【技术实现步骤摘要】
一种光敏晶体管I
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V测试机
[0001]本技术涉及光敏晶体管测试领域，尤其涉及一种光敏晶体管I
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V测试机。
技术介绍
[0002]光敏晶体管的电流和电压过大或过小都会严重影响到PCBA性能，目前在每批光敏晶体管来料时采取抽检光敏晶体管I
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V数值，提前识别其质量，当前测试光敏晶体管I
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V数值使用的方法是将光敏晶体管正负极焊上接线，然后在光敏晶体管下方5
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6mm位置设置一个给光敏晶体管提供UV光源的LED灯，LED灯正负极同样焊上接线，再找一个黑色遮光箱子将光敏晶体管和LED灯罩住，光敏晶体管正负极接线和LED灯正负极接线穿透黑色遮光箱子分别对应接到一台程控电源的通道1正负极和通道2正负极，通过程控电源显示光敏晶体管I
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V数值来判定光敏晶体管来料质量问题，该检测光敏晶体管I
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V数值方式，极大地耗费时间和人力成本，员工劳动强大也较大，测试数值一致性也不高，生产效率非常缓慢。
技术实现思路
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光敏晶体管I
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V测试机，其特征在于，包括：下模组件，包括水平设置的LED灯定位板和载板，所述LED灯定位板用于设置LED灯，所述载板固定在LED灯定位板上方，所述载板用于面朝所述LED灯设置待测光敏晶体管且光敏晶体管下表面与LED灯上表面的间距满足测试要求距离；可竖直滑动地设置于所述下模组件上方的上模组件，包括可在竖直方向上来回移动的竖直移动机构和与所述竖直移动机构固定连接的针板，所述针板上穿设与光敏晶体管正负极对应的探针，所述针板水平设置于所述载板的上方并可在所述竖直移动机构的带动下竖直移动以带动所述探针下压使得所述探针与所述光敏晶体管的正负极对应接通；暗箱，设置于所述下模组件和上模组件的外围，用于为所述下模组件和上模组件提供遮光密闭环境；其中，所述LED灯和探针在测试时分别与对应的程控电源连接。2.根据权利要求1所述的光敏晶体管I
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V测试机，其特征在于，所述针板下方设置有限制其继续下移的限位块，所述针板下方靠两端位置设置导柱，所述载板靠两端位置设置与所述导柱匹配的导套，所述导柱随着所述针板下移插入所述导套中。3.根据权利要求1所述的光敏晶体管I
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V测试机，其特征在于，所述竖直移动机构为气缸，所述上模组件还包括竖直设置的位于所述气缸左右两侧的两个滑轨，两个所述滑轨上各设置一个可沿所述滑轨竖直滑动的滑块，两个所述滑块上各连接一个滑块固定板，所述两个滑块固定板和所述气缸同时与所述针板固定连接。4.根据权利要求3所述的光敏晶体管I
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V测试机，其特征在于，所述下模组件包括水平设置的面板，所述LED灯定位板固定在所述面板上，所述上模组件包括竖直设置的正向板和两个加强板，所述正向板和两个所述加强板与所述面板垂直固定连接，两个所述加强板与所述正向板的后面垂直固定连接，所述正向板前面固定连接支撑板和两个所述滑轨，所述支撑板上固定连接所述气缸，所述探针为弹性镀金探针。5.根据权利要求4所述的光敏晶体管I
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V测试机，其特征在于，所述暗箱包括与所述面板周边连接的黑色钣金箱，所述黑色钣金箱前侧设有开口和用于打开、关闭所述开口的挡板，所述开口的两侧分别设置左滑轨和右滑轨，所述挡板的左右侧分别与所述左滑轨和右滑轨滑动连接，所述开口内部设有遮光泡棉以防止挡板边缘光线外漏。6.根据权利要求5所述的光敏晶体管I
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【专利技术属性】
技术研发人员：章微，肖运江，
申请(专利权)人：深圳长城开发科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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