下载晶片外观检测仪的技术资料

文档序号:33409839

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本实用新型旨在提供一种能自动补料和调节工作环境湿度,替代人工操作,大大提升检测效率和精度的晶片外观检测仪。它包括机台1、设置在机台1上的转盘2、振动上料盘3、晶片外观检测机构、下料吹气机构、良品收料机构以及不良品收料盘4,振动上料盘3、晶片...
该专利属于珠海东锦石英科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过珠海东锦石英科技有限公司授权不得商用。

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