视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、检测系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种视觉缺陷检测的数据处理方法，包括当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射待测物的图像数据；将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间；将各个缓存空间的图像数据上传至上位机，以便上位机基于同一光场对应的图像数据拼接形成待测物的检测图像并进行待测物的缺陷分析。本申请中对待测物的同一位置的不同光场均进行一组图像数据的采集，避免因光照不合理导致缺陷在图像中显现不明显的问题；并将图像数据按照不同光场进行分区存储，减少了上位机的运算量。本申请还公开了一种视觉缺陷检测的数据处理装置、FPGA芯片以及视觉缺陷检测系统。检测系统。检测系统。

【技术实现步骤摘要】
视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、检测系统


[0001]本专利技术涉及视觉检测领域，特别是涉及一种视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、视觉缺陷检测系统。

技术介绍

[0002]视觉缺陷检测是利用相机拍摄扫描获得待测物表面的视觉图像，再基于图像识别技术分析获得待测物表面的缺陷信息。但在实际进行待测物的视觉图像采集拍摄时，往往会因为拍摄角度、光照角度等问题对待测物表面的缺陷的图像采集产生干扰。
[0003]为了更全面的采集待测物表面的图像信息，可以采用多个线阵相机从各个不同角度分别对待测物表面的图像进行拍摄，并在进行图像拍摄过程中控制线阵相机和待测物之间相对移动，进而获得待测物更清晰全面的视觉图像。但是这种图像采集方式必然也导致视觉图像的数据量相对较大，使得对视觉图像进行图像识别分析的上位机的运算压力相对较大。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、视觉缺陷检测系统，在提升待测物缺陷检测准确性的基础上，降低上位机的运算量。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种视觉缺陷检测的数据处理方法，包括：
[0006]当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据；
[0007]将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间；
[0008]将各个所述缓存空间的图像数据上传至上位机，以便所述上位机基于同一光场对应的所述图像数据拼接形成所述待测物的检测图像并进行所述待测物的缺陷分析。
[0009]在本申请的一种可选地实施例中，还包括：
[0010]预先划分和所述光场的光场数量相同数量的所述缓存空间。
[0011]在本申请的一种可选地实施例中，所述上位机接收到所述图像数据之后，还包括：
[0012]根据所述图像数据中每个光场对应的图像数据所占行数，分别读取各个光场对应的图像数据，以对各个光场分别对应的图像数据进行算法处理。
[0013]在本申请的一种可选地实施例中，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据，包括：
[0014]通过所述线阵相机摄像头采集每个位置的不同角度不同亮度的光场照射所述待测物的图像数据。
[0015]一种视觉缺陷检测的数据处理装置，包括：
[0016]数据采集模块，当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据；
[0017]数据缓存模块，用于将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空
间；
[0018]数据上传模块，用于将各个所述缓存空间的图像数据上传至上位机，以便所述上位机基于同一光场对应的所述图像数据拼接形成所述待测物的检测图像并进行所述待测物的缺陷分析。
[0019]一种FPGA芯片，应用于线阵相机，包括和线阵相机的CCD芯片相连接的Cam_If数据同步接收模块、TRowBuf数据缓存模块、多个FIFO单元、DDR内存数据读写模块、GigE网络接口；
[0020]所述Cam_If数据同步接收模块用于接收所述CCD芯片在线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据，并通过所述MM2S_Bridge总线桥传输至所述TRowBuf数据缓存模块；
[0021]所述TRowBuf数据缓存模块用于将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一所述FIFO单元中；
[0022]所述DDR内存数据读写模块用于读取不同光场分别对应的图像数据；并通过所述GigE网络接口上传至上位机，以便所述上位机基于同一光场对应的所述图像数据拼接形成所述待测物的检测图像并进行所述待测物的缺陷分析。
[0023]在本申请的一种可选地实施例中，所述Cam_If数据同步接收模块和所述TRowBuf数据缓存模块之间通过MM2S_Bridge总线桥相连接。
[0024]在本申请的一种可选地实施例中，还包括GigEVision协议打包模块，用于将所述DDR内存数据读写模块读取的所述图像数据进行打包，并通过GigE网络接口上传至上位机。
[0025]一种视觉缺陷检测系统，包括多个线阵相机，上位机，光源设备；每个所述线阵相机中分别内置有如上任一项所述的FPGA芯片，所述FPGA芯片用于实现如上任一项所述的视觉缺陷检测的数据处理方法的步骤；
[0026]其中，所述光源设备用于切换输出不同光场的照明光线；
[0027]每个所述线阵相机分别用于当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据，并上传至所述上位机；
[0028]所述上位机根据所述图像数据对所述待测物进行缺陷分析。
[0029]本专利技术所提供的视觉缺陷检测的数据处理方法，包括：当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射待测物的图像数据；将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间；将各个缓存空间的图像数据上传至上位机，以便上位机基于同一光场对应的图像数据拼接形成待测物的检测图像并进行待测物的缺陷分析。
[0030]本申请中在线阵相机的摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，针对每一位置，均对待测物提供多种不同的光照以形成多种不同的光场，并在同一位置的每种不同的光场条件下均进行一组图像数据的采集，进而在一定程度上避免光线照射方向或亮度的干扰导致某些缺陷无法在图像中显现的问题；在此基础上，为了减少上位机处理图像数据的运算量，每个线阵相机将图像数据上传至上位机之前，将图像数据按照不同光场进行分区存储，使得同一光场对应的图像数据能够拼接成一副完整的监测图像，使得上位机无需对每个线阵相机的各个光场的图像数据进行区分，在很大程度上减少了上位机的运算量，降低对上位机的运算能力的需求，进而降低视觉缺陷技术应用的成本。
[0031]本申请还公开了一种视觉缺陷检测的数据处理装置、FPGA芯片以及视觉缺陷检测系统。
附图说明
[0032]为了更清楚的说明本专利技术实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1为本申请实施例提供的一种视觉缺陷检测的数据处理方法的流程示意图；
[0034]图2为未进行分光场存储的图像数据存储分布的示意图；
[0035]图3为本申请实施例提供的一种图像数据存储分布的示意图；
[0036]图4为本专利技术实施例提供的视觉缺陷检测的数据处理装置的结构框图；
[0037]图5为本申请实施例提供的FP本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种视觉缺陷检测的数据处理方法，其特征在于，包括：当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据；将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间；将各个所述缓存空间的图像数据上传至上位机，以便所述上位机基于同一光场对应的所述图像数据拼接形成所述待测物的检测图像并进行所述待测物的缺陷分析。2.如权利要求1所述的视觉缺陷检测的数据处理方法，其特征在于，还包括：预先划分和所述光场的光场数量相同数量的所述缓存空间。3.如权利要求1所述的视觉缺陷检测的数据处理方法，其特征在于，所述上位机接收到所述图像数据之后，还包括：所述上位机根据所述图像数据中每个所述光场对应的图像数据所占行数，分别读取各个所述光场对应的图像数据，以对各个所述光场分别对应的图像数据进行算法处理。4.如权利要求1所述的视觉缺陷检测的数据处理方法，其特征在于，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据，包括：通过所述线阵相机摄像头采集每个位置的不同角度不同亮度的光场照射所述待测物的图像数据。5.一种视觉缺陷检测的数据处理装置，其特征在于，包括：数据采集模块，当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据；数据缓存模块，用于将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间；数据上传模块，用于将各个所述缓存空间的图像数据上传至上位机，以便所述上位机基于同一光场对应的所述图像数据拼接形成所述待测物的检测图像并进行所述待测物的缺陷分析。6.一种FPGA芯片，其特征在于，应用于线阵相机，包括和线阵相机的CCD芯片相连接的Cam_I...

【专利技术属性】
技术研发人员：李明，
申请(专利权)人：湖南迪普视智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：