一种用于COS测试的夹具制造技术

本申请公开了一种用于COS测试的夹具。该夹具适应于固定COS中用于放置和连接芯片的辅助热沉，其中的第一接触件包括设置在其下端的第一接触脚以及第二接触脚，第一接触脚以及第二接触脚的底面为平面；第二接触件包括设置在其下端的第三接触脚以及第四接触脚，第三接触脚以及第四接触脚的底面为平面；散热板的顶面用于与辅助热沉的底面连接；压块的一端与第一接触件以及第二接触件的顶面连接，压块为绝缘材料；支撑块设置散热板的顶面上，压块的另一端可竖向移动地设置支撑块上。本申请能够提升芯片测试时的通电接触紧密度，提高测试的稳定性，并兼容光电性能测试、长期稳定性测试及使用寿命测试等测试设备的连接，具有很好的实用性和通用性。性和通用性。性和通用性。

【技术实现步骤摘要】
一种用于COS测试的夹具


[0001]本申请属于芯片测试
，具体涉及一种用于COS测试的夹具。

技术介绍

[0002]COS(Chip on Submount，带辅助热沉的高功率半导体激光器芯片)在性能表征过程中一般会进行两类测试：一是使用光电性能测试设备对COS的阈值电流、工作电压、出光功率、出射波长、光电转换效率、偏振度、发散角等多种参数进行测量，综合评估芯片的光电性能；二是使用老化测试设备对芯片的长期稳定性及使用寿命进行评价，对COS输送电流使其持续工作，通过对长时间工作过程中的芯片的出光功率、出光波长等参数进行监控、测试以及分析，来评估芯片产品的长期稳定性和使用寿命。
[0003]以上两项测试均需要将COS放置于特定的夹具或治具上后进行通电，目前通电的方式一般采用压针式，通过针形或者柱形电极与COS的电极接触完成电流的输送，此外，由于芯片的功率比较高在工作过程中会产生大量的热能，一旦温度超过芯片工作上限，会导致芯片的不可逆失效，因此一般还需将COS的底部与金属板接触，金属板再通过风冷或水冷降温，达到散热的目的，
[0004]目前行业中针对以上测量存在两个问题：一是随着芯片的出光功率越来越高，相应的电极接触要求越来越严苛，一旦电极接触达不到要求，如接触紧密度不够，或接触面积发生变化，将会导致接触电阻大幅提升，不仅降低电光转换效率，同时带来大量的热聚集，对芯片造成不可逆的损坏；二是相关的测量均采用COS为最小单位，在一种测试完成后需要将COS拆卸下来安装至另一种测试的夹具或治具上，在拆卸安装过程中极易对COS造成伤害，如腔面损伤或脏污，对产品造成不可逆损伤，降低测试效率，同时损坏样品，造成经济损失。

技术实现思路

[0005]本申请旨在至少能够在一定程度上解决芯片测试时的通电接触紧密度不够以及现有夹具不具有通用性的技术问题。为此，本申请提供了一种用于COS测试的夹具。
[0006]本申请的技术方案为：
[0007]本申请提供了一种用于COS测试的夹具，适应于固定COS中用于放置和连接芯片的辅助热沉，所述夹具包括:
[0008]第一接触件，包括设置在其下端的第一接触脚以及第二接触脚，所述第一接触脚以及所述第二接触脚的底面分别用于与所述辅助热沉顶面的阳极的两个接触面对应连接，所述第一接触脚以及所述第二接触脚的底面为平面；
[0009]第二接触件，包括设置在其下端的第三接触脚以及第四接触脚，所述第三接触脚以及所述第四接触脚的底面分别用于与所述辅助热沉顶面的阴极的两个接触面对应连接，所述第三接触脚以及所述第四接触脚的底面为平面；
[0010]散热板，所述散热板的顶面用于与所述辅助热沉的底面连接，所述第一接触件以
及所述第二接触件相对设置在所述散热板上；
[0011]压块，所述压块的一端与所述第一接触件以及所述第二接触件的顶面连接，所述压块为绝缘材料；
[0012]支撑块，设置在所述散热板的顶面上，所述压块的另一端可竖向移动地设置在所述支撑块上。
[0013]进一步地，所述支撑块沿竖向设置有滑槽，所述压块的另一端滑动设置在所述滑槽内。
[0014]进一步地，所述夹具还包括螺栓，所述压块的另一端开设有螺纹孔，所述螺栓穿过所述滑槽与所述螺纹孔连接。
[0015]进一步地，所述第一接触件的下端开设有弧形缺口，所述第一接触脚以及所述第二接触脚分别设置在所述弧形缺口的两侧。
[0016]进一步地，所述第二接触件的下端开设有弧形缺口，所述第三接触脚以及所述第四接触脚分别设置在所述弧形缺口的两侧。
[0017]进一步地，所述夹具还包括两个连接板，所述第一接触件以及所述第二接触件的顶面均分别与一个所述连接板的底面连接，所述连接板为导电材料。
[0018]进一步地，两个所述连接板之间连接有绝缘板。
[0019]进一步地，所述连接板的顶面与所述压块的底面连接。
[0020]进一步地，所述连接板上设置有用于与测试设备可拆卸连接的接口。
[0021]进一步地，所述支撑块的下端焊接在所述散热板的顶面上。
[0022]本申请实施例至少具有如下有益效果：
[0023]本申请所提出的一种用于COS测试的夹具，由于第一接触件包括设置在其下端的第一接触脚以及第二接触脚，第一接触脚以及第二接触脚的底面分别用于与辅助热沉顶面的阳极的两个接触面对应连接，第一接触脚以及第二接触脚的底面为平面，第二接触件包括设置在其下端的第三接触脚以及第四接触脚，第三接触脚以及第四接触脚的底面分别用于与辅助热沉顶面的阴极的两个接触面对应连接，第三接触脚以及第四接触脚的底面为平面，第一接触件以及第二接触件相对设置在散热板上，从而当测试设备与第一接触件和第二接触件连接时，第一接触件以及第二接触件与辅助热沉之间具有较大的接触面积，能够提升芯片测试时的通电接触紧密度，并能够降低电阻以降低温度，由于散热板的顶面与辅助热沉的底面连接，压块的一端与第一接触件以及第二接触件的顶面连接，压块为绝缘材料，支撑块设置在散热板的顶面上，压块的另一端可竖向移动地设置支撑块上，从而通过移动压块将第一接触件以及第二接触件压紧在辅助热沉的顶面上，以此进一步提升芯片测试时的通电接触紧密度。
[0024]综上所述，本申请所示的一种用于COS测试的夹具，能够提升芯片测试时的通电接触紧密度，提高测试的稳定性，具有很好的实用性。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附
图。
[0026]图1为本申请实施例的一种用于COS测试的夹具的结构示意图。
[0027]附图标记：
[0028]1‑
芯片；2
‑
辅助热沉；3
‑
第一接触件；4
‑
第二接触件；5
‑
散热板；6
‑
压块；7
‑
支撑块；8
‑
连接板；9
‑
绝缘板。
具体实施方式
[0029]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0030]此外，本申请可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本申请提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。
[0031]下面结合附图并参考具体实施例描述本申请：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于COS测试的夹具，适应于固定COS中用于放置和连接芯片(1)的辅助热沉(2)，其特征在于，所述夹具包括：第一接触件(3)，包括设置在其下端的第一接触脚以及第二接触脚，所述第一接触脚以及所述第二接触脚的底面分别用于与所述辅助热沉(2)顶面的阳极的两个接触面对应连接，所述第一接触脚以及所述第二接触脚的底面为平面；第二接触件(4)，包括设置在其下端的第三接触脚以及第四接触脚，所述第三接触脚以及所述第四接触脚的底面分别用于与所述辅助热沉(2)顶面的阴极的两个接触面对应连接，所述第三接触脚以及所述第四接触脚的底面为平面；散热板(5)，所述散热板(5)的顶面用于与所述辅助热沉(2)的底面连接，所述第一接触件(3)以及所述第二接触件(4)相对设置在所述散热板(5)上；压块(6)，所述压块(6)的一端与所述第一接触件(3)以及所述第二接触件(4)的顶面连接，所述压块(6)为绝缘材料；支撑块(7)，设置在所述散热板(5)的顶面上，所述压块(6)的另一端可竖向移动地设置在所述支撑块(7)上。2.如权利要求1所述的一种用于COS测试的夹具，其特征在于，所述支撑块(7)沿竖向设置有滑槽，所述压块(6)的另一端滑动设置在所述滑槽内。3.如权利要求2所述的一种用于COS测试的夹具，其特征在于，所述夹具还包括螺栓...

【专利技术属性】
技术研发人员：王威，安海岩，
申请(专利权)人：武汉锐晶激光芯片技术有限公司，
类型：新型
国别省市：