用于测试闪速存储器的编程方法、装置及闪速存储器制造方法及图纸

本发明专利技术涉及闪速存储器技术领域，具体公开了一种用于测试闪速存储器的编程方法、装置及闪速存储器，其中，编程方法包括以下步骤：获取测试模式指令；根据所述测试模式指令生成奇偶位编程信息；根据所述奇偶位编程信息设定所述闪速存储器的页缓存电路的锁存数据，以使所述页缓存电路根据所述锁存数据对所述闪速存储器的存储器阵列进行编程；该编程方法生成奇偶位编程信息以设定闪速存储器的页缓存电路的锁存数据，使得闪速存储器的存储器阵列的存储数据能被快速编程为测试所需的数据类型，有效提高测试闪速存储器的测试效率，并能避免闪速存储器输入输出产生的串扰问题。存储器输入输出产生的串扰问题。存储器输入输出产生的串扰问题。

【技术实现步骤摘要】
用于测试闪速存储器的编程方法、装置及闪速存储器


[0001]本申请涉及闪速存储器
，具体而言，涉及一种用于测试闪速存储器的编程方法、装置及闪速存储器。

技术介绍

[0002]闪速存储器由于工艺及制造技术等原因存在一定的失效单元，在制造后一般需要进行测试筛选，测试过程中需要对闪速存储器写入固定数据进行数据校验或特定测试来判断闪速存储器是否存在缺陷，现有的写入固定数据的过程需要进行数据输入、编程处理，需要耗费较多时间，严重制约了闪速存储器的测试效率。
[0003]针对上述问题，目前尚未有有效的技术解决方案。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种用于测试闪速存储器的编程方法、装置及闪速存储器，减小编程数据写入所需的时间，以提高测试闪速存储器的测试效率。
[0005]第一方面，本申请提供了一种用于测试闪速存储器的编程方法，用于将闪速存储器的存储数据编程为测试所需的数据类型，所述方法包括以下步骤：获取测试模式指令；根据所述测试模式指令生成奇偶位编程信息；根据所述奇偶位编程信息设定所述闪速存储器的页缓存电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试闪速存储器的编程方法，用于将闪速存储器的存储数据编程为测试所需的数据类型，其特征在于，所述方法包括以下步骤：获取测试模式指令；根据所述测试模式指令生成奇偶位编程信息；根据所述奇偶位编程信息设定所述闪速存储器的页缓存电路的锁存数据，以使所述页缓存电路根据所述锁存数据对所述闪速存储器的存储器阵列进行编程。2.根据权利要求1所述的用于测试闪速存储器的编程方法，其特征在于，所述方法还包括执行于所述根据所述奇偶位编程信息设定所述闪速存储器的页缓存电路的锁存数据的步骤之前的步骤：清空所述页缓存电路的在先锁存数据。3.根据权利要求1所述的用于测试闪速存储器的编程方法，其特征在于，所述奇偶位编程信息包括奇数位信息和偶数位信息，所述根据所述奇偶位编程信息设定所述闪速存储器的页缓存电路的锁存数据的步骤包括：根据所述奇数位信息设定所述页缓存电路的所有奇数位锁存器的锁存数据；根据所述偶数位信息设定所述页缓存电路的所有偶数位锁存器的锁存数据。4.根据权利要求1所述的用于测试闪速存储器的编程方法，其特征在于，所述根据所述测试模式指令生成奇偶位编程信息的步骤包括：根据所述测试模式指令及预设的数据模式生成奇偶位编程信息。5.根据权利要求4所述的用于测试闪速存储器的编程方法，其特征在于，所述根据所述测试模式指令及预设的数据模式生成奇偶位编程信息的步骤包括：获取所述存储器阵列的待编程区域的奇偶页信息；根据所述测试模式指令、预设的数据模式及所述奇偶页信息生成奇偶位编程信息。6.根据权利要求5所述的用于测试闪速存储器的编程方法，其特征在于，所述获取所述存储器阵列的待编程区域的奇偶页信息的步骤包括：获...

【专利技术属性】
技术研发人员：虞安华，徐明揆，徐光明，
申请(专利权)人：芯天下技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：