【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于集成电路计算机辅助设计，尤其涉及一种集成电路器件模型的参数调优方法、系统、设备及介质。
技术介绍
1、在模型参数的提取过程中，为了获取平滑的参数趋势，往往需要工程师根据提取经验进行一系列的参数调整，通过不断地调整参数以及对比结果获得一个较为良好的结果，即平滑的参数趋势，这通常需要开发人员通过手动调整，除了开发经验的要求，还需要花费大量的时间，每一个参数的调整可能都需要反复调整迭代，并且结果还不一定就好，基本上靠大量的“调整—结果检查—调整”迭代来获取想要的结果。对于参数调整过程中，参数的调整是没有明确的指向性的，因此在趋势得控制力上是不足的，就是不断地试错，直到遇到好的结果，从整个流程来看，这样的参数控制是复杂的、不清晰的。综上，传统参数控制逻辑复杂、效率低下，很难把握参数趋势及波动性的平衡。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是提供一种集成电路器件模型的参数调优方法、系统、设备及介质，解决传统参数控制逻辑复杂、效率低下，很难把握参数趋势及波动性的平衡的缺陷，通过拆分模型参数...
【技术保护点】
1.一种集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，所述通过优化器与仿真器的迭代进行二次优化进一步包括：
3.根据权利要求1所述的集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，所述目标参数包括模型内部模型表达式/方程式中的电压、电阻、温度、尺寸及共同作用来仿真器件电学行为的变量。
4.根据权利要求1所述的集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，所述目标参数趋势特征包括所有有效尺寸范围内都是同一个数值或者确保同一个尺寸依赖趋势，所述目标波动特征指不同...
【技术特征摘要】
1.一种集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，所述通过优化器与仿真器的迭代进行二次优化进一步包括：
3.根据权利要求1所述的集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，所述目标参数包括模型内部模型表达式/方程式中的电压、电阻、温度、尺寸及共同作用来仿真器件电学行为的变量。
4.根据权利要求1所述的集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，所述目标参数趋势特征包括所有有效尺寸范围内都是同一个数值或者确保同一个尺寸依赖趋势，所述目标波动特征指不同尺寸上参数彼此不同。
5.根据权利要求1所述的集成电路器件模型的参数调优方法，其特征在于，所述用于控制参数趋势的第一目标数据glo...
【专利技术属性】
技术研发人员：石凯，李永胜，贾博智，
申请(专利权)人：上海概伦电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。