一种半导体外延片生长设备制造技术

技术编号:32653359 阅读:57 留言:0更新日期:2022-03-17 10:59
本实用新型专利技术提供了一种半导体外延片生长设备,包括基座、射频电磁线圈、钟罩、侧隔板条、顶盘和垫片。其中,基座有三层硅片位,射频电磁线圈包括12环铜线圈,顶盘直径为5cm

【技术实现步骤摘要】
一种半导体外延片生长设备


[0001]本技术涉及半导体外延片生产领域,特别涉及一种半导体外延片生长设备。

技术介绍

[0002]外延片制作方法:通过化学气相沉积的方式在抛光面上生长一层或多层掺杂类型、电阻率、厚度和晶格结构都符合特定器件要求的新硅单晶层。
[0003]外延片的优点:外延技术可以减少硅片中因单晶生长产生的缺陷,具有更低的缺陷密度和氧含量,提高了栅氧化层的完整性,并改善了沟道中的漏电现象,从而提升了集成电路的可靠性。
[0004]例如,现有6英寸外延片的生产技术中,一次性仅能生产2层共计14个外延片。为了在保证生产质量的前提下提高产能,本领域的技术人员也做了大量研究。然而,目前还没有一种设备可以突破一次性14片的生产效率瓶颈。

技术实现思路

[0005]为了解决上述技术问题,本技术中披露了一种半导体外延片生长设备,本技术的技术方案是这样实施的:
[0006]一种半导体外延片生长设备,包括基座、射频电磁线圈、钟罩、侧隔板条、顶盘和垫片。其中,所述基座有三层硅片位;所述射频电磁线圈包括12环铜线圈本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体外延片生长设备,其特征在于:包括基座、射频电磁线圈、钟罩、侧隔板条、顶盘和垫片;其中,所述基座有三层硅片位;所述射频电磁线圈包括12环铜线圈;所述顶盘直径为5cm

50cm;所述垫片高度为2cm

9cm;所述侧隔板条为两部分:所述侧隔板条上半部分的上边缘略高于第一层硅片位上缘,所述侧隔板条上半部分下边缘略高于第二层硅片位的中段;所述侧隔板条下半部分的上边缘略低于第三层硅片位的上缘,所述侧隔板条下半部分的下边缘略高于第三层硅片位的下缘;所述射频电磁线圈位于所述钟罩外部并环绕所述基座;所述垫片连接所述基座和所述顶盘。2.根据权利要求1所述的一种半导体外延片生长设备,其特征在于:所述钟罩外设置有反...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑国
申请(专利权)人:上海衍梓智能科技有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1