温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种集成电路器件模型的参数调优方法、系统、设备及介质，所述方法包括以下步骤：提取器件模型的历史数据中的目标参数；对选取的目标参数进行拆分处理；分别对所述第一目标数据和所述第二目标数据的调整范围进行一次优化；分别将拆分后的所述第一目...
该专利属于上海概伦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海概伦电子股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。