【技术实现步骤摘要】
结合真空吸附的静电吸附机构
[0001]本技术涉及一种半导体工艺制备领域,特别是涉及一种结合真空吸附的静电吸附机构。
技术介绍
[0002]在半导体工艺制备过程中,真空吸附机构中晶圆(或其他产品)需要靠真空吸附的气压压力固定在吸盘上进行作业。真空吸附机构的腔体未作业时是在大气压状态下,开始作业时真空吸附开启,此时晶圆受到气压压力的束缚,吸附在真空吸盘上;当腔体抽真空后,晶圆晶背和晶面的压力形成平衡,晶圆受到向下的压力减小或消失,真空吸盘吸附不牢固,作业时容易导致晶圆翘曲,严重影响产线运行及产品良率。另外,随着半导体芯片制造技术的飞速发展,晶圆的尺寸越来越大,单个晶圆上制作的芯片数量越来越多,器件的集成密度也越来越大,这也导致晶圆的翘曲度问题越来越突出,导致对晶圆的吸附难度加大,而给晶圆的后续作业带来不便。
[0003]鉴于以上,有必要提供一种结合真空吸附的静电吸附机构,来应对各种差异性工艺半导体产品,以解决现有技术中腔体抽真空后,吸盘吸附不牢固导致产品翘曲;以及对翘曲产品吸附难度大的问题。
技术实现思路
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种结合真空吸附的静电吸附机构,其特征在于,所述静电吸附机构包括:静电吸盘,所述静电吸盘上设置有依次嵌套的沿周向分布的两个以上吸附槽,其中,至少一个所述吸附槽内设置有橡胶圈,以实现对待作业产品进行真空预吸附和静电主吸附;静电吸附电路及真空吸附电路,分别与所述静电吸盘电连接;控制器,与所述静电吸附电路及所述真空吸附电路电连接,以对所述静电吸附电路及所述真空吸附电路分别进行控制。2.根据权利要求1所述的结合真空吸附的静电吸附机构,其特征在于:所述待作业产品为晶圆。3.根据权利要求1所述的结合真空吸附的静电吸附机构,其特征在于:所述静电吸盘的材质为氮化铝陶瓷。4.根据权利要求1所述的结合真空吸附的静电吸附机构,其特征在于:所述静电吸盘上表面的形状为圆形;所述吸附槽的形状为圆环。5.根据权利要求4所述的结合真空吸附的静电吸附机构,其特征在于:所述吸附...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱海洋,王维斌,薛兴涛,林正忠,李飞,崔尚坤,李龙祥,
申请(专利权)人:盛合晶微半导体江阴有限公司,
类型:新型
国别省市:
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