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本发明公开一种基于解释型高级语言的半导体参数测试方法及系统，方法包括以下步骤：获取当前测试的相关硬件设备，进行设备管理以实现与所述相关硬件设备的通讯；获取定制化测试算法，其中所述定制化测试算法是基于beanshell脚本调用系统中预置的测试...
该专利属于上海概伦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海概伦电子股份有限公司授权不得商用。

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