对位检测装置制造方法及图纸

技术编号:32730720 阅读:11 留言:0更新日期:2022-03-20 08:36
本实用新型专利技术提供一种对位检测装置包括:载台,载台适于承载半导体器件,半导体器件上下两侧分别具有第一对准标识和第二对准标识;分别位于载台的上下两侧的检测光发射部件和检测光接收部件,检测光发射部件适于朝向载台发射检测光,检测光接收部件适于接收穿过半导体器件和载台且未被第一栅线遮挡的检测光,以获取第一对准标识和第二对准标识在半导体器件中的位置信息;判断单元,判断单元与检测光接收部件电学连接,判断单元适于根据相对位置信息判断第一对准标识和第二对准标识的偏移量是否小于偏移阈值。该对位检测装置的检测方法简单且精度高,以保证后续的焊接良率。以保证后续的焊接良率。以保证后续的焊接良率。

【技术实现步骤摘要】
对位检测装置


[0001]本技术涉及太阳能电池
,具体涉及一种对位检测装置。

技术介绍

[0002]太阳能电池是通过光电效应或者光化学效应直接把光能转化成电能的装置。近年来,异质结电池(HJT或SHJ)凭借其制作工艺温度低、工艺流程简单、开路电压高、转换效率高、温度系数低、高温/弱光发电特性优异和衰减低等特点,得到了迅速发展。
[0003]异质结电池以n型单晶硅片为基底的双面太阳能电池,在硅片的正面制备有本征非晶硅薄膜、n型掺杂非晶硅薄膜、透明导电层和正面金属电极,背面制备有本征非晶硅薄膜、p型掺杂非晶硅薄膜、透明导电层和背面金属电极。其中,金属电极一般包括细栅和主栅。异质结电池产生的光生载流子经由细栅收集后汇流至主栅,并由主栅传输至外。主栅数量越大,串联电阻降低,但电池的遮光面积也随之越大,这限制了电池转换效率的提高。为了不增加电池的遮光面积,通常控制主栅的宽度范围为30μm至60μm。
[0004]太阳能电池片完成后,要形成电池组件才能实现发电到用电。通常采用金属互联条或者焊带将多个异质结电池进行串联,形成异质结电池组件,以满足大规模的电力应用。具体的,一个金属互联条或者焊带包括依次连接的第一覆盖段、连接段和第二覆盖段,第一覆盖段和第二覆盖段分别覆盖两个相邻异质结电池的正面主栅和背面主栅,并通过连接段连接。为了便于金属互联条或者焊带的连接,应保证异质结电池的正面主栅和背面主栅相互严格对应。在正面主栅和背面主栅印刷完成之后、片间焊接之前,通常情况下会使用对位检测装置判断正面主栅和背面主栅是否对准,以保证后续的焊接良率。
[0005]然而,现有对位检测方法无法兼顾简单且精度高的特性,而且效率较低。

技术实现思路

[0006]因此,本技术要解决的技术问题在于克服现有对位检测方法无法兼顾简单且精度高的特性的缺陷,从而提供一种对位检测装置。
[0007]本技术提供一种对位检测装置,包括:载台,所述载台适于承载半导体器件,所述半导体器件的上下两侧分别具有第一对准标识和第二对准标识;分别位于所述载台的上下两侧的检测光发射部件和检测光接收部件,所述检测光发射部件适于朝向所述载台发射检测光,所述检测光接收部件适于接收穿过所述半导体器件和所述载台且未被所述第一对准标识和所述第二对准标识遮挡的检测光,以获取第一对准标识和第二对准标识在所述半导体器件中的位置信息;判断单元,所述判断单元与所述检测光接收部件电学连接,所述判断单元适于根据第一对准标识和第二对准标识的相对位置信息判断第一对准标识和第二对准标识的偏移量是否小于偏移阈值。
[0008]可选的,所述检测光发射部件位于所述载台的上方,所述检测光接收部件位于所述载台的下方;或者,所述检测光接收部件位于所述载台的上方,所述检测光发射部件位于所述载台的下方。
[0009]可选的,所述检测光包括红外光,所述检测光发射部件包括红外光发射部件,所述检测光接收部件包括红外光接收部件。
[0010]可选的,所述载台的材料包括玻璃或树脂,所述载台适于使检测光穿过。
[0011]可选的,所述半导体器件为太阳能电池;所述太阳能电池上下两侧设置有第一栅线和第二栅线,所述第一栅线构成所述第一对准标识,所述第二栅线构成所述第二对准标识。
[0012]可选的,所述半导体器件为太阳能电池;所述太阳能电池的一侧设置有第一标识点和第一栅线,所述第一标识点位于所述第一栅线的侧部,所述太阳能电池的另一侧设置有第二标识点和第二栅线,所述第二标识点位于所述第二栅线的侧部,所述第一标识点和第一栅线的相对位置关系与所述第二标识点和第二栅线的相对位置关系相同,所述第一标识点构成所述第一对准标识,所述第一标识点构成所述第二对准标识。
[0013]可选的,所述偏移阈值为所述第一栅线或第二栅线的宽度值。
[0014]可选的,所述对位检测装置还包括报警单元,所述报警单元适于当偏移量大于等于所述偏移阈值的半导体器件的连续数量超出所述数量阈值时进行报警;
[0015]可选的,所述数量阈值为大于等于3且小于等于8的整数。
[0016]可选的,所述对位检测装置还包括位于所述载台侧部的抓取单元、合格品收集单元和不良品收集单元,所述抓取单元适于将偏移量大于等于所述偏移阈值的半导体器件转移至所述不良品收集单元,所述抓取单元还适于将偏移量小于偏移阈值的半导体器件转移至合格品收集单元。
[0017]本技术技术方案,具有如下优点:
[0018]本技术提供的对位检测装置,所述检测光发射部件适于朝向所述载台发射检测光,其中,一部分检测光在直接照射在半导体器件表面后,被位于该半导体器件表面的对准标识阻挡,无法进入半导体器件,因此无法从半导体器件的另一侧表面射出;一部分检测光进入所述半导体器件,被照射在位于该半导体器件的另一侧表面的对准标识阻挡无法射出;另一部分检测光未照射在第一对准标识和第二对准标识上,从半导体器件中射出并被所述检测光接收部件接收,因此检测光接收部件接收的检测光的分布情况能够反映所述第一对准标识和第二对准标识在半导体器件中的位置信息,所述判断单元适于根据所述位置信息获得第一对准标识和第二对准标识的偏移量并判断所述偏移量是否小于偏移阈值,以判断第一对准标识和第二对准标识是否对准,对位检测方法简单;同时,由于所述检测光接收部件能够同时获得所述第一对准标识和第二对准标识在半导体器件中的位置信息,使得所述对位检测装置能够获得所述第一对准标识和第二对准标识的精确的相对位置信息,从而使得所述偏移量更加精确,进而提高了对位检测结果的精度,保证后续形成的电池组件质量。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本技术的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本技术实施例中提供的对位检测装置的侧视图;
[0021]图2为图1所示的对位检测装置的俯视图;
[0022]附图标记说明:
[0023]1‑
载台;2

检测光发射部件;3

检测光接收部件;4

抓取单元;5

合格品收集单元;6

不良品收集单元。
具体实施方式
[0024]正如
技术介绍
所述,现有对位检测方法无法兼顾简单且精度高的特性。
[0025]在将两个异质结电池串联时,金属互联条的延伸方向是固定的。这就需要一个异质结电池的正面主栅的延伸方向与另一个异质结电池的背面主栅的延伸方向重合,以保证金属互联条同时覆盖一个异质结电池的正面主栅和另一异质结电池的背面主栅。本申请的技术构思根据在于,在两个异质结电池串联的过程中,两个异质结电池依次排布,如果两个异质结电池的正面主栅相互对准,而其中本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对位检测装置,用于半导体器件检测分类,其特征在于,包括:载台,所述载台适于承载半导体器件,所述半导体器件的上下两侧分别具有第一对准标识和第二对准标识;分别位于所述载台的上下两侧的检测光发射部件和检测光接收部件,所述检测光发射部件适于朝向所述载台发射检测光,所述检测光接收部件适于接收穿过所述半导体器件和所述载台且未被所述第一对准标识和所述第二对准标识遮挡的检测光,以获取第一对准标识和第二对准标识在所述半导体器件中的位置信息;判断单元,所述判断单元与所述检测光接收部件电学连接,所述判断单元适于根据第一对准标识和第二对准标识的相对位置信息判断第一对准标识和第二对准标识的偏移量是否小于偏移阈值。2.根据权利要求1所述的对位检测装置,其特征在于,所述检测光发射部件位于所述载台的上方,所述检测光接收部件位于所述载台的下方;或者,所述检测光接收部件位于所述载台的上方,所述检测光发射部件位于所述载台的下方。3.根据权利要求1所述的对位检测装置,其特征在于,所述检测光包括红外光,所述检测光发射部件包括红外光发射部件,所述检测光接收部件包括红外光接收部件。4.根据权利要求1所述的对位检测装置,其特征在于,所述载台的材料包括玻璃或树脂,所述载台适于使检测光穿过。5.根据权利要求1所述的对位检测装置,其特征在于,所述半导体器件为太阳能电池;所述太阳能电池的上下两侧设置有第一栅线和第二栅线,...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐晓华张良周肃龚道仁王文静辛华伟
申请(专利权)人:安徽华晟新能源科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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