【技术实现步骤摘要】
一种集成电路的测试板
[0001]本技术属于测试板
,具体涉及一种集成电路的测试板。
技术介绍
[0002]在芯片封装完成之后,通常会对芯片进行相应的性能测试。现有技术中,测试均是将待测芯片放置在测试板上,再通过引脚将待测芯片内的待测结构与测试机相连,从而对该待测结构进行相应的性能测试。
[0003]在对芯片进行测试时常常需要使用测试板,但现有的测试板在需要从储存箱内拿取时,十分不便,常常需要人将手伸入摸索,这就会导致测试板上集成电路的损坏,且测试板放置的储存箱也需要人手动进行关闭和开启,这就会导致储存箱关闭不严,和储存箱开启不便,因此影响工作人员的使用。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种集成电路的测试板,旨在解决现有技术中的测试板在需要从储存箱内拿取时,十分不便,常常需要人将手深入摸索,这就会导致测试板上集成电路的损坏,且测试板放置的储存箱也需要人手动进行关闭和开启,这就会导致储存箱关闭不严,和储存箱开启不便的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路的测试板,其特征在于,包括:储存箱(1),所述储存箱(1)的一端开始有多个抽屉槽,多个所述抽屉槽内均滑动连接有放置板(9),所述储存箱(1)的一侧设有电机(14);集成电路测试板主体,所述集成电路测试板主体设于其中一个放置板(9)的上端;自动推送机构,所述自动推送机构由传动组件和移动组件组成,所述移动组件由两个推送槽、两个推送杆(12)、L型连接杆(13)、丝杆(19)、丝杆螺母(21)和两个稳定环(20)组成,两个所述推送槽均开设于储存箱(1)的上端,两个所述推送杆(12)均固定连接于其中一个放置板(9)的上端,且两个推送杆(12)分别滑动连接于两个推送槽内,所述L型连接杆(13)贯穿两个推送杆(12)的圆周表面并向一侧延伸,两个所述稳定环(20)均固定连接于储存箱(1)的一端,所述丝杆(19)转动连接于两个稳定环(20)的圆周内壁,所述丝杆螺母(21)螺纹连接于丝杆(19)的圆周表面,所述L型连接杆(13)的一端固定连接于丝杆螺母(21)的上端,所述传动组件分别与电机(14)的输出端和丝杆(19)的一端相连接,以实现将电机(14)的动力传递至丝杆(19);以及自动开关机构,所述自动开关机构设于储存箱(1)的一侧,所述自动开关机构用于将储存箱(1)进行密封和开启。2.根据权利要求1所述的一种集成电路的测试板,其特征在于,所述传动组件由第一锥形齿轮(17)和第二锥形齿轮(18)组成,所述第一锥形齿轮(17)和第二锥形齿轮(18)分别固定连接于电机(14)的输出轴的圆周表面和丝杆...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈德拥,
申请(专利权)人:深圳德芯微电技术有限公司,
类型:新型
国别省市:
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