标用户读取编辑更新后的所述软链接文件时，根据更新后的所述第一映射关系，将更新后的所述软链接文件指向所述嵌入式数据库保存的所述数据源集的路径。7.根据权利要求1所述的一种半导体器件模型测试数据的处理方法，其特征在于，预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选择包括：根据所述半导体器件的类别、所述数据源集、所述半导体器件的数据类型预设显示界面一个或者多个预设数据呈现条件的选择。8.根据权利要求1所述的一种半导体器件...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐俊义，张凤英，于萌，
申请(专利权)人：上海概伦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：