一种磁吸式测量辅助装置和测量孔精度的方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种磁吸式测量辅助装置和测量孔精度的方法，用于测量岸桥前大梁构件上的多个铰点孔的坐标加工余量线，包括支撑结构和穿设于支撑结构内的测量棒，支撑结构包括：导向机构，导向机构包括两根平行设置的导杆；磁力座，磁力座一端与导杆固定连接，另一端用于固定在前大梁构件上；调节机构，调节机构与导杆滑动连接，调节机构中心设置有可浮动的轴承，轴承上形成有安装孔；测量棒穿设在调节机构的安装孔中，测量棒一端形成有用于安装棱镜的碗状孔。本发明专利技术的测量辅助装置通过将带有棱镜的测量棒放置在测量辅助装置上，只需将全站仪放置在固定位置即可测量多个铰点孔的坐标加工余量线，省时省力，方便快捷。方便快捷。方便快捷。

【技术实现步骤摘要】
一种磁吸式测量辅助装置和测量孔精度的方法


[0001]本专利技术涉及结构测量
，具体涉及一种磁吸式测量辅助装置和测量孔精度的方法。

技术介绍

[0002]岸桥前大梁的拉杆以及铰点孔分别处于前大梁组件的前、中、后三个位置上，由于测量以及加工所造成的误差直接影响岸桥组装的质量，因此对拉杆以及铰点孔的测量精度要求较高。目前对前大梁组件上三个位置的铰点孔均采用激光测量并进行划线以测量其加工余量线，但由于三个位置的铰点孔距相对较远，在测量时需多次架设测量仪器才能划出铰点孔的X、Y、Z坐标加工余量线，费时费力。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术提供一种磁吸式测量辅助装置和测量孔精度的方法，用以解决上述测量方式费时费力、误差较大的问题。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术采用以下技术方案：
[0005]本专利技术实施例的一种磁吸式测量辅助装置，用于测量岸桥前大梁构件上的多个铰点孔的坐标加工余量线，包括支撑结构和穿设于支撑结构内的测量棒，支撑结构包括：
[0006]导向机构，导向机构包括两根平行设置的导杆；
[0007]磁力座，磁力座一端与导杆固定连接，另一端用于固定在前大梁构件；
[0008]调节机构，调节机构与导杆滑动连接，调节机构中心设置有可浮动的轴承，轴承上形成有安装孔；
[0009]测量棒穿设在调节机构的安装孔中，测量棒一端形成有用于安装棱镜的碗状孔。
[0010]在本专利技术的一个实施例中，支撑结构包括对称设置的两个，两个支撑结构用于分别固定在前大梁构件的两侧，或分别固定在两个前大梁构件的两侧。
[0011]在本专利技术的一个实施例中，磁力座的一侧设有第一安装槽，第一安装槽内设有用于开启/关闭磁力的磁力开关。
[0012]在本专利技术的一个实施例中，磁力座包括两个，两个磁力座对称设置在导杆的两端。
[0013]在本专利技术的一个实施例中，调节机构包括：
[0014]端盖，端盖中心开设有第二安装槽，端盖用于与导杆通过导杆架固定连接，轴承设置在第二安装槽内；
[0015]四个顶板，四个顶板对称设置在第二安装槽的周向上，顶板上开设有通孔；
[0016]四组调节件，四组调节件分别设置在四个顶板背离第二安装槽的一侧，调节件包括调节螺栓和调节螺母，调节螺栓穿设在调节螺母和顶板的通孔中，用于沿调节螺母旋紧或旋松，以使调节螺栓一端与轴承接触。
[0017]本专利技术还提供一种测量孔精度的方法，应用于上述任一实施例中的磁吸式测量辅助装置，方法包括：
[0018]将支撑结构安装在前大梁构件上铰点孔的两侧；
[0019]将测量棒插入设置在铰点孔两侧的两个调节机构上的安装孔中，并在测量棒的碗状孔中安装棱镜；
[0020]使用导杆和调节机构将测量棒移动至铰点孔的中心位置；
[0021]使用全站仪照射测量棒上的棱镜以得出铰点孔的坐标加工余量线。
[0022]在本专利技术的一个实施例中，将支撑结构安装在前大梁构件上铰点孔的两侧，包括：
[0023]在测量单孔构件时，将磁吸式测量辅助装置的两个导向机构分别竖直设置在单孔构件上铰点孔的两侧并进行对正；
[0024]打开四组磁力座上的磁力开关，以使两个导向机构吸附在铰点孔的两侧。
[0025]在本专利技术的一个实施例中，将支撑结构安装在前大梁构件上铰点孔的两侧，包括：
[0026]在测量多孔构件时，将磁吸式测量辅助装置的两个导向机构分别竖直设置在多孔构件两端的两个铰点孔的外侧并进行对正；
[0027]打开四组磁力座上的磁力开关，以使两个导向机构吸附在多孔构件两端的两个铰点孔的外侧。
[0028]在本专利技术的一个实施例中，使用导杆和调节机构将测量棒移动至铰点孔的中心位置，包括：
[0029]使用激光测量仪定位铰点孔的中心位置；
[0030]通过导杆对调节机构进行竖直方向上的移动以使测量棒位于铰点孔的中心；
[0031]通过调节机构上的四组调节件对测量棒进行水平和竖直方向上的微调以使测量棒准确移动至铰点孔的中心。
[0032]在本专利技术的一个实施例中，使用全站仪照射测量棒上的棱镜以得出铰点孔的坐标加工余量线，包括：
[0033]在前大梁的多个铰点孔上分别设置多个磁吸式测量辅助装置；
[0034]使用全站仪依次照射多个测量棒上的棱镜以得出多个铰点孔的坐标加工余量线。
[0035]本专利技术的上述技术方案至少具有如下有益效果之一：
[0036]1、本专利技术的磁吸式测量辅助装置，通过将设置有棱镜的测量棒固定至支撑结构上，将测量仪器设置在固定位置，即可测量多个铰点孔的坐标加工余量线，有效节省了测量时间，省时省力；
[0037]2、本专利技术的磁吸式测量辅助装置，在支撑结构上设置有导向机构和调节机构，分别用于调整测量棒在竖直方向上的位置和对测量棒的位置进行微调，使得测量棒准确位于铰点孔的中心位置，有效提升了测量的精确性。
附图说明
[0038]图1为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置安装在单孔构件上的结构示意图；
[0039]图2为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置安装在多孔构件上的结构示意图；
[0040]图3为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置的侧视图；
[0041]图4为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置的安装位置示意图；
[0042]图5为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置的磁力座的主视图；
[0043]图6为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置的磁力座的剖视图；
[0044]图7为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置的调节机构的安装示意图；
[0045]图8为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置的调节机构的结构示意图；
[0046]图9为本专利技术实施例的磁吸式测量辅助装置的安装示意图；
[0047]图10为本专利技术实施例的测量孔精度的方法的流程图。
[0048]附图标记：100、前大梁构件；110、导杆；120、磁力座；121、磁力开关；200、测量棒；201、碗状孔；210、导杆架；300、调节机构；310、轴承；320、端盖；330、顶板；340、调节件；341、调节螺栓；342、调节螺母；400、棱镜；500、前大梁；510、铰点孔；520、全站仪。
具体实施方式
[0049]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例的附图，对本专利技术实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。应用于所描述的本专利技术的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0050]除非另作定义，本专利技术中使用的技术术语或者科学术语应当为本专利技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本专利技术中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁吸式测量辅助装置，用于测量岸桥前大梁构件上的多个铰点孔的坐标加工余量线，其特征在于，包括支撑结构和穿设于所述支撑结构内的测量棒，所述支撑结构包括：导向机构，所述导向机构包括两根平行设置的导杆；磁力座，所述磁力座一端与所述导杆固定连接，另一端用于固定在所述前大梁构件上；调节机构，所述调节机构与所述导杆滑动连接，所述调节机构中心设置有可浮动的轴承，所述轴承上形成有安装孔；所述测量棒穿设在所述调节机构的所述安装孔中，所述测量棒一端形成有用于安装棱镜的碗状孔。2.根据权利要求1所述的磁吸式测量辅助装置，其特征在于，所述支撑结构包括对称设置的两个，两个所述支撑结构用于分别固定在所述前大梁构件的两侧，或分别固定在两个所述前大梁构件的两侧。3.根据权利要求2所述的磁吸式测量辅助装置，其特征在于，所述磁力座的一侧设有第一安装槽，所述第一安装槽内设有用于开启/关闭磁力的磁力开关。4.根据权利要求2所述的磁吸式测量辅助装置，其特征在于，所述磁力座包括两个，两个所述磁力座对称设置在所述导杆的两端。5.根据权利要求1所述的磁吸式测量辅助装置，其特征在于，所述调节机构包括：端盖，所述端盖中心开设有第二安装槽，所述端盖用于与所述导杆通过导杆架固定连接，所述轴承设置在所述第二安装槽内；四个顶板，四个所述顶板对称设置在所述第二安装槽的周向上，所述顶板上开设有通孔；四组调节件，四组所述调节件分别设置在四个所述顶板背离所述第二安装槽的一侧，所述调节件包括调节螺栓和调节螺母，所述调节螺栓穿设在所述调节螺母和所述顶板的所述通孔中，用于沿所述调节螺母旋紧或旋松，以使所述调节螺栓一端与所述轴承接触。6.一种测量孔精度的方法，其特征在于，应用于权利要求1所述的磁吸式测量辅助装置，所述方法包括：将所述支撑结构...

【专利技术属性】
技术研发人员：王志利，张贇，邹成凯，周金花，周杰锋，陈平森，
申请(专利权)人：上海振华重工集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：