一种测量治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测量治具，涉及测量治具技术领域，包括治具本体和基座，所述基座位于治具本体的底端，基座的上端连接有测量片，而测量片远离基座的一端连接有透镜片，通过基座边缘区域设计的缺口部，可以用于拆卸测量片以及透镜片，镂空部用于覆盖待检测产品，而采用叠层安装的测量片以及透镜片，可以用于不同产品尺寸的测量片安装以及不用倍数的透镜片安装，单颗产品测量区域限定产品贴装区域，当超出此区域时为坏品，透镜片选择用低倍放大镜片制成，透镜边放置于测量片上方，其到低倍放大镜功能，用于检测放大检测底部镂空部产品，可以省去普通检测中需要使用低倍放大镜检测产品缺陷.其检测手段更为方便。检测产品缺陷.其检测手段更为方便。检测产品缺陷.其检测手段更为方便。

【技术实现步骤摘要】
一种测量治具


[0001]本技术涉及测量治具
，特别是一种测量治具。

技术介绍

[0002]随着半导体行业的快速发展，硅麦产品芯片的封装过程.需要贴装金属盖以及金属盖上打印印章，每条基板上通常贴装有几百上千个金属盖，针对这些贴装后的金属盖产品以及打印印章后的产品，检验员再进行自检时需要借助放大镜逐一比对每颗产品贴装位置以及印章位置，此种检测方式给检验员带了大量的时间以精力，而且准确率不高，如今许多现有测量治具无透镜功能，并且无法实现更好不同尺寸的测量片，现提出一种检测治具，改善此问题。

技术实现思路

[0003]本部分的目的在于概述本技术的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和技术名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和技术名称的目的模糊，而这种简化或省略不能用于限制本技术的范围。
[0004]鉴于上述和/或现有的一种测量治具中存在的问题，提出了本技术。
[0005]因此，本技术所要解决的问题在于如何提供一种测量治具。
[0006]为解决上述技术问题，本技术提供如下技术方案：一种测量治具，包括治具本体和基座，所述基座位于治具本体的底端，基座的上端连接有测量片，而测量片远离基座的一端连接有透镜片；
[0007]所述基座的中间开设有镂空部，而基座的两侧对称开设有缺口部，并且基座的四角上端还焊接有定位件。
[0008]基于上述技术特征：镂空部用于覆盖待检测产品，而采用叠层安装的测量片以及透镜片，可以用于不同产品尺寸的测量片安装以及不用倍数的透镜片安装，通过测量片设计的定位孔以及测量产品区域，可以不同产品尺寸选择更换不同的测量片进行测量，单颗产品测量区域限定产品贴装区域，当超出此区域时为坏品，透镜片选择用低倍放大镜片制成，透镜边放置于测量片上方，其到低倍放大镜功能，用于检测放大检测底部镂空部产品，可以省去普通检测中需要使用低倍放大镜检测产品缺陷.其检测手段更为方便，通过基座边缘区域设计的缺口部，可以用于拆卸测量片以及透镜片。
[0009]作为本技术所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述定位件包括焊接在基座四角上端的定位柱，定位柱的中间开设有凹槽。
[0010]基于上述技术特征：定位柱用于上层测量片以及透镜片的安装，使二者可以叠加固定。
[0011]作为本技术所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述所述凹槽的一侧连接有第一抵紧板，而凹槽远离第一抵紧板的一侧连接有第二抵紧板。
[0012]基于上述技术特征：当对第一定位孔和第二定位孔贯穿后，定位柱中间将通过两侧的第一抵紧板和第二抵紧板对孔的内壁进行抵紧，避免定位柱贯穿第一定位孔和第二定位孔内侧后，二者之间的缝隙过大出现松动。
[0013]作为本技术所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述所述第一抵紧板与第二抵紧板呈半弧形对称状安装，并且二者与凹槽相匹配。
[0014]基于上述技术特征：呈半弧形设计可以使第一抵紧板与第二抵紧板贴合在孔的内壁上，当第一抵紧板与第二抵紧板被挤压时，二者将回缩到凹槽的内侧。
[0015]作为本技术所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述第一抵紧板与第二抵紧板的一侧连接有弹性件，并且二者通过弹性件与凹槽的内壁相连接。
[0016]基于上述技术特征：第一抵紧板和第二抵紧板可以通过弹性件自适应调节宽度直径，使二者可以对不同大小孔径的内壁进行抵紧。
[0017]作为本技术所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述测量片的四角开设有第一定位孔，而第一定位孔与定位柱相对齐。
[0018]基于上述技术特征：第一定位孔通过第一定位孔的内侧贯穿，使测量片可以固定在基座上。
[0019]作为本技术所述一种测量治具的一种优选方案，其中：所述透镜片的四角开设有第二定位孔，并且定位柱通过第一定位孔与第二定位孔的内侧进行贯穿。
[0020]基于上述技术特征：定位柱通过二者四角的第一定位孔和第二定位孔进行贯穿，方便拆卸以及更换不同倍数的透镜片。
[0021]本技术有益效果为：通过基座边缘区域设计的缺口部，可以用于拆卸测量片以及透镜片，设计的定位柱，用于上层测量片以及透镜片的安装，定位柱通过二者四角的第一定位孔和第二定位孔进行贯穿，当对第一定位孔和第二定位孔贯穿后，定位柱中间将通过两侧的第一抵紧板和第二抵紧板对孔的内壁进行抵紧，第一抵紧板和第二抵紧板可以通过弹性件自适应调节宽度直径，使二者可以对不同大小孔径的内壁进行抵紧，同时方便拆卸以及更换不同倍数的透镜片，镂空部用于覆盖待检测产品，而采用叠层安装的测量片以及透镜片，可以用于不同产品尺寸的测量片安装以及不用倍数的透镜片安装，使其作业通用性更强，通过测量片设计的定位孔以及测量产品区域，可以不同产品尺寸选择更换不同的测量片进行测量，单颗产品测量区域限定产品贴装区域，当超出此区域时为坏品，透镜片选择用低倍放大镜片制成，透镜边放置于测量片上方，其到低倍放大镜功能，用于检测放大检测底部镂空部产品，可以省去普通检测中需要使用低倍放大镜检测产品缺陷.其检测手段更为方便。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。其中：
[0023]图1为实例1中一种测量治具的结构图。
[0024]图2为实例1和实例2中一种测量治具的电治具本体拆分图。
[0025]图3为实例2中一种测量治具的定位件拆分图。
[0026]附图中，各标号所代表的部件列表如下：
[0027]100、治具本体；200、基座；201、镂空部；202、缺口部；203、定位件；203a、定位柱；203b、凹槽；203b
‑
1、第一抵紧板；203b
‑
2、第二抵紧板；203b
‑
21、弹性件；300、测量片；301、第一定位孔；400、透镜片；401、第二定位孔。
具体实施方式
[0028]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合说明书附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。
[0029]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是本技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似推广，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。
[0030]其次，此处所称的“一个实施例”或“实施例”是指可包含于本技术至少一个实现方式中的特定特征、结构或特性。在本说明书中不同地方出现的“在一个实施例中”并非均指同一个实施例，也不是单独的或选择性的与其他实施例互相排斥的实施例。
[00本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量治具，包括治具本体(100)和基座(200)，其特征在于：所述基座(200)位于治具本体(100)的底端，基座(200)的上端连接有测量片(300)，而测量片(300)远离基座(200)的一端连接有透镜片(400)；所述基座(200)的中间开设有镂空部(201)，而基座(200)的两侧对称开设有缺口部(202)，并且基座(200)的四角上端还焊接有定位件(203)。2.如权利要求1所述的一种测量治具，其特征在于：所述定位件(203)包括焊接在基座(200)四角上端的定位柱(203a)，定位柱(203a)的中间开设有凹槽(203b)。3.如权利要求2所述的一种测量治具，其特征在于：所述凹槽(203b)的一侧连接有第一抵紧板(203b
‑
1)，而凹槽(203b)远离第一抵紧板(203b
‑
1)的一侧连接有第二抵紧板(203b
‑
2)。4.如权利要求3所述的一种测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：李利，钟磊，何正鸿，
申请(专利权)人：甬矽电子宁波股份有限公司，
类型：新型
国别省市：