视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、检测系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种视觉缺陷检测的数据处理方法，包括当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射待测物的图像数据；将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间；将各个缓存空间的图像数据上传至上位机，以便上位机基于同一光场对应的图像数据拼接形成待测物的检测图像并进行待测物的缺陷分析。本申请中对待测物的同一位置的不同光场均进行一组图像数据的采集，避免因光照不合理导致缺陷在图像中显现不明显的问题；并将图像数据按照不同光场进行分区存储，减少了上位机的运算量。本申请还公开了一种视觉缺陷检测的数据处理装置、FPGA芯片以及视觉缺陷检测系统。检测系统。检测系统。

【技术实现步骤摘要】
视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、检测系统


[0001]本专利技术涉及视觉检测领域，特别是涉及一种视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、视觉缺陷检测系统。

技术介绍

[0002]视觉缺陷检测是利用相机拍摄扫描获得待测物表面的视觉图像，再基于图像识别技术分析获得待测物表面的缺陷信息。但在实际进行待测物的视觉图像采集拍摄时，往往会因为拍摄角度、光照角度等问题对待测物表面的缺陷的图像采集产生干扰。
[0003]为了更全面的采集待测物表面的图像信息，可以采用多个线阵相机从各个不同角度分别对待测物表面的图像进行拍摄，并在进行图像拍摄过程中控制线阵相机和待测物之间相对移动，进而获得待测物更清晰全面的视觉图像。但是这种图像采集方式必然也导致视觉图像的数据量相对较大，使得对视觉图像进行图像识别分析的上位机的运算压力相对较大。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种视觉缺陷检测的数据处理方法、装置、FPGA芯片、视觉缺陷检测系统，在提升待测物缺陷检测准确性的基础上，降低上位机的运算量。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种视觉缺陷检测的数据处理方法，其特征在于，包括：当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据；将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间；将各个所述缓存空间的图像数据上传至上位机，以便所述上位机基于同一光场对应的所述图像数据拼接形成所述待测物的检测图像并进行所述待测物的缺陷分析。2.如权利要求1所述的视觉缺陷检测的数据处理方法，其特征在于，还包括：预先划分和所述光场的光场数量相同数量的所述缓存空间。3.如权利要求1所述的视觉缺陷检测的数据处理方法，其特征在于，所述上位机接收到所述图像数据之后，还包括：所述上位机根据所述图像数据中每个所述光场对应的图像数据所占行数，分别读取各个所述光场对应的图像数据，以对各个所述光场分别对应的图像数据进行算法处理。4.如权利要求1所述的视觉缺陷检测的数据处理方法，其特征在于，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据，包括：通过所述线阵相机摄像头采集每个位置的不同角度不同亮度的光场照射所述待测物的图像数据。5.一种视觉缺陷检测的数据处理装置，其特征在于，包括：数据采集模块，当线阵相机摄像头和待测物之间相对移动至不同位置时，通过所述线阵相机摄像头采集每个位置多个不同光场照射所述待测物的图像数据；数据缓存模块，用于将同一光场下采集的不同位置的图像数据存储在同一缓存空间；数据上传模块，用于将各个所述缓存空间的图像数据上传至上位机，以便所述上位机基于同一光场对应的所述图像数据拼接形成所述待测物的检测图像并进行所述待测物的缺陷分析。6.一种FPGA芯片，其特征在于，应用于线阵相机，包括和线阵相机的CCD芯片相连接的Cam_I...

【专利技术属性】
技术研发人员：李明，
申请(专利权)人：湖南迪普视智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：