信号评估方法、信息记录/再现设备、信息再现设备以及信息记录介质技术

再现信号包括很可能出现识别错误的图形。对于这种图形，准备概率错误图形。准备示出正确图形和错误图形的表，计算正确表示信号质量的评估值。在采用ＰＲＭＬ方法的设备中，检验鉴别数据和多个预定位序列对（ＰＴ，ＰＦ）以检测匹配。计算位序列和相应的两个理想响应。获得两个理想响应与均衡信号之间的欧几里德距离（Ｅ↓［ＰＦ，Ｓ］，Ｅ↓［ＰＴ，Ｓ］），并进一步获得欧几里德距离之间的差值（Ｄ）。根据平均值、标准偏差、预定位序列的出现概率以及预定位序列对之间的汉明距离，计算再现信号的质量评估值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于评估从信息记录介质再现的信号的信号评估方法、信息记录/再现设备以及信息记录介质。更具体地说，本专利技术涉及对用于从信息记录介质再现信号并对再现信号进行评估的评估装置和评估方法所做的改进。
技术介绍
作为信息记录/再现设备执行的信号处理过程，本
内已知PRML(部分响应与最大似然性)鉴别方法。KOKAI第2002-358738号日本专利申请公开披露了一种在采用PRML鉴别方法的系统内，用于评估信号质量的技术。根据KOKAI公开披露的技术，准备差分测量分布(differentialmetric distribution)。根据差分测量分布是正态分布的假设，获得标准偏差σ和平均值μ。在正态分布的各部分中，检测到其峰值不大于0的部分，而且利用误差函数，根据标准偏差σ和平均值μ，计算检测部分的面积(差错率)。该正态分布不必精确。实际上是将多个不同的正态分布叠加在一起。这样做，不能准确估计差错率，而且不能评估信号质量。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是提供一种可以准确评估信号质量的方法。本专利技术还有一个目的是提供一种可以以高可靠性进行信号记录和再现的信息记录/再现设备。本专利技术的又一个目的是提供一种可以以高可靠性对其进行信息记录和再现的信息记录介质。总之，本专利技术涉及一种适用于采用PRML鉴别方法的信息记录/再现设备的方法，该方法包括步骤检测鉴别数据与多个预定位序列对之间的匹配；在检测到匹配时，计算位序列和相应的两个理想响应；获得两个理想响应与均衡信号之间的欧几里德距离；获得欧几里德距离之间的差值；获得欧几里德距离之间差值的平均值和标准偏差；以及根据平均值、标准偏差、预定位序列的出现概率以及预定位序列对之间的汉明距离，计算再现信号的质量评估值。应该注意，本专利技术并不局限于此，本专利技术包括如下所述的方法、设备和介质。下面的说明将对本专利技术的其他目的和优点进行说明，而且根据该说明，本专利技术的其他目的和优点将变得更加明显，或者通过实现本专利技术，可以得知本专利技术的其他目的和优点。利用在此特别指出的手段或组合，可以实现本专利技术的目的和优点。附图说明附图引入本说明书作为本说明书的一部分，它示出本专利技术的当前优选实施例，而且它与以上所做的一般说明和以下对优选实施例所做的详细说明一起用于解释本专利技术原理。图1是示出本专利技术的基本原理的波形图。图2是示出本专利技术的基本原理的分布曲线图。图3是示出本专利技术的一个实施例的方框图。图4是示出本专利技术如何操作的流程图。图5是示出本专利技术的另一个实施例的方框图。图6是示出本专利技术的又一个实施例的方框图。图7是示出本专利技术的进一步的实施例的方框图。图8是示出可以用于图6和7所示实施例中的第二评估值计算器的一个例子的方框图。图9是示出可以用于图6和7所示实施例中的第二评估值计算器的另一个例子的方框图。图10是示出可以用于图6和7所示实施例中的第二评估值计算器的又一个例子的方框图。具体实施例方式现在，将参考附图说明本专利技术的实施例，附图涉及信息记录/再现设备、信号评估方法以及信息记录介质。首先，将对本专利技术所基于的PRML鉴别方法进行说明。PRML鉴别方法利用PR(部分响应)特性，PR特性对应于记录/再现特性。作为例子，将参考PR(1，2，2，1)特性。PR(1，2，2，1)特性涉及对符号位“1”的响应是“1221”的情况。符号位序列与序列“1221”之间的卷积是一个响应。例如，对符号位序列“0010000”的响应是“0012210”。同样，对符号位序列“00110000”的响应是“00134310”，对符号位序列“001110000”的响应是“000135531”，以及对“00011110000”的响应是“00013565310”。符号位序列与响应之间的上述关系仅对理想PR特性适用。因此，将上述这种响应称为理想响应。由于实际响应含有噪声，所以ML(最大似然性)识别过程将含有噪声的响应与理想响应进行比较，然后，选择并输出对应于最短距离的理想响应。在ML鉴别过程中，欧几里德距离被用作为用于进行比较的距离。将序列A(＝A0A1...An)与序列B(＝B0B1...Bn)之间的欧几里德距离E2定义为E2＝∑(Ai-Bi)2接着，对长度N采样的所有理想响应与均衡信号(长度N采样)之间的欧几里德距离进行SAM计算。从经过计算的所有欧几里德距离中，选择最小值Emin和次最小值Enext。对选择的Emin和Enext，执行Emin2-Enext2(＝SAM)表示的计算过程。Emin2-Enext2的值越大，发生识别错误的可能性越小。下面将利用具体数字，进行详细说明。我们假定S1和S2代表长度9采样的均衡信号，而且它们具有以下内容S1＝S2＝使均衡信号S1和S2的欧几里德距离变成最短的理想响应是(即，位序列的理想响应)。同样，使均衡信号S1和S2的欧几里德距离变成次最短的理想响应是(即，位序列的输出)。以下对S1计算Emin2和Enext2。Emin2＝(6-5.9)2+(6-6.1)2+(6-5.9)2+…+(0-0.1)2＝0.08Enext2＝(6-5.9)2+(6-6.1)2+(5-5.9)2+…+(0-0.1)2＝8.88同样，以下对S2计算Emin2和Enext2。Emin2＝(6-5.8)2+(6-6.0)2+(6-5.8)2+…+(0-0.2)2＝0.36Enext2＝(6-5.8)2+(6-6.0)2+(5-5.8)2+…+(0-0.2)2＝7.76 对于S1，Emin2-Enext2的值为8.8，而对于S2，Emin2-Enext2的值为7.4。这意味着，对于S1，不大可能发生差错。如上所述，计算所需数量的SAM值，并根据它们，估计差错率。现在将说明如何估计差错率。在SAM值的分布中，将接近0的分布看作正态分布，然后，获得该正态分布的标准偏差σ和平均值μ。在正态分布的各部分中，检测其峰值不大于0的部分，然后，利用误差函数，根据标准偏差σ和平均值μ，计算检测部分的面积(差错率)。还是在这种情况下，SAM分布是多个具有不同标准偏差和平均值的正态分布的重叠，而且低于阈值Th的各值不形成正态分布。这样做，不能准确估计差错率，而且不能评估信号质量。因此，本专利技术意在提供一种可以实现更可靠评估的方法。在以下的说明中，将对PR特性是PR(1，2，2，2，1)特性，而调制码是(1，7)RLL码的情况进行说明。在详细说明特定实施例之前，说明本专利技术原理。首先，让我们对在PRML系统中，将给定的记录图形T错误地识别为另一个图形F的概率进行研究。假定利用S表示再现信号，而利用PT和PF表示图形T和F的理想信号(参考图1)，则可以将错误地将图形T识别为图形F的条件表示为D=EPF,S2-EPT,S2<0----(1)]]>EP1,P2=Σi(P1i-P2i)2-----(2)]]>在上面的数学公式中，EPF，S代表理想信号PF与再现信号S之间的欧几里德距离，EPT，S代表理想信号PT与再现信号S之间的欧几里德距离，EP1，P2代表信号P1与P2之间的欧几里德距离。假定累计D值的分布(参考图2)是正态分布，而且假定该正态分布的平均值和标准偏差分别为μ和σ，利用下式表示将T错误识别为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信号评估方法，配置该方法以便利用ＰＲＭＬ（部分响应和最大似然性）鉴别方法对从记录介质再现的再现均衡信号进行评估，所述方法包括步骤：检测（Ａ１，Ａ２）鉴别数据与不同组的多个预定位序列对之间的匹配；在检测到匹配时，计算（Ａ１ ，Ａ２）位序列（Ｓ）和相应的两个理想响应（ＰＴ，ＰＦ）；获得（Ａ３）两个理想响应（ＰＴ，ＰＦ）与均衡信号之间的欧几里德距离（Ｅ↓［ＰＦ，Ｓ］，Ｅ↓［ＰＴ，Ｓ］）；获得（Ａ３）欧几里德距离之间的差值（Ｄ）；获得（Ａ４， Ａ６）欧几里德距离之间差值的平均值和标准偏差；以及根据平均值、标准偏差、预定位序列的出现概率以及预定位序列对之间的汉明距离，计算（Ａ７）再现信号的质量评估值。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：柏原裕，长井裕士，大久保修一，小川雅嗣，中野正规，岩永敏明，
申请(专利权)人：株式会社东芝，日本电气株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]