【技术实现步骤摘要】
由于本专利技术涉及到使用某些种用于光散射测量的激光器，所以下列与这些测量相关的美国专利被本文引用以供参考专利#4,541,719(85年9月17日)，专利技术名称为《用于表征微观粒子及测量它们对其周围介质的响应的方法和装置》；专利#4,548,500(85年10月22日)，专利技术名称为《识别或表征微小粒子的方法的装置》；专利#4,693,602(84年11月6日)，专利技术名称为《测量微小粒子光散射性质的方法和装置》；专利#4,710,025(87年12月1日)，专利技术名称为《用于表征细小粒子悬浮物的方法》；专利#4,907,884(90年3月13日)，专利技术名称为《样品监测系统》；专利#5,129,723(92年7月14日)，专利技术名称为《高性能齐姆色谱仪》；专利#Des 329,821(89年2月21日)，专利技术名称为《用光散射法测量液体悬浮物中的细微粒子的装置》。仔细测量从溶液中的分子以及从溶液中的细小粒子散射出的光是一种简便的和通用的实验室技术，用于测定它们的各种物理特征，例如对于分子来说是它的分子量和尺寸，对于粒子来说是它的尺寸和结构。如果与各种...
【技术保护点】
一种控制固有由于模式跳跃不稳定性而产生的噪声的激光源的方法，用于光散射测量，包括如下步骤： ａ）在比散射光信号的测量频率大大约１０－１０００倍的一个频率下并且按照一个小于该激光器的峰值电流水平的最大幅度对激光驱动电流进行调制； ｂ）将如此产生的激光输出光束分离出一部分并用一个光敏监测检测器检测所述分离部分光束以便借此得到所述输出光束功率的相应的测量值； ｃ）使用一个为滤去由于所述调制而产生的功率波动而选择的信号平均过滤器对由所述监测检测器所产生的信号取平均值； ｄ）按照一个或多角度检测受到所述调制过的激光束照射的样品所散射的光并且用一个大致相当于为滤...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：戴维T菲利浦斯，加里R詹尼克，
申请(专利权)人：怀特技术公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
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