静态光散射纳米颗粒粒度测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种静态光散射纳米颗粒粒度测量装置，属于粒度分析仪器领域，其结构包括激光器、流动样品池、柱面透镜、条形阵列光电探测器，流动样品池为四面透光的空心矩形立方体，激光器位于流动样品池的窄透光面一侧，柱面透镜附着在流动样品池的宽透光面上，条形阵列光电探测器位于柱面透镜的焦平面上，且柱面透镜和条形阵列光电探测器组成的探测系统的光轴与激光束互相垂直，在同一个子午平面内。本实用新型专利技术的特点是专门探测颗粒的前侧向和后侧向散射光的能量分布，因此适用于静态光散射纳米颗粒粒度分析。测试散射光范围45度至135度。可测量的粒度范围为10纳米至5000纳米。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种粒度分析仪器，具体地说是一种静态光散射纳米颗粒粒度测量装置。
技术介绍
目前，静态光散射激光粒度仪的粒度测量范围在100纳米以上。为了测量更小纳米颗粒，人们通常采用结构复杂的多光束技术或者动态光散射原理的仪器。
技术实现思路
本技术的技术任务是针对现有技术的不足，提供一种光路结构，可以有效测量纳米和亚微米颗粒粒度的静态光散射纳米颗粒粒度测量装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是静态光散射纳米颗粒粒度测量装置，包括激光器、流动样品池、柱面透镜、条形阵列光电探测器，流动样品池为四面透光的空心矩形立方体，激光器位于流动样品池的窄透光面一侧，柱面透镜附着在流动样品池的宽透光面上，条形阵列光电探测器位于柱面透镜的焦平面上，且柱面透镜和条形阵列光电探测器组成的探测系统的光轴与激光束互相垂直，在同一个子午平面内。上述静态光散射纳米颗粒粒度测量装置，其激光器发出的激光束为平行光束，其形状呈圆柱形或片状。上述静态光散射纳米颗粒粒度测量装置，其流动样品池的空心部分厚度为3-10毫米。本技术的静态光散射纳米颗粒粒度测量装置与现有技术相比，所产生的有益效果是(1)结构简单，体积小、动态测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：任中京，于代君，
申请(专利权)人：济南微纳颗粒仪器股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：