一种三电平集成逆变IGBT模组的双脉冲测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种三电平集成逆变IGBT模组的双脉冲测试电路，包括直流电源、第一开关模块、第二开关模块、第三开关模块、第四开关模块、第五开关模块、第六开关模块、第七开关模块、第八开关模块、第九开关模块、第十开关模块、第十一开关模块和电感；第一至第十一开关模块和电感模块组成测试电路变换单元，针对待测试IGBT模组中不同的IGBT，用不同的测试电路；同时对比传统的单个IGBT的双脉冲测试方法，由于第一至第十一开关模块组成的多种电路组合，可以更方便的对待测IGBT模组中的每个IGBT进行双脉冲测试，提高测试效率的同时，提高测试的一致性。高测试的一致性。高测试的一致性。

【技术实现步骤摘要】
一种三电平集成逆变IGBT模组的双脉冲测试电路


[0001]本技术属于半导体开关器件在桥臂中使用时的双脉冲术领域，尤其是针对集成化的IGBT模组进行的大规模数量的双脉冲测试领域。

技术介绍

[0002]半导体开关器件IGBT使用在桥臂中，其开关过程中出现的电流过冲和电压过冲量对IGBT的开关过程影响十分值得关注，双脉冲测试是对处在桥臂中的IGBT在开关过程中的电流过冲和电压过冲量的一种常见的测试方法。
[0003]对于多个换流回路的IGBT模组而言，对每个换流过程涉及的IGBT进行双脉冲测试需要逐个进行测试回路搭建，操作繁琐，测试效率低，不利于大规模的IGBT双脉冲测试。

技术实现思路

[0004]为了解决上述针对多个换流回路的IGBT模组进行双脉冲测试的不利因素，本技术的目的在于提出针对ANPC三电平拓扑的IGBT模组的双脉冲集成测试方法，能够解决目前不利于对ANPC三电平拓扑的IGBT模组的双脉冲测试的问题。
[0005]为达到上述目的，本技术所述一种三电平集成逆变IGBT模组的双脉冲测试电路，包括直流电源，直流电源的正极与第三开关模块K3的a端以及第五开关模块K5的a端连接，第三开关模块K3的b端与第十开关模块K10的b端以及第八开关模块K8的b端连接；
[0006]第五开关模块K5的b端与第四开关模块K4的b端、第十开关模块K10的a端、第七开关模块K7的a端以及第十一开关模块K11的b端连接；
[0007]第七开关模块K7的b端与电感L的a端、第八开关模块K8的a端以及第九开关模块K9的b端连接，电感L的b端与待测试IGBT模组的AC输出端连接；
[0008]第九开关模块K9的a端、第十一开关模块K11的a端和第六开关模块的a端连接，第六开关模块的b端、第四开关模块K4的a端、第二开关模块K2的a端和第一开关模块K1的a端连接，第一开关模块K1的b端与直流电源的负极连接。
[0009]进一步的，第三开关模块K3的a端与正母线电容C
bus+
的正端连接，所述正母线电容C
bus+
的负端与第五开关模块K5的b端连接以及负母线电容C
bus
‑
的正端连接，所述负母线电容C
bus
‑
的负端与第六开关模块的a端连接。
[0010]进一步的，第一开关模块K1的b端与直流电源的负极之间连接有第一开关模块R1。
[0011]进一步的，第三开关模块K3的b端与第十开关模块K10的b端之间连接有第二电阻R2，所述第十一开关模块K11的a端和第六开关模块的a端之间连接有第三电阻R3。
[0012]进一步的，第一开关模块、第二开关模块K2、第三开关模块K3、第四开关模块K4、第五开关模块K5、第六开关模块K6、第七开关模块K7、第八开关模块K8、第九开关模块K9、第十开关模块K10、第十一开关模块K11为开关或继电器。
[0013]进一步的，第一开关模块K1、第二开关模块K2、第三开关模块K3、第四开关模块K4、第五开关模块K5、第六开关模块K6、第七开关模块K7、第八开关模块K8、第九开关模块K9、第
十开关模块K10和第十一开关模块K11为继电器。
[0014]进一步的，电感L为空心电感。
[0015]进一步的，正母线电容C
bus+
和负母线电容C
bus
‑
为金属膜电容。
[0016]与现有技术相比，本技术至少具有以下有益的技术效果：
[0017]针对集成的ANPC三电平IGBT模组内不同的IGBT双脉冲测试需要不同的回路这一事实，通过设计集成化的回路切换装置，第一至第十一开关模块和电感组成测试电路变换单元，通过对所述开关模块进行不同组合的开关，可以方便的实现不同IGBT双脉冲测试所需要的测试回路的切换，从而可以对集成的ANPC三电平IGBT模组进行大规模的标准化的双脉冲测试。提高测试效率的同时，提高测试的一致性。
[0018]进一步的，第二电阻和第三电阻组成测试电路的放电单元，用于IGBT测试完成后的电路中的残余电荷的释放。
[0019]进一步的，测试电路中的正母线电容和负母线电容用于对电源进行滤波，并提供大电流。本技术所述的测试方法，通过对所述十一个开关模块的选择性闭合，可以形成对待测IGBT模组中不同IGBT的双脉冲测试回路，操作方便。
[0020]进一步的，每个IGBT的双脉冲测试结束后可靠的将正负母线电容的残余电荷释放掉。实现对待测IGBT模组内部的所有IGBT的快速标准化的双脉冲测试过程。
[0021]进一步的，开关模块为继电器，控制简单，方便操作。
附图说明
[0022]图1a为本技术提供的脉冲测试电路；
[0023]图1b为对待测IGBT模组内部不同的IGBT进行双脉冲测试时，构成对应的测试回路，需要对所述十一个开关模块的开关装填选择列表；
[0024]图2a为对待测IGBT模组内部的T1进行双脉冲测试所对应的测试回路；
[0025]图2b为对待测IGBT模组内部的T1进行双脉冲测试所对应的6个IGBT的开关信息；
[0026]图2c为对待测IGBT模组内部的T1进行双脉冲测试时，所述电感存储电量的电流路径示意图；
[0027]图2d为对待测IGBT模组内部的T1进行双脉冲测试时，所述电感释放电量的电流路径示意图；
[0028]图3a为对待测IGBT模组内部的T2进行双脉冲测试所对应的测试回路；
[0029]图3b为对待测IGBT模组内部的T2进行双脉冲测试所对应的6个IGBT的开关信息；
[0030]图3c为对待测IGBT模组内部的T2进行双脉冲测试时，所述电感存储电量的电流路径示意图；
[0031]图3d为对待测IGBT模组内部的T2进行双脉冲测试时，所述电感释放电量的电流路径示意图；
[0032]图4a为对待测IGBT模组内部的T3进行双脉冲测试所对应的测试回路；
[0033]图4b为对待测IGBT模组内部的T3进行双脉冲测试所对应的6个IGBT的开关信息；
[0034]图4c为对待测IGBT模组内部的T3进行双脉冲测试时，所述电感存储电量的电流路径示意图；
[0035]图4d为对待测IGBT模组内部的T3进行双脉冲测试时，所述电感释放电量的电流路
径示意图；
[0036]图5a为对待测IGBT模组内部的T4进行双脉冲测试所对应的测试回路；
[0037]图5b为对待测IGBT模组内部的T4进行双脉冲测试所对应的6个IGBT的开关信息；
[0038]图5c为对待测IGBT模组内部的T4进行双脉冲测试时，所述电感存储电量的电流路径示意图；
[0039]图5d为对待测IGBT模组内部的T4进行双脉冲测试时，所述电感释放电量的电流路径示意图；
[0040]图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三电平集成逆变IGBT模组的双脉冲测试电路，其特征在于，包括直流电源，直流电源的正极与第三开关模块K3的a端以及第五开关模块K5的a端连接，第三开关模块K3的b端与第十开关模块K10的b端以及第八开关模块K8的b端连接；第五开关模块K5的b端与第四开关模块K4的b端、第十开关模块K10的a端、第七开关模块K7的a端以及第十一开关模块K11的b端连接；第七开关模块K7的b端与电感L的a端、第八开关模块K8的a端以及第九开关模块K9的b端连接，电感L的b端与待测试IGBT模组的AC输出端连接；第九开关模块K9的a端、第十一开关模块K11的a端和第六开关模块的a端连接，第六开关模块的b端、第四开关模块K4的a端、第二开关模块K2的a端和第一开关模块K1的a端连接，第一开关模块K1的b端与直流电源的负极连接。2.根据权利要求1所述的一种三电平集成逆变IGBT模组的双脉冲测试电路，其特征在于，所述第三开关模块K3的a端与正母线电容C
bus+
的正端连接，所述正母线电容C
bus+
的负端与第五开关模块K5的b端连接以及负母线电容C
bus
‑
的正端连接，所述负母线电容C
bus
‑
的负端与第六开关模块的a端连接。3.根据权利要求2所述的一种三电平集成逆变IGBT模组的双脉冲测试电路，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宏，王文波，屈恺，张燕，
申请(专利权)人：特变电工西安电气科技有限公司，
类型：新型
国别省市：