电路连通性检测方法、设备和存储介质技术

本申请涉及电路检测技术领域，具体公开了一种电路连通性检测方法、设备和存储介质，其中，电路连通性检测方法包括：获取m个待检测电路，其中，m为大于或等于1的正整数；对m个待检测电路进行电路仿真，得到m个仿真电路，其中，m个待检测电路和m个仿真电路一一对应；采用比特数据对m个仿真电路进行连通性检测，以得到对m个待检测电路连通性检测的检测结果。对m个待检测电路连通性检测的检测结果。对m个待检测电路连通性检测的检测结果。

【技术实现步骤摘要】
电路连通性检测方法、设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片
，具体涉及一种电路连通性检测方法、设备和存储介质。

技术介绍

[0002]随着电子技术的发展，出现了功能各异的电子电路，这些电子电路及其组合最终所构成电子设备也深入现代人们生活的每个角落。但是，随着发展一同而来的是越来越复杂的电路结构，这使得对电子电路连通性的测试变得越来越困难。
[0003]传统的检验电路连通性的方式会在电路中添加辅助电路，通过观测电路输出波形来检测电路的连通性。但是，添加辅助电路的检测方式会增加电路的资源的消耗。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种简单、易操作、高效率的电路连通性检测方法、设备和存储介质。
[0005]第一方面，本申请的实施方式提供了一种电路连通性检测方法，包括：
[0006]获取m个待检测电路，其中，m为大于或等于1的正整数；
[0007]采用比特数据对m个待检测电路进行电路仿真，得到m个仿真电路，其中，m个待检测电路和m个仿真电路一一对应；
[0008]采用比特数据对m个仿真电路进行连通性检测，以得到对m个待检测电路连通性检测的检测结果。
[0009]第二方面，本申请的实施方式提供了一种电路连通性检测装置，包括：
[0010]电路获取模块，用于获取m个待检测电路，其中，m为大于或等于1的正整数；
[0011]电路仿真模块，用于对m个待检测电路进行电路仿真，得到m个仿真电路，其中，m个待检测电路和m个仿真电路一一对应；
[0012]检测模块，用于采用比特数据对m个仿真电路进行连通性检测，以得到m个待检测电路连通性检测的检测结果。
[0013]第三方面，本申请实施方式提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，计算机程序使得计算机执行如第一方面的方法。
[0014]第四方面，本申请实施方式提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，计算机可操作来使计算机执行如第一方面的方法。
[0015]实施本申请实施方式，具有如下有益效果：
[0016]可以看出，在本申请实施方式中，通过对需要进行测试的电路进行电路仿真，将需要进行测试的电路代码化，得到相应的仿真电路，继而在仿真电路的基础上采用比特数据对其连通性进行测试。由此，无需构建辅助电路即可实现对电路连通性的检测，降低了连通性测试中对电路的资源的消耗。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本申请实施方式中的技术方案，下面将对实施方式描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1为本申请实施方式提供的一种电路连通性检测方法的流程示意图；
[0019]图2为本申请实施方式提供的一种组合处理装置的结构示意图；
[0020]图3为本申请实施方式提供的一种板卡的结构示意图；
[0021]图4为本申请实施方式提供的一种在总电路中获取m个待检测电路的方法的流程示意图；
[0022]图5为本申请实施方式提供的一种确定与每个子电路匹配的标准电路数据的方法的流程示意图；
[0023]图6为本申请实施方式提供的一种电路连通性检测设备的功能单元组成框图；
[0024]图7为本申请实施方式提供的一种电子装置的结构示意图。
具体实施方式
[0025]下面将结合本申请实施方式中的附图，对本申请实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本申请一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本申请中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本申请保护的范围。
[0026]本申请的说明书和权利要求书及所述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0027]还应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施方式的目的，而并不意在限定本申请。如在本申请说明书和权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本申请说明书和权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0028]如在本说明书和权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
[0029]在本文中提及“实施方式”意味着，结合实施方式描述的特定特征、结果或特性可以包含在本申请的至少一个实施方式中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施方式，也不是与其它实施方式互斥的独立的或备选的实施方式。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施方式可以与其它实施方式相结合。
[0030]下面将结合图1所示的本申请实施方式提供的一种电路连通性检测方法的流程示
意图，具体说明在本申请实施方式中是如何实现对电路的连通性测试。
[0031]首先说明，本申请中的电路连通性检测方法可以应用到组合处理装置、芯片、电路板、精密电器的电路连通性检测等场景。
[0032]示例性的，图2是示出根据本申请实施方式的一种组合处理装置200的结构图。如图2中所示，该组合处理装置200包括计算处理装置202、接口装置204、其他处理装置206和存储装置208。根据不同的应用场景，计算处理装置中可以包括一个或多个计算装置210，该计算装置可以配置用于执行各种计算的操作。
[0033]在不同的实施方式中，本申请的计算处理装置可以配置成执行用户指定的操作。在示例性的应用中，该计算处理装置可以实现为单核人工智能处理器或者多核人工智能处理器。类似地，包括在计算处理装置内的一个或多个计算装置可以实现为人工智能处理器核或者人工智能处理器核的部分硬件结构。当多个计算装置实现为人工智能处理器核或人工智能处理器核的部分硬件结构时，就本申请的计算处理装置而言，其可以视为具有单核结构或者同构多核结构。
[0034]在示例性的操作中，本申请的计算处理装置可以通过接口装置与其他处理装置进行交互，以共同完成本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路连通性检测方法，其特征在于，所述方法包括：获取m个待检测电路，其中，m为大于或等于1的正整数；对所述m个待检测电路进行电路仿真，得到m个仿真电路，其中，所述m个待检测电路和所述m个仿真电路一一对应；采用比特数据对所述m个仿真电路进行连通性检测，以得到对所述m个待检测电路连通性检测的检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用比特数据对所述m个仿真电路进行连通性检测，以得到对所述m个待检测电路连通性检测的检测结果，包括：对于所述m个仿真电路中的每个仿真电路，分别将预设的初始数据输入所述每个仿真电路，得到m个输出数据，其中，所述m个仿真电路和所述m个输出数据一一对应，所述初始数据为所述比特数据；根据所述m个输出数据，确定所述m个待检测电路连通性检测的检测结果。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述m个输出数据，确定所述m个待检测电路连通性检测的检测结果，包括：将所述m个输出数据中的每个输出数据，分别与所述初始数据进行比对，得到m个比对结果，其中，所述m个比对结果与所述m个输出数据一一对应；若所述m个输出数据中的任意一个输出数据，与所述输出数据对应的初始数据满足第一关系，则确定与所述输出数据对应的比对结果用于标识与所述比对结果对应的所述仿真电路连通；若所述m个输出数据中的任意一个输出数据，与所述输出数据对应的初始数据不满足所述第一关系，则确定与所述输出数据对应的比对结果用于标识与所述比对结果对应的所述仿真电路不连通，并标记所述比对结果对应的所述仿真电路。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对于所述m个仿真电路中的每个仿真电路，分别将预设的初始数据输入所述每个仿真电路，得到m个输出数据，包括：若m大于第一阈值，则依次将预设的初始数据输入所述m个仿真电路中的每个仿真电路，得到所述m个输出数据；若m小于或等于所述第一阈值，则同时将预设的初始数据输入所述m个仿真电路中的每个仿真电路，得到所述m个输出数据。5.根据权利要求2
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4中任意一项所述的方法，其特征在于，所述初始数据为单比特数据。6.根据权利要求5所述的方法，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：安徽寒武纪信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：