System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种可视化建模方法及建模工具技术_技高网

一种可视化建模方法及建模工具技术

技术编号:41395372 阅读:2 留言:0更新日期:2024-05-20 19:18
本发明专利技术公开一种可视化建模方法及建模工具,所述建模方法包括以下步骤:加载测试数据,提取所述测试数据中器件的尺寸信息和测量项目组成测试数据源;加载模型数据,选取所述器件仿真所需要的模型名称,构成模型数据源;选取器件的尺寸信息和测量项目,基于从所述测试数据源和所述模型数据源中抽取数据以创建数据视图。该可视化建模方法及建模工具自定义一套行业语言可用来快速创建各种数据视图,能够通过数据源和数据视图呈现多套测量数据和模型仿真数据,以实现对不同类型数据进行分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于芯片设计,尤其涉及一种可视化建模方法及建模工具


技术介绍

1、半导体器件模型是连接代工厂和ic设计公司之间的桥梁。ic设计工程师在电路设计软件中调用的器件,包含了器件模型和版图的信息。只有精准的器件模型才可以保证精准的电路仿真结果。半导体器件的参数数据测量的实验结束后,将得到的测试数据导出为文本文件,集成电路建模软件导入文本文件进行进一步的拟合处理,要建立半导体器件模型,需要有足够多的测试数据,并且要能够包含足够多的尺寸、能够反应工艺条件的平均和边界的水平。

2、在建模的过程中,建模软件将得到的测试数据进行cv的拟合、iv的拟合以得到器件模型。但是,目前的建模软件无法对不同类型的数据进行分析,无法通过数据源(source)和数据视图(filter)呈现多套测量数据和模型仿真数据。


技术实现思路

1、为解决上述问题,本专利技术的目的是提供一种可视化建模方法及建模工具,该可视化建模方法及建模工具自定义一套行业语言可用来快速创建各种数据视图,能够通过数据源和数据视图呈现多套测量数据和模型仿真数据,以实现对不同类型数据进行分析。

2、本专利技术的技术方案为:一种可视化建模方法,包括以下步骤:加载测试数据,提取所述测试数据中器件的尺寸信息和测量项目组成测试数据源;加载模型数据,选取所述器件仿真所需要的模型名称,构成模型数据源;选取器件的尺寸信息和测量项目,基于从所述测试数据源和所述模型数据源中抽取数据以创建数据视图。

3、优选的,所述方法还包括预先设置数据视图模板,其中所述视图模板中预定义好数据源的数目和种类以及基于这些数据源创建的数据视图类型。

4、优选的,所述方法还包括:将预定义的测试数据源和模型数据源与真实的数据源进行匹配,以实现一步创建好所述数据视图模板中所有的数据视图。

5、优选的,加载模型数据,选取所述器件仿真所需要的模型名称,构成模型数据源进一步包括:加载模型数据,识别所述模型数据的格式;基于所述模型数据的格式获取模型数据中的参数分组,根据所述参数分组提取所述模型数据中的数据并整合成树型结构的数据以便于进行数据的处理和运用。

6、优选的,所述方法还包括:在数据加载过程中配置回调函数,以实现在加载数据时自动执行预置的回调函数以实现加载数据的同时自动生成所需的数据视图。

7、优选的,所述数据视图类型包括:sweep curve filter、sweep curve overlay、smith/polar chart、spec graph、spec table、statistical graph,mismatch,histogram,scatter、others,其中,sweep curve filter,用于iv/cv(sweep curve data)数据,sweepcurve overlay,不同类型filter叠图,smith/polar chart,用于射频数据,spec graph,用于spec数据,spec table,用于spec数据,statistical graph,mismatch,histogram,scatter,用于wat数据,others,包含其他带有叠图功能的数据视图。

8、基于相同的构思,本专利技术还提供一种可视化建模工具,包括:测试数据加载模块,用于加载测试数据,提取所述测试数据中器件的尺寸信息和测量项目组成测试数据源;模型数据加载模块,用于加载模型数据,选取所述器件仿真所需要的模型名称,构成模型数据源;视图创建模块,用于选取器件的尺寸信息和测量项目,基于从所述测试数据源和所述模型数据源中抽取数据以创建数据视图。

9、优选的,还包括:数据视图模板执行模块,用于将预定义的测试数据源和模型数据源与真实的数据源进行匹配,以实现一步创建好所述数据视图模板中所有的数据视图。

10、基于相同的构思,本专利技术还提供一种电子设备,其特征在于,包括:存储器,所述存储器用于存储处理程序;处理器,所述处理器执行所述处理程序时实现上述任意一项所述的建模方法。

11、基于相同的构思,本专利技术还提供一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有处理程序,所述处理程序被处理器执行时实现上述任意一项所述的建模方法。

12、本专利技术由于采用以上技术方案,使其与现有技术相比具有以下的优点和积极效果:

13、本专利技术中自定义一套行业语言可用来快速创建各种数据视图,能够通过数据源和数据视图呈现多套测量数据和模型仿真数据,以实现对不同类型数据进行分析。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种可视化建模方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的可视化建模方法,其特征在于,所述方法还包括预先设置数据视图模板,其中所述视图模板中预定义好数据源的数目和种类以及基于这些数据源创建的数据视图类型。

3.根据权利要求2所述的可视化建模方法,其特征在于,所述方法还包括:将预定义的测试数据源和模型数据源与真实的数据源进行匹配,以实现一步创建好所述数据视图模板中所有的数据视图。

4.根据权利要求1所述的可视化建模方法,其特征在于,加载模型数据,选取所述器件仿真所需要的模型名称,构成模型数据源进一步包括:

5.根据权利要求1所述的可视化建模方法,其特征在于,所述方法还包括:在数据加载过程中配置回调函数,以实现在加载数据时自动执行预置的回调函数以实现加载数据的同时自动生成所需的数据视图。

6.根据权利要求1所述的可视化建模方法,其特征在于,所述数据视图类型包括:SweepCurve Filter、Sweep Curve Overlay、Smith/Polar Chart、Spec Graph、Spec Table、Statistical Graph,Mismatch,Histogram,Scatter、Others,其中,Sweep Curve Filter,用于IV/CV(Sweep curve data)数据,Sweep Curve Overlay,不同类型filter叠图,Smith/Polar Chart,用于射频数据,Spec Graph,用于Spec数据,Spec Table,用于Spec数据,Statistical Graph,Mismatch,Histogram,Scatter,用于WAT数据,Others,包含其他带有叠图功能的数据视图。

7.一种可视化建模工具,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的可视化建模工具,其特征在于,还包括:

9.一种电子设备,其特征在于,包括:

10.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质上存储有处理程序,所述处理程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任意一项所述的可视化建模方法。

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【技术特征摘要】

1.一种可视化建模方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的可视化建模方法,其特征在于,所述方法还包括预先设置数据视图模板,其中所述视图模板中预定义好数据源的数目和种类以及基于这些数据源创建的数据视图类型。

3.根据权利要求2所述的可视化建模方法,其特征在于,所述方法还包括:将预定义的测试数据源和模型数据源与真实的数据源进行匹配,以实现一步创建好所述数据视图模板中所有的数据视图。

4.根据权利要求1所述的可视化建模方法,其特征在于,加载模型数据,选取所述器件仿真所需要的模型名称,构成模型数据源进一步包括:

5.根据权利要求1所述的可视化建模方法,其特征在于,所述方法还包括:在数据加载过程中配置回调函数,以实现在加载数据时自动执行预置的回调函数以实现加载数据的同时自动生成所需的数据视图。

6.根据权利要求1所述的可视化建模方法,其特征在于,所述数据视图类型包括:sweepcurve filter、sweep curve overlay、smith/polar c...

【专利技术属性】
技术研发人员:张凤英于萌左少华
申请(专利权)人:上海概伦电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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