一种芯片多工位测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种芯片多工位测试系统，包括齿槽、T型块、放置槽、侧方槽、滑架、紧固螺柱、底面槽、吸盘、无尘室、十字安装板和测试探针，通过工作台、可升降支撑、底座对工作台的高度进行调整便于操作；通过齿槽、T型块、放置槽、侧方槽、滑架、紧固螺柱、底面槽、吸盘对不同的芯片进行卡紧固定并在T型块移动齿轮和滑轮的作用下移动至无尘室中进行检测；通过无尘室、十字安装板和测试探针对芯片对十字放置台上的芯片进行检测，实现四个芯片同时进行检测，提高检测效率，并且构建无尘室以及水冷机和U型管保证良好的检测环境；通过测试探针和架体对不需要特殊环境检测的封装芯片进行检测。测。测。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片多工位测试系统


[0001]本技术涉及芯片检测
，具体为一种芯片多工位测试系统。

技术介绍

[0002]随着科技水平的不断提升，电子芯片在我国也正在进行着快速发展与提升，在电子芯片的生产中，常常要对芯片进行检测，芯片检测是将经过切割、减薄后的独立芯片进行检测，放置于检测平台利用探针探到芯片中事先确定的测试点，通过探针上的直流电流和交流信号对其进行各种电器参数的测试，将不良品挑出，由于芯片的特殊性，对其检测环境具有较高的要求，芯片检测还包括了对封装芯片的检测，将探针从管脚连接直接进行测试，此时的环境要求较低。
[0003]目前在对芯片进行检测时工位较为单一，将单个芯片进行固定而后逐个进行检测，不仅效率较低，芯片固定方式也不够稳定，由于芯片的各种规格有所不同，在进行多工位检测实现提高效率的同时，针对不同尺寸芯片也要做到适应性的卡紧方便检测。

技术实现思路

[0004]鉴于现有技术中所存在的问题，本技术公开了一种芯片多工位测试系统，采用的技术方案是，包括工作台、可升降支撑、底座、T型槽、齿槽、T 型块、平板、转动支撑本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片多工位测试系统，其特征在于：包括工作台(1)、可升降支撑(2)、底座(3)、T型槽(4)、齿槽(5)、T型块(6)、平板(7)、转动支撑柱(8)、十字放置台(9)、指示灯(10)、放置槽(11)、适应性卡紧结构、无尘室(17)、封闭槽(18)、封闭门(19)、顶部凸板(20)、降温装置、封闭门升降结构、架体(24)、升降柱(25)、十字安装板(26)和测试探针(27)；所述工作台(1)下部固定有可升降支撑(2)；所述可升降支撑(2)底部设置底座(3)；所述工作台(1)中部左右方向开有T型槽(4)并在其底面设置齿槽(5)；所述T型块(6)放置于T型槽(4)并与齿槽(5)配合移动；所述T型块(6)上面固定有平板(7)；所述平板(7)上安装转动支撑柱(8)并在其输出端上安装十字放置台(9)；所述十字放置台(9)的外侧面具有指示灯(10)；所述十字放置台(9)上开有放置槽(11)并在其中设置适应性卡紧结构；所述工作台(1)中部安装无尘室(17)；所述无尘室(17)左右侧均开有封闭槽(18)；所述封闭门(19)通过封闭门升降结构安装在封闭槽(18)中；所述封闭门(19)的底部具有顶部凸板(20)；所述无尘室(17)中还设置有降温装置；所述无尘室(17)左侧具有架体(24)；所述无尘室(17)内顶部和架体(24)上均通过升降柱(25)安装十字安装板(26)；所述十字安装板(26)的下表面设置有测试探针(27)。2.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：张线民，
申请(专利权)人：上海睿士科技有限公司，
类型：新型
国别省市：