一种LED晶粒的抽检方法和系统技术方案

本发明专利技术公开了一种LED晶粒的抽检方法及系统，所述抽检方法包括：对LED晶圆进行测试，以获取LED晶粒的测试数据；根据所述LED晶粒的测试数据，将LED晶粒分成若干个分类等级，并从所述分类等级中选出必抽等级，所述必抽等级对应的LED晶粒为必抽晶粒，所述LED晶粒来自至少一个晶圆；按照分类等级将所述LED晶粒排列至不同的方片上，获得若干张成品方片；从所述成品方片中选出待抽检方片，所述待抽检方片上的LED晶粒为第一抽检晶粒，所述第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；对所述待抽检检方片上的第一抽检晶粒进行测试，以判断所述第一抽检晶粒是否满足标准。本发明专利技术抽检方法的抽检效率高，漏检率低。漏检率低。漏检率低。

【技术实现步骤摘要】
一种LED晶粒的抽检方法和系统


[0001]本专利技术涉及发光二极管
，尤其涉及一种LED晶粒的抽检方法和系统。

技术介绍

[0002]LED晶粒在完成光电参数分类后，需要按等级进行分选，其中，等级相同的LED晶粒置于同一张成品方片上，参见图1，图1中有6张成品方片，包括成品方片1、成品方片2、成品方片3、成品方片4、成品方片5和成品方片6，其中，每张成品方片上排列有多颗等级相同的LED晶粒，图1中的6张成品方片的LED晶粒的等级相同，成品方片上的数字代表LED晶粒来自哪一个晶圆，其中，数字相同的LED晶粒代表来自同一个晶圆，例如，1代表来自晶圆1，2代表来自晶圆2等，有的成品方片上的LED晶粒可能全部来自同一个晶圆，有的成品方片上的LED晶粒可能来自不同的晶圆。
[0003]LED晶粒在完成光电参数分类分选后，还需采用点测设备对LED晶粒进行抽测，以确保各晶粒的电性和光学特性与分类挑选的要求一致，同时保证LED产品出货的品质。
[0004]现有的一种抽测检验方法是：对每张成品方片进行抽测，例如图1中的6张成品方片都进行抽测，这个方法需要耗费大量的人力和机台，制造成本高。
[0005]现有的另一种抽测检验方法是：按比例选取成品方片进行抽测，例如图1中的6张成品方片按比例抽取其中1张或2张成品方片进行抽测，这个方法容易出现漏抽晶圆片，导致品质异常。例如图1中的6张成品方片，若随机抽取了成品方片1和成品方片3进行抽测，由于成品方片1和成品方片3的LED晶粒没有来自晶圆3的晶粒，则晶圆3的LED晶粒就会出现漏检；若随机抽取了成品方片4和成品方片5进行抽测，由于成品方片4和成品方片5的LED晶粒没有来自晶圆1的晶粒，则晶圆1的LED晶粒就会出现漏检；若随机抽取了成品方片1和成品方片5进行抽测，由于成品方片1和成品方片5的LED晶粒没有来自晶圆2的晶粒，则晶圆2的LED晶粒就会出现漏检。

技术实现思路

[0006]本专利技术所要解决的技术问题在于，提供一种LED晶粒的抽检方法，抽检效率高，漏检率低，抽检的晶粒包括来自任一LED晶圆的LED晶粒。
[0007]本专利技术还要解决的技术问题在于，提供一种LED晶粒的抽检系统，结构简单，抽检效率高，漏检率低，抽检的晶粒包括来自任一LED晶圆的LED晶粒。
[0008]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种LED晶粒的抽检方法，包括：
[0009]对LED晶圆进行测试，以获取LED晶粒的测试数据；
[0010]根据所述LED晶粒的测试数据，将LED晶粒分成若干个分类等级，并从所述分类等级中选出必抽等级，所述必抽等级对应的LED晶粒为必抽晶粒，所述LED晶粒来自至少一个晶圆；
[0011]按照分类等级将所述LED晶粒排列至不同的方片上，获得若干张成品方片；
[0012]从所述成品方片中选出待抽检方片，所述待抽检方片上的LED晶粒为第一抽检晶
粒，所述第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；
[0013]对所述待抽检检方片上的第一抽检晶粒进行测试，以判断所述第一抽检晶粒是否满足标准；
[0014]若所述待抽检方片上的第一抽检晶粒满足标准，则其余的成品方片不用进行检测并流转至下一工序；
[0015]若所述待抽检方片上的第一抽检晶粒不满足标准，则将所有的成品方片扣留。
[0016]作为上述方案的改进，根据抽检比例从所述待抽检方片中选出必抽方片，所述必抽方片的数量少于所述代抽检方片的数量，所述必抽方片上的LED晶粒为第二抽检晶粒，所述第二抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；
[0017]对所述必抽方片上的第二抽检晶粒进行测试，以判断所述第二抽检晶粒是否满足标准；
[0018]若所述必抽方片上的第二抽检晶粒满足标准，则其余的成品方片不用进行检测并流转至下一工序；
[0019]若所述必抽方片上的第二抽检晶粒不满足标准，则将所有成品方片扣留。
[0020]作为上述方案的改进，所述LED晶圆中，LED晶粒数量最多的分类等级为必抽等级，所述LED晶圆至少含有一个必抽等级。
[0021]作为上述方案的改进，所述抽检比例是指所述第二抽检晶粒中来自任一LED晶圆的必抽晶粒数与该LED晶圆的必抽晶粒总数比；
[0022]所述第二抽检晶粒中来自任一LED晶圆的必抽晶粒数a，抽检比例为k，该LED晶圆的必抽晶粒总数为b，若a≥b*k，则选取该待抽检方片为必抽方片。
[0023]作为上述方案的改进，所述LED晶粒的测试数据包括电性数据、光学数据和外观数据。
[0024]作为上述方案的改进，从所述成品方片中选出待抽检方片的方法包括：
[0025]根据必抽等级和必抽晶粒来选取待抽检方片，若所述成品方片上的LED晶粒包括至少来自一个LED晶圆的必抽晶粒，则选取该成品方片为待抽检方片。
[0026]相应地，本专利技术还提供了一种LED晶粒的抽检系统，包括：
[0027]测试模块，用于测试LED晶圆上的LED晶粒，以获得所述LED晶粒的测试数据；
[0028]处理模块，用于对所述测试数据进行分析，以将LED晶粒分成若干个分类等级，并从所述分类等级中选出必抽等级；
[0029]分选模块，用于对所述LED晶粒进行分选排列，所述LED晶粒按照分类等级排列至不同的方片上，以获得若干张成品方片；
[0030]抽选模块，用于从所述成品方片中选出待抽检方片，所述待抽检方片上的LED晶粒为第一抽检晶粒，所述第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；
[0031]检测模块，用于对所述第一抽检晶粒进行检测，以判断所述第一抽检晶粒是否满足标准。
[0032]作为上述方案的改进，所述抽选模块还用于从所述待抽检方片中选出必抽方片，所述必抽方片的数量少于所述代抽检方片的数量，所述必抽方片上的LED晶粒为第二抽检晶粒，所述第二抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒。
[0033]作为上述方案的改进，所述检测模块还用于对所述第二抽检晶粒进行检测，以判
断所述第二抽检晶粒是否满足标准。
[0034]作为上述方案的改进，所述LED晶圆中，LED晶粒数量最多的分类等级为必抽等级，所述LED晶圆至少含有一个必抽等级。
[0035]实施本专利技术，具有如下有益效果：
[0036]本申请的抽检方法是一种全新的抽检方式，跳出矩随机抽检和全抽检的抽检思路，在有效提高抽检效率的同时，保证了抽检的精度，以及降低漏检概率。
[0037]本实施例提供的LED晶粒的抽检系统，只需对待抽检检方片进行检测，有效提高了抽检效率，并且减少制造成本和人力成本；此外，由于待抽检检方片上的第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；因此大大降低漏检的几率，提高抽检的准确率。
附图说明
[0038]图1是现有LED晶粒在成品方片上的排列示意图；
[0039]图2是本专利技术实施例1中来自晶圆1～晶圆3的LED本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种LED晶粒的抽检方法，其特征在于，包括：对LED晶圆进行测试，以获取LED晶粒的测试数据；根据所述LED晶粒的测试数据，将LED晶粒分成若干个分类等级，并从所述分类等级中选出必抽等级，所述必抽等级对应的LED晶粒为必抽晶粒，所述LED晶粒来自至少一个晶圆；按照分类等级将所述LED晶粒排列至不同的方片上，获得若干张成品方片；从所述成品方片中选出待抽检方片，所述待抽检方片上的LED晶粒为第一抽检晶粒，所述第一抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；对所述待抽检检方片上的第一抽检晶粒进行测试，以判断所述第一抽检晶粒是否满足标准；若所述待抽检方片上的第一抽检晶粒满足标准，则其余的成品方片不用进行检测并流转至下一工序；若所述待抽检方片上的第一抽检晶粒不满足标准，则将所有的成品方片扣留。2.如权利要求1所述的LED晶粒的抽检方法，其特征在于，根据抽检比例从所述待抽检方片中选出必抽方片，所述必抽方片的数量少于所述代抽检方片的数量，所述必抽方片上的LED晶粒为第二抽检晶粒，所述第二抽检晶粒包括来自任一LED晶圆的必抽晶粒；对所述必抽方片上的第二抽检晶粒进行测试，以判断所述第二抽检晶粒是否满足标准；若所述必抽方片上的第二抽检晶粒满足标准，则其余的成品方片不用进行检测并流转至下一工序；若所述必抽方片上的第二抽检晶粒不满足标准，则将所有成品方片扣留。3.如权利要求1或2所述的LED晶粒的抽检方法，其特征在于，所述LED晶圆中，LED晶粒数量最多的分类等级为必抽等级，所述LED晶圆至少含有一个必抽等级。4.如权利要求2所述的LED晶粒的抽检方法，其特征在于，所述抽检比例是指所述第二抽检晶粒中来自任一LED晶圆的必抽晶粒数与该LED晶圆的必抽晶粒总数比；所述第二抽检晶粒中来自任一LED晶圆的必抽晶粒数a，抽检比例为k，该LE...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎银英，邝浩彬，陈桂飞，
申请(专利权)人：佛山市国星半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：