基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统技术方案

本发明专利技术公开一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统，方法包括以下步骤：获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯；获取定制化测试算法，其中所述定制化测试算法是基于beanshell脚本调用系统中预置的测试流程开发模块和内置编程接口模块编写实现；运行所述定制化测试算法，通过预置的beanshell解释器对所述定制化测试算法进行边解释边运行；输出所述定制化测试算法的测试结果。用户能够编写脚本程序与利用高级语言编写的接口模块、开发模块和高级语言解释模块实现定制化测试流程，无需程序编译过程，代码可读性和可维护性高，无需第三方的开发工具，实现高效实时的测试流程编辑与调试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体芯片测试，尤其涉及一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统。

技术介绍

1、在半导体行业中，半导体参数测试扮演着至关重要的角色，它保障了半导体器件的质量和可靠性。各种半导体参数测试软件通常会集成一些预先开发好，已经嵌入软件中的标准测试流程和算法，同时提供一种方法来支持用户实现标准流程和算法，不能实现的定制化测试需要。当前不同厂商实现测试流程定制化的方法有以下几种：

2、1、使用一种为自家软件专门设计的脚本语言，例如keysight easyexpert软件。这种方式的缺点是：这类脚本语言通常使用自己独特的语法，不具备通用性，用户需要付出学习成本；这类脚本语言的语法通常较简单，不能完成复杂的流程；这类脚本语言可实现的功能和编程接口通常为软件内预先开发好的，用户不可自己扩展；这类脚本语言通常面向测试过程，不能实现图形界面的人机交互。

3、2、使用一种通用的脚本语言，例如tcl脚本。这种方式的缺点是：这种脚本语言的语法格式较独特，对用户不友好，用户需要付出较多的学习成本；这种脚本语言缺少良好的开发环境和查错纠错本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，所述测试流程开发模块和所述内置编程接口模块基于Java和/或Python编写实现，所述测试流程开发模块通过语法解析库工具对所述beanshell脚本的语法结构进行识别从而实现语法高亮、自动补全和代码提示功能，所述内置编程接口模块用于提供与所述相关硬件设备通讯的内置编程接口以控制硬件设备和进行数据分析，获取所述定制化测试算法后，Java和/或Python语言编写实现的所述测试流程开发模块和所述内置编程接口模块能够被所述beans...

【技术特征摘要】

1.一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，所述测试流程开发模块和所述内置编程接口模块基于java和/或python编写实现，所述测试流程开发模块通过语法解析库工具对所述beanshell脚本的语法结构进行识别从而实现语法高亮、自动补全和代码提示功能，所述内置编程接口模块用于提供与所述相关硬件设备通讯的内置编程接口以控制硬件设备和进行数据分析，获取所述定制化测试算法后，java和/或python语言编写实现的所述测试流程开发模块和所述内置编程接口模块能够被所述beanshell解释器直接解释并运行。

3.根据权利要求1所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，其特征在于，获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯进一步包括：

4.根据权利要求3所述的基于解释型高级语言的半导体参数测试方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：许文政，章英杰，李淼，
申请(专利权)人：上海概伦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：