晶片外观检测仪制造技术

本实用新型专利技术旨在提供一种能自动补料和调节工作环境湿度，替代人工操作，大大提升检测效率和精度的晶片外观检测仪。它包括机台1、设置在机台1上的转盘2、振动上料盘3、晶片外观检测机构、下料吹气机构、良品收料机构以及不良品收料盘4，振动上料盘3、晶片外观检测机构、下料吹气机构依次设置在转盘2外侧，良品收料机构以及不良品收料盘4设置位置与下料吹气机构位置对应，振动上料盘3一侧还设置有螺纹补料机5以及感应摄像头6，感应摄像头6对准振动上料盘3并与螺纹补料机5电性连接，在转盘2中央设置有温湿度传感器7，在机台1上还设置有加湿器8，加湿器8与温湿度传感器7电性连接。本实用新型专利技术可应用于晶片加工领域。新型可应用于晶片加工领域。新型可应用于晶片加工领域。

【技术实现步骤摘要】
晶片外观检测仪


[0001]本技术涉及一种晶片加工设备，尤其涉及一种晶片外观检测仪。

技术介绍

[0002]石英晶体是硅石的一种，是目前世界上用量最大的晶体。利用石英晶体本身的物理特性制作的电子元件，具有很高的频率稳定性，广泛用于数字电路、计算机、通讯等领域。它的作用就是在电子线路中作为频率源或频率基准。随着通讯、电子技术的发展，对石英晶片的需求量也相应大幅度上升。天然的和人工制造的石英晶体都是六角锥形，具有各向异性的物理特性。晶振中的各种晶片，就是按照与各轴不同角度，切割成正方形、长方形、圆形的薄片，不同切型的晶片性能有所不同。石英晶片在晶片分频后需要进行外观的检测，外观检测的目的是剔除崩边、亮点、表面污染等影响晶体电性能的缺陷。传统的外观测试采用人工放大镜方式肉眼观察，检测速度慢、判断有误差，工作效率低；市面上的石英晶片检测仪器亦无法做到完全自动化，由于石英晶片加工需要在十万级无尘车间内进行，工作人员进入时需要穿戴工服、口罩、头罩、鞋套等等，如果检测仪器每次加料、调整湿度等均需要人工操作，效率将会非常低。
技术内容
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶片外观检测仪，它包括机台（1）、设置在所述机台（1）上的转盘（2）、振动上料盘（3）、晶片外观检测机构、下料吹气机构、良品收料机构以及不良品收料盘（4），所述振动上料盘（3）、所述晶片外观检测机构、所述下料吹气机构依次设置在所述转盘（2）外侧，所述良品收料机构以及所述不良品收料盘（4）设置位置与所述下料吹气机构位置对应，其特征在于：所述振动上料盘（3）一侧还设置有螺纹补料机（5）以及感应摄像头（6），所述感应摄像头（6）对准所述振动上料盘（3）并与所述螺纹补料机（5）电性连接，在所述转盘（2）中央设置有温湿度传感器（7），在所述机台（1）上还设置有加湿器（8），所述加湿器（8）与所述温湿度传感器（7）电性连接。2.根据权利要求1所述的晶片外观检测仪，其特征在于：所述螺纹补料机（5）包括机壳（51）、设置在所述机壳（51）正面并位于所述振动上料盘（3）上方的出料口（52）、设置在所述机壳（51）背面的进料口（53）以及设置在所述机壳（51）内并所述出料口（52）以及所述进料口（53）相连通的螺纹槽（54），所述螺纹槽（54）在电机驱动下与所述机壳（51）转动配合。3.根据权利要求1所述的晶片外观检测仪，其特征在于：所述晶片外观检测机构包括正面检测器（9）和反面检测器（10），所述正面检测器（9）包括固定设置在所述机台（1）上的第一支座（91）、设置在所述第一支座（91）上并位于所述转盘（2）上方的第一摄像头（92）以及第一光圈（93），所述第一摄像头（92）设置在所述第一光圈（93）上方并与...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢尚平，孙黎明，刘兴波，
申请(专利权)人：珠海东锦石英科技有限公司，
类型：新型
国别省市：