一种双面射频测试夹具制造技术

本申请涉及一种双面射频测试夹具，包括：测试基座，具有用于容纳测试件的容纳槽，所述容纳槽的槽底具有用于测试测试件的下测试接口；测试顶座，盖设于所述测试基座上，其所述测试顶座上设置有用于测试测试件的上测试接口；锁定卡扣，用于锁定盖合于测试基座上的测试顶座；所述测试顶座具有至少两个导柱，所述测试基座具有供导柱对应穿设的限位区域。本申请可以较为高效的对封装芯片或电路板进行双面测试。试。试。

【技术实现步骤摘要】
一种双面射频测试夹具


[0001]本申请涉及TR芯片测试夹具的领域，尤其是涉及一种双面射频测试夹具。

技术介绍

[0002]随着通讯技术增进则使移动版图渐趋扩大，为求实时即地交流信息与服务，无线通讯发展遂成为全球半导体产业主流，然而无线通讯产品所必需的高频特性必得依赖射频集成电路(RFIC)来达成。为了保证射频集成电路满足产品质量要求，需要对射频集成电路进行调节和测试。
[0003]常规的测试装置只可对单面射频集成电路进行测试，无法测试双面列装焊盘或元器件的电路板或封装芯片，当上述的测试装置对双面板进行测试时，有些需要对电路板的两面进行分别测试，测试效率低下，对于双面同时协同工作的电路板甚至无法进行测试，所以急需一种可以对电路板的双面进行同时测试的测试装置。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的不足，本申请提供一种可以同时对封装芯片或电路板进行双面测试的双面射频测试夹具。
[0005]本申请提供的一种双面射频测试夹具采用如下的技术方案：
[0006]一种双面射频测试夹具，包括：
[0007]测试基座，具有用于容纳测试件的容纳槽，所述容纳槽的槽底具有用于测试测试件的下测试接口；
[0008]测试顶座，盖设于所述测试基座上，其所述测试顶座上设置有用于测试测试件的上测试接口；
[0009]锁定卡扣，用于锁定盖合于测试基座上的测试顶座；
[0010]所述测试顶座具有至少两个导柱，所述测试基座具有供导柱对应穿设的限位区域。
[0011]通过采用上述技术方案，通过在测试基座以及测试顶座上分设两种测试接口的方式可以同时对被测件的两面的接口进行同步测试。同时，这种导柱导向的方式可以保证测试基座与测试顶座的精准定位，从而使得每一测试接口都可以较为准确的与被测件上对应的测试点进行对接。此外，这种方式还可以方便将测试基座与测试顶座完全分离，从而方便被测件的放置与取出。
[0012]优选的，所述测试基座上设置有竖向滑移连接于限位区域中的活动柱，所述活动柱的底部抵接有弹性件，所述活动柱用于与导柱抵接。
[0013]通过采用上述技术方案，当锁定卡扣解锁时，通过导柱与活动柱的抵接，并在弹性件的复位作用下，推动测试顶座整体向上弹起，从而方便将测试顶座与测试基座进行相互分离。
[0014]优选的，所述测试基座上设置有安装孔，所述安装孔的内部设置有供导柱穿设的
导套，所述导套内区域为所述限位区域。
[0015]通过采用上述技术方案，导套的设置提高了对导柱的限位精度，提高了对位时的精准度。
[0016]优选的，所述活动柱包括滑移连接于安装孔中的第一阶梯部以及滑移连接于导套中的第二阶梯部，所述第一阶梯部被所述导柱限位于安装孔中。
[0017]通过采用上述技术方案，当测试基座与测试顶座完全分离时，活动柱会被导柱限制而并不会从限位区域中脱离出来，从而方便之后将测试基座与测试顶座安装后可以快速的再次安装。
[0018]优选的，所述测试基座上固定有用于限制所述导套的固定环。
[0019]优选的，所述测试基座包括下层测试座以及承载座，所述容纳槽位于所述下层测试座上，所述下测试接口包括设置于下层测试座上的信号针以及环绕所述信号针设置的接地针，所述承载座上设置有与信号针以及接地针接触的射频端子，所述信号针外套设有绝缘介质。
[0020]优选的，所述测试顶座包括顶板、上层测试座以及盖板，所述顶板供上层测试座安装且用于露出所述上层测试座的上测试接口，所述盖板与顶板相互连接并限制所述上层测试座；
[0021]所述上测试接口包括设置于所述上层测试座上的信号针以及环绕所述信号针设置的接地针，所述盖板上设置有与信号针以及接地针接触的射频端子，所述信号针外套设有绝缘介质。
[0022]优选的，所述绝缘介质包括位于所述信号针两端的端部绝缘子以及位于所述端部绝缘子之间的空气介质。
[0023]通过采用上述技术方案，空气介质的设置可以提高可容许传输的射频信号的频率，使得较高频率的射频信号也可以正常的通过信号针。
[0024]优选的，所述上层测试座的周向具有安装翻边，所述安装翻遍夹设于所述盖板与顶板之间，且所述盖板具有向顶板凸出的定位部，所述顶板具有供定位部穿设的定位槽。
[0025]通过采用上述技术方案，这种方式可以提高盖板安装位置的精度，使得盖板上的射频端子可以较为精确的与信号针以及接地针对接，同时也方便了对盖板进行固定。
[0026]优选的，所述信号针以及所述接地针为单动弹性探针或双动弹性探针。
[0027]综上所述，本申请公开的双面射频测试夹具可以较为高效的对具有双面测试点的测试件进行测试。
附图说明
[0028]图1是双面射频测试夹具的爆炸结构示意图。
[0029]图2是测试顶座的仰视图。
[0030]图3是测试基座的俯视图。
[0031]图4是图3中B
‑
B的剖视图。
[0032]图5是图4中C处的放大示意图。
[0033]图6是图2中A
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A的剖视图。
[0034]附图标记说明：1、测试基座；2、测试顶座；3、容纳槽；4、锁定卡扣；21、导柱；11、安
装孔；12、导套；121、限位区域；13、环形阶梯槽；14、固定环；111、大径段；112、小径段；15、活动柱；16、压缩弹簧；151、第一阶梯部；152、第二阶梯部；17、下层测试座；18、承载座；19、支座；51、信号针；52、接地针；53、绝缘介质；54、射频端子；55、同轴连接器；22、顶板；23、上层测试座；24、盖板；221、贯穿空间；231、安装翻边；222、固定槽；241、定位部；223、定位槽；531、端部绝缘子；532、空气介质。
具体实施方式
[0035]以下结合附图1
‑
6对本申请作进一步详细说明。
[0036]本申请实施例公开一种双面射频测试夹具。参照图1，双面射频测试夹具包括测试基座1以及测试顶座2，测试基座1上设置有用于容纳测试件的容纳槽3，测试基座1的周侧具有用于固定测试基座1与测试顶座2的锁定卡扣4，当测试件放置于容纳槽3中后，将测试顶座2盖合于测试基座1上并通过锁定卡扣4将测试顶座2与测试基座1之间进行固定，其中，容纳槽3的形状根据测试件的形状进行对应性的结构变化。测试基座1上设置有下测试接口，测试顶座2盖合于测试基座1上并设置有上测试接口，其中，下测试接口设置于容纳槽3的槽底处。当测试件放置于容纳槽3中并盖合测试基座1和测试顶座2之后，上测试接口和下测试接口分别与测试件上对应的检测点进行接触。此处，锁定卡扣4还可以设置于测试顶座2上，或是采用其他常规的锁定方式进行锁定。
[0037]参照图2和图3，测试顶座2朝向测试基座1的一侧周向设置有至少两个导柱21，测试基座1上具有供导柱21对应穿设的限位区域121，通过导柱21与限位区域121的相互匹本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双面射频测试夹具，其特征在于，包括：测试基座(1)，具有用于容纳测试件的容纳槽(3)，所述容纳槽(3)的槽底具有用于测试测试件的下测试接口；测试顶座(2)，盖设于所述测试基座(1)上，其所述测试顶座(2)上设置有用于测试测试件的上测试接口；锁定卡扣(4)，用于锁定盖合于测试基座(1)上的测试顶座(2)；所述测试顶座(2)具有至少两个导柱(21)，所述测试基座(1)具有供导柱(21)对应穿设的限位区域(121)。2.根据权利要求1所述的双面射频测试夹具，其特征在于：所述测试基座(1)上设置有竖向滑移连接于限位区域(121)中的活动柱(15)，所述活动柱(15)的底部抵接有弹性件，所述活动柱(15)用于与导柱(21)抵接。3.根据权利要求2所述的双面射频测试夹具，其特征在于：所述测试基座(1)上设置有安装孔(11)，所述安装孔(11)的内部设置有供导柱(21)穿设的导套(12)，所述导套(12)内区域为所述限位区域(121)。4.根据权利要求3所述的双面射频测试夹具，其特征在于：所述活动柱(15)包括滑移连接于安装孔(11)中的第一阶梯部(151)以及滑移连接于导套(12)中的第二阶梯部(152)，所述第一阶梯部(151)被所述导柱(21)限位于安装孔(11)中。5.根据权利要求3所述的双面射频测试夹具，其特征在于：所述测试基座(1)上固定有用于限制所述导套(12)的固定环(14)。6.根据权利要求1所述的双面射频测试夹具，其特征在于：所述测试基座(1)包括下层测试座(17)以及承载座(18)，所述容纳槽(3)位于所述下层测试座(17)上，所述下测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：林斌，董传众，冯冲，胡海民，詹昌吉，
申请(专利权)人：宁波吉品科技有限公司，
类型：新型
国别省市：