一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备技术

本申请涉及一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备，涉及色谱仪技术领域，该方法包括以下步骤：提取目标色谱仪按照预设检测参数对预设检测物进行检测获得的第一色谱图；获取目标色谱仪在出厂时按照预设检测参数对预设检测物检测获得的标准色谱图；将第一色谱图的色谱峰与标准色谱图对应的色谱峰进行比对，筛选获得可修正高度差；基于可修正高度差，计算获得对应的高度修正值，对目标色谱仪检测待检测物获得的检测色谱图的色谱峰进行修正。本申请基于预设检测物和预设检测参数进行检测，根据各色谱峰的高度差异分析掌握色谱仪的设备误差状况，对色谱仪后续的日常色谱分析工作进行修正，在一定程度上提高色谱仪的检测准确性和可靠性。和可靠性。和可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及色谱仪
，具体涉及一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]现阶段，色谱仪广泛应用于对试样中的成分进行鉴定或者定量。色谱仪在对试样进行分析时，检测获得对应的色谱图，基于色谱图的色谱峰峰的位置进行成分鉴定，基于色谱峰的面积、高度对该成分进行定量分析。
[0003]随着色谱仪的日常使用，色谱仪可能由于使用习惯或存放环境造成一定的设备老化或设备损坏，从而造成一定的检测误差。若获得的色谱图出现明显的检测误差，则会导致最终获得误差较大的分析结果。
[0004]因此，为避免色谱仪因长期使用造成的检测误差，现提供一种色谱检测修正技术。

技术实现思路

[0005]本申请提供一种色谱检测修正方法、存储介质及电子设备，基于预设检测物和预设检测参数进行检测，根据各色谱峰的高度差异分析掌握色谱仪的设备误差状况，对色谱仪后续的日常色谱分析工作进行修正，在一定程度上提高色谱仪的检测准确性和可靠性。
[0006]第一方面，本申请提供了一种色谱检测修正方法，所述方法包括以下步骤：响应色谱仪修正指令，提取目标色谱仪按照预设检测参数对预设检测物进行检测获得的第一色谱图；获取所述目标色谱仪在出厂时按照预设检测参数对预设检测物检测获得的标准色谱图；将所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰进行比对，获得所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度差，并筛选获得可修正高度差；基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值；基于所述高度修正值，对所述目标色谱仪检测待检测物获得的检测色谱图的色谱峰进行修正。
[0007]具体的，基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值中，所述方法包括以下步骤：基于所述可修正高度差，计算获得对应的可修正高度差平均值；将所述可修正高度差与所述可修正高度差平均值进行比对，筛除差值超过可修正第一差值的所述可修正高度差，获得对应的二次筛选可修正高度差；基于所述二次筛选可修正高度差，计算获得对应的二次筛选可修正高度差中位数；基于所述二次筛选可修正高度差中位数，获得所述高度修正值。
[0008]具体的，基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值中，所述方法包括以下步骤：基于所述可修正高度差的最大值和最小值，获得可修正高度差区间；将所述可修正高度差区间拆分为多个可修正高度差子区间；筛除所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差的个数小于预设的第一区间个数的所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差，将剩余的所述可修正高度差记作剩余可修正高度差；基于所述剩余可修正高度差，计算获得所述高度修正值。
[0009]具体的，基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值中，所述方法包括以下步骤：基于所述可修正高度差的最大值和最小值，获得可修正高度差区间；将所述可修正高度差区间拆分为多个可修正高度差子区间；筛除所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差的个数小于预设的第一区间个数的所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差，将剩余的所述可修正高度差记作剩余可修正高度差；基于所述剩余可修正高度差，计算获得对应的剩余可修正高度差平均值；将所述剩余可修正高度差与所述剩余可修正高度差平均值进行比对，筛除差值超过可修正第一差值的所述剩余可修正高度差，获得对应的二次筛选剩余可修正高度差；基于所述二次筛选剩余可修正高度差，计算获得对应的二次筛选剩余可修正高度差中位数；基于所述二次筛选剩余可修正高度差中位数，获得所述高度修正值。
[0010]进一步的，所述方法还包括以下步骤：当所述第一色谱图中的色谱峰均高于所述标准色谱图中对应的色谱峰，且对应的高度差与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度的比值均小于第一高度比值时，基于各所述高度差计算获得所述可修正高度差，并结合所述第一高度比值对应的修正系数，计算获得对应的高度修正值；当所述第一色谱图中的色谱峰均低于所述标准色谱图中对应的色谱峰，且所述高度差与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度的比值均小于第二高度比值时，基于各所述高度差计算获得所述可修正高度差，并结合所述第二高度比值对应的修正系数，计算获得对应的高度修正值。
[0011]进一步的，提取目标色谱仪按照预设检测参数对预设检测物进行检测获得的第一色谱图之前，所述方法还包括以下步骤：实时记录所述目标色谱仪的使用次数，当所述目标色谱仪的使用次数超过预设的使用修正阈值时，生成所述色谱仪修正指令。
[0012]进一步的，所述方法还包括色谱图标准化流程，所述色谱图标准化流程包括以下步骤：对所述第一色谱图以及所述标准色谱图进行标准化处理；其中，标准化后的所述第一色谱图以及所述标准色谱图的纵坐标和横坐标的单位统一；所述方法还包括以下步骤：
获取标准化处理后的所述第一色谱图中的色谱峰，根据所述色谱峰的高度和宽度划分为宽型色谱峰和窄型色谱峰；将标准化处理后的所述第一色谱图中的色谱峰与标准化处理后的所述标准色谱图中对应的色谱峰进行比对，获得所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度差，并筛选获得可修正高度差；基于所述可修正高度差，结合所述宽型色谱峰对应的宽型修正系数和所述窄型色谱峰对应的窄型修正系数，计算获得对应的高度修正值。
[0013]具体的，基于所述高度修正值，对所述目标色谱仪检测待检测物获得的检测色谱图的色谱峰进行修正中，包括以下步骤：获取所述目标色谱仪检测待检测物获得的检测色谱图；基于所述检测色谱图进行标准化处理，获得所述检测色谱图中的窄型色谱峰和宽型色谱峰；基于所述宽型修正系数和所述宽型修正系数对应的高度修正值，对所述检测色谱图中的窄型色谱峰和宽型色谱峰进行修正。
[0014]第二方面，本申请提供了一种存储介质，所述存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现第一方面提及的色谱检测修正方法。
[0015]第三方面，本申请提供了一种电子设备，所述电子设备包括存储器和处理器，存储器上储存有在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现第一方面提及的色谱检测修正方法。
[0016]本申请提供的技术方案带来的有益效果包括：本申请基于预设检测物和预设检测参数进行检测，将检测获得的第一色谱图与出厂时检测获得的标准色谱图进行比对，根据各色谱峰的高度差异分析掌握色谱仪的设备误差状况，并基于设备误差情况对色谱仪后续的日常色谱分析工作进行修正，在一定程度上提高色谱仪的检测准确性和可靠性。
[0017]附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本申请实施例中提供的色谱检测修正方法的步骤流程图；图2为本申请实施例中提供的色谱检测修正方法基于高度修正值第一计算流程的步骤流程图；图3为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种色谱检测修正方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：响应色谱仪修正指令，提取目标色谱仪按照预设检测参数对预设检测物进行检测获得的第一色谱图；获取所述目标色谱仪在出厂时按照预设检测参数对预设检测物检测获得的标准色谱图；将所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰进行比对，获得所述第一色谱图中的色谱峰与所述标准色谱图中对应的色谱峰的高度差，并筛选获得可修正高度差；基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值；基于所述高度修正值，对所述目标色谱仪检测待检测物获得的检测色谱图的色谱峰进行修正。2.如权利要求1所述的色谱检测修正方法，其特征在于，基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值中，所述方法包括以下步骤：基于所述可修正高度差，计算获得对应的可修正高度差平均值；将所述可修正高度差与所述可修正高度差平均值进行比对，筛除差值超过可修正第一差值的所述可修正高度差，获得对应的二次筛选可修正高度差；基于所述二次筛选可修正高度差，计算获得对应的二次筛选可修正高度差中位数；基于所述二次筛选可修正高度差中位数，获得所述高度修正值。3.如权利要求1所述的色谱检测修正方法，其特征在于，基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值中，所述方法包括以下步骤：基于所述可修正高度差的最大值和最小值，获得可修正高度差区间；将所述可修正高度差区间拆分为多个可修正高度差子区间；筛除所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差的个数小于预设的第一区间个数的所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差，将剩余的所述可修正高度差记作剩余可修正高度差；基于所述剩余可修正高度差，计算获得所述高度修正值。4.如权利要求1所述的色谱检测修正方法，其特征在于，基于所述可修正高度差，计算获得对应的高度修正值中，所述方法包括以下步骤：基于所述可修正高度差的最大值和最小值，获得可修正高度差区间；将所述可修正高度差区间拆分为多个可修正高度差子区间；筛除所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差的个数小于预设的第一区间个数的所述可修正高度差子区间中的所述可修正高度差，将剩余的所述可修正高度差记作剩余可修正高度差；基于所述剩余可修正高度差，计算获得对应的剩余可修正高度差平均值；将所述剩余可修正高度差与所述剩余可修正高度差平均值进行比对，筛除差值超过可修正第一差值的所述剩余可修正高度差，获得对应的二次筛选剩余可修正高度差；基于所述二次筛选剩余可修正高度差，计算获得对应的二次筛选剩余可修正高度差中位数；基于所述二次筛选剩余可修正高度差中位数，获得所述高度修正值。
5.如权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：王东强，冀禹璋，
申请(专利权)人：华谱科仪北京科技有限公司，
类型：发明
国别省市：