本实用新型专利技术涉及一种引线框架检测装置，包括台架和设置在台架上的引线框架缺损变形检测工位和引线框架多余残留检测工位，所述引线框架缺损变形检测工位具有通过直射光源、透光结构、遮光结构和感光结构检测引线框架是否有缺损变形的功能，所述引线框架多余残留检测工位具有通过直射光源、透光结构、不反光遮挡结构和感光结构检测引线框架是否有未裁剪掉的残余部分的功能。结构简单，成本低，操作简单，只需将引线框架放置到两个对应工位即可自动显示检测结果，对于小批量生产的引线框架适用性强。性强。性强。
【技术实现步骤摘要】
一种引线框架检测装置
[0001]本技术涉及引线框架检测
，特别涉及一种引线框架检测装置。
技术介绍
[0002]引线框架作为集成电路的芯片载体，是一种借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气回路的关键结构件，它起到了和外部导线连接的桥梁作用，绝大部分的半导体集成块中都需要使用引线框架，是电子信息产业中重要的基础材料。为确保芯片封装的良品率，引线框架在完成生产后必须进行质量检测，以确保引线框架的质量规格符合要求，现有的检测手段有两种，一种是大厂家大批量生产时一般都是使用价值较高的自动化引线框架自动化视觉检测设备，直接自动化对一些框架进行检测，设定和操作过程中对操作人员，检修维护对技术人员的要求也很高，设备成本高，适合大厂家大批量的引线框架检测；另一种是小厂家多种类、数量较少的非标引线框架的检测，这种情况下，一般都是使用人工检视，需要较多的检测人员人工目测引线框架有没有较大的问题，例如有没有缺损、变形或者没有裁切好有残等情况，检测效率低，人工长时间的检测也不能保证检测质量，会影响引线框架出厂的整体良品率。
技术实现思路
[0003]本技术解决的技术问题是提供一种引线框架检测装置。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种包括台架和设置在台架上的引线框架缺损变形检测工位和引线框架多余残留检测工位，所述引线框架缺损变形检测工位包括用于放置引线框架的第一透明板、用于对齐限位引线框架位置的第一对齐装置、位于第一透明板正上方的第一直射光源组件和位于第一透明板下方的第一感光暗箱，所述第一透明板上表面设置有遮光膜，所述遮光膜上设置有与引线框架在误差范围内的最小结构投影相同的透光孔，所述第一感光暗箱内设置有与第一透明板对应且面积大于第一透明板的第一感光板，所述引线框架多余残留检测工位包括用于放置引线框架的第二透明板、用于对齐限位引线框架位置的第二对齐装置、位于第二透明板下方的第二感光暗箱和第二直射光源组件，所述第二感光暗箱的底部设置有与第二透明板对应且面积大于第二透明板的第二感光板，所述第二直射光源组件位于第二感光暗箱内第二感光板两侧的侧壁上，所述第二直射光源组件射向第二透明板上表面的光线折射范围在第二感光板的感光范围内，所述第二透明板上表面设置有与引线框架在误差范围内的最大结构投影相同的第一不反光膜，所述台架上第二透明板的上方与第二直射光源组件射出光线对应位置都设置有第二不反光膜，所述台架外侧设置有分别与第一感光板和第二感光板相连的第一检测结果显示灯和第二检测结果显示灯。结构简单，成本底，操作简单，只需将引线框架放置到两个对应工位即可自动显示检测结果，对于小批量生产的引线框架适用性强。
[0005]进一步的是：所述台架上设置有上表面光滑的检测操作平板，所述检测操作平板上横向左右并列设置有两个上下贯穿的第一固定孔，所述第一透明板和第二透明板分别设
置在左右两个第一固定孔内，所述第一透明板和第二透明板的上表面与检测操作平板的上表面齐平，所述检测操作平板上第一透明板和第二透明板之间设置有第四不反光膜，所述遮光膜、第一不反光膜和第四不反光膜的厚度相同。挪动引线框架方便无阻挡，操作方便简单，避免引线框架在挪动过程中的磕碰损伤。
[0006]进一步的是：所述检测操作平板上表面第一透明板的左侧设置有第一横向可调限位结构，所述检测操作平板上表面第二透明板的右侧设置有第二横向可调限位结构，所述检测操作平板上表面第一透明板和第二透明板的后侧设置有纵向可调限位结构，所述第一横向可调限位结构和纵向可调限位结构组成第一对齐装置，所述第二横向可调限位结构和纵向可调限位结构组成第二对齐装置。结构简单，可以适应一定尺寸范围内的引线框架限位。
[0007]进一步的是：所述第一横向可调限位结构和第二横向可调限位结构的结构相同且对应设置在检测操作平板的两侧，所述纵向可调限位结构与第一横向可调限位结构的结构相同且垂直设置在第一横向可调限位结构和第二横向可调限位结构之间，所述第一横向可调限位结构包括第一凸台和第一可调限位块，所述第一凸台设置在检测操作平板上表面第一透明板的左侧，所述第一可调限位块纵向设置在第一凸台和第一透明板之间，所述第一可调限位块上设置有横向水平贯穿的第一调位孔、第二调位孔和第三调位孔，所述第二调位孔位于第一调位孔和第三调位孔之间，所述第二调位孔位远离第一凸台一侧设置有第一螺帽隐藏凹台，所述第一凸台上与第一调位孔、第二调位孔和第三调位孔对应位置分别设置有第一限位孔、第一调位螺纹孔和第二限位孔，所述第一凸台和第一可调限位块之间设置有第一限位杆、第一调位螺栓和第二限位杆，所述第一限位杆的一端固定在第一调位孔内，另一端位于第一限位孔内且可以沿第一限位孔轴心方向移动，所述第一调位螺栓的螺纹柱一端穿过第二调位孔位于第一调位螺纹孔内且第一调位螺栓的螺帽位于第一螺帽隐藏凹台内，所述第一调位螺栓螺纹柱上的螺纹与第一调位螺纹孔内的螺纹匹配，所述第二限位杆的一端固定在第三调位孔内，另一端位于第二限位孔内且可以沿第二限位孔轴心方向移动，所述第一限位杆和第二限位杆的外围都套设有位于第一凸台和第一可调限位块之间的弹簧。调节操作简单，定位精准，结构简单适用。
[0008]进一步的是：所述第二横向可调限位结构包括第二可调限位块，所述纵向可调限位结构包括第三可调限位块，所述第一可调限位块、第二可调限位块和第三可调限位块的下表面与检测操作平板上遮光膜上表面之间的竖直方向距离等于引线框架厚度的一半。便于引线框架对齐。
附图说明
[0009]图1为本技术去掉第一感光暗箱和第二感光暗箱前侧挡板后的主视示意图；
[0010]图2为第一透明板和第二透明板部分的主视示意图；
[0011]图3为第一对齐装置和第二对齐装置部分的主视示意图；
[0012]图4为第一横向可调限位结构、第二横向可调限位结构和纵向可调限位结构部分的主视示意图。
[0013]图中标记为：台架100、检测操作平板101、纵向可调限位结构102、第一透明板210、第一对齐装置220、第一横向可调限位结构221、第一凸台222、第一可调限位块223、第一限
位杆224、第一调位螺栓225、第二限位杆226、弹簧227、第一直射光源组件230、第一感光暗箱240、第一感光板241、第一检测结果显示灯242、遮光膜250、第二透明板310、第二对齐装置320、第二横向可调限位结构321、第二直射光源组件330、第二感光暗箱340、第二感光板341、第二检测结果显示灯342、第一不反光膜350、遮光板360、第二不反光膜361、第四不反光膜362。
具体实施方式
[0014]下面结合附图和具体实施方式对本技术进一步说明。
[0015]如图1所示的一种引线框架检测装置，包括台架100和设置在台架100上的引线框架缺损变形检测工位和引线框架多余残留检测工位，所述引线框架缺损变形检测工位包括用于放置引线框架的第一透明板210、用于对齐限位引线框架位置本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种引线框架检测装置，其特征在于：包括台架(100)和设置在台架(100)上的引线框架缺损变形检测工位和引线框架多余残留检测工位，所述引线框架缺损变形检测工位包括用于放置引线框架的第一透明板(210)、用于对齐限位引线框架位置的第一对齐装置(220)、位于第一透明板(210)正上方的第一直射光源组件(230)和位于第一透明板(210)下方的第一感光暗箱(240)，所述第一透明板(210)上表面设置有遮光膜(250)，所述遮光膜(250)上设置有与引线框架在误差范围内的最小结构投影相同的透光孔，所述第一感光暗箱(240)内设置有与第一透明板(210)对应且面积大于第一透明板(210)的第一感光板(241)，所述引线框架多余残留检测工位包括用于放置引线框架的第二透明板(310)、用于对齐限位引线框架位置的第二对齐装置(320)、位于第二透明板(310)下方的第二感光暗箱(340)和第二直射光源组件(330)，所述第二感光暗箱(340)的底部设置有与第二透明板(310)对应且面积大于第二透明板(310)的第二感光板(341)，所述第二直射光源组件(330)位于第二感光暗箱(340)内第二感光板(341)两侧的侧壁上，所述第二直射光源组件(330)射向第二透明板(310)上表面的光线折射范围在第二感光板(341)的感光范围内，所述第二透明板(310)上表面设置有与引线框架在误差范围内的最大结构投影相同的第一不反光膜(350)，所述台架(100)上第二透明板(310)的上方与第二直射光源组件(330)射出光线对应位置都设置有第二不反光膜(361)，所述台架(100)外侧设置有分别与第一感光板(241)和第二感光板(341)相连的第一检测结果显示灯(242)和第二检测结果显示灯(342)。2.根据权利要求1所述的一种引线框架检测装置，其特征在于：所述台架(100)上设置有上表面光滑的检测操作平板(101)，所述检测操作平板(101)上横向左右并列设置有两个上下贯穿的第一固定孔，所述第一透明板(210)和第二透明板(310)分别设置在左右两个第一固定孔内，所述第一透明板(210)和第二透明板(310)的上表面与检测操作平板(101)的上表面齐平，所述检测操作平板(101)上第一透明板(210)和第二透明板(310)之间设置有第四不反光膜(362)，所述遮光膜(250)、第一不反光膜(350)和第四不反光膜(362)的厚度相同。3.根据权利要求2所述的一种引线框架检测装置，其特征在于：所述检测操作平板(101)上表面第一透明板(210)的左侧设置有第一横向可调限位结构(221)，所述检测操作平板(101)上表面第二透明板(...
【专利技术属性】
技术研发人员：关世强，
申请(专利权)人：南京邦得电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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