【技术实现步骤摘要】
一种PVT法制备碳化硅装置及制备工艺
[0001]本专利技术涉及碳化硅生产
,特别是涉及一种PVT法制备碳化硅装置及制备工艺。
技术介绍
[0002]碳化硅作为第三代半导体材料,与第一代和第二代半导体材料相比,碳化硅等第三代半导体材料具有更宽的禁带宽度、更高的击穿场强、更高的热导率、更高的电子饱和率和更高的抗辐射能力,更适合制造高温、高频、大频率和抗辐射器件,可广泛应用于高压、高频、高温、高可靠性等领域,包括射频通信、雷达、卫星、电源管理、汽车电子、工业电力电子等。
[0003]碳化硅的制备方法主要为物理气相传输法(PVT)、液相法(LPE)、高温化学气相沉积(HTCVD)等,其中最成熟、最常用的方法为PVT,在典型的PVT制备碳化硅工艺中,坩埚由石墨制成,通过感应或电阻加热,放置适当的线圈和保温材料来建立和控制所需的温度梯度。原料粉末是碳化硅,籽晶也是碳化硅。坩埚垂直放置在籽晶下部,随着温度的升高,碳化硅粉料升华,气相组分在籽晶处凝结,最终长成碳化硅晶体。
[0004]目前利用PVT法制备的碳化硅单晶 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种PVT法制备碳化硅装置,其特征在于,包括炉体、保温层、生长坩埚、原料坩埚和多孔透气层;所述炉体内设置有所述保温层,所述保温层内设置有所述生长坩埚,所述原料坩埚位于所述生长坩埚内,所述多孔透气层设置于所述原料坩埚的顶部敞口处;所述炉体与一炉体真空系统相连通,所述生长坩埚底部与一坩埚真空系统相连通。2.根据权利要求1所述的PVT法制备碳化硅装置,其特征在于,所述炉体包括上炉盖、主炉体和下炉盖;所述主炉体为上下贯通的腔体结构;所述上炉盖设置于所述主炉体顶部,所述下炉盖设置于所述主炉体底部。3.根据权利要求2所述的PVT法制备碳化硅装置,其特征在于,所述主炉体为石英管,或,所述主炉体采用不锈钢材料制作,所述上炉盖和所述下炉盖均采用不锈钢制作。4.根据权利要求1所述的PVT法制备碳化硅装置,其特征在于,所述生长坩埚采用超高纯高密度等静压石墨制作,体积密度为1.84~1.95g/cm3,平均粒径为2~5μm;所述原料坩埚采用超高纯高密度等静压石墨或超高纯透气石墨制作,体积密度为小于或等于1.84g/cm3,平均粒径为3~10μm。5.根据权利要求1所述的PVT法制备碳化硅装置,其特征在于,所述多孔透气层为多孔石墨片和/或多孔金属碳化物片或表面设置有金属碳化物涂层的多孔石墨片,其中,所述多孔透气层为多孔石墨片和多孔金属碳化物片时,所述多孔石墨片和所述多孔金属碳化物片形状相同,所述多孔石墨片位于所述多孔金属碳化物片下方;所述多孔透气层厚度2~5mm,平均孔隙率20
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50%,平均孔径2~5μm。6.根据权利要求5所述的PVT法制备碳化硅装置...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘源,陈鹏飞,梁刚强,苗浩伟,
申请(专利权)人:北京清研半导科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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