一种芯片检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种芯片检测系统，涉及芯片检测技术领域，解决了现有方案在电子芯片检测过程中存在的检测精度不高，检测效率低下的技术问题；本发明专利技术构建了标准的测试数据，测试数据中芯片标签以及对应的测试数据相关联，获取待测芯片的芯片标签和测试标签即可确定测试集，通过测试集对待测芯片完成检测；本发明专利技术能够提高芯片检测的精度，同时可与自动化生产线相结合，提高检测效率，降低成本；本发明专利技术可定制检测内容，根据芯片表单建立测试数据，通过智能终端获取待测芯片需要检测的内容，确定测试集之后完成对待测芯片的检测；提高了本发明专利技术的应用范围，有助于将各种应用场景下的芯片检测标准化。标准化。标准化。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测系统


[0001]本专利技术属于芯片检测
，具体是一种芯片检测系统。

技术介绍

[0002]电子芯片是一种微型电子器件或者部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容、电感等元件及布线互联在一起，整合在一小块或者几小块半导体晶片上，通过管壳进行封装形成具有所需电路功能的微型结构。
[0003]电子芯片在生产完成之后，需要进行综合测试以及各种电流和电压的测试，目前的检测方式大多通过工人手持检测探针对电子芯片进行检测，根据检测指示灯和指示数值进行判断，在检测过程中，还会由于工人的失误或者检测探针的晃动造成误差，效率低，且检测精度不高；因此，亟需一种提高检测精度的自动化芯片检测系统。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种芯片检测系统，用于解决现有方案在电子芯片检测过程中存在的检测精度不高，检测效率低下的技术问题，本专利技术通过建立了标准的测试数据，再结合待测芯片的实际反馈数据全自动评估待测芯片的状态解决了上述问题。
[0005]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：一种芯片本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片检测系统，其特征在于，包括：处理器：用于构建测试数据；还用于根据芯片标签和测试标签确定测试集；还用于根据反馈数据获取待测芯片的检测标签和检测数值；其中，所述检测标签至少为两个数字的组合；所述处理器根据所述测试标签读取对所述待测芯片的检测项目；其中，所述检测项目包括全功能测试、状态测试和稳定性测试，且所述全功能测试包括状态测试和稳定性测试；通过所述处理器对待测芯片进行稳定性测试，包括：定时或者按照设定周期根据稳定性测试数据设置待测芯片的输入引脚电平；根据待测芯片的输出引脚数据评估待测芯片状态；当检测周期内待测芯片状态均正常时，则判定待测芯片稳定性测试通过；否则，判定待测芯片稳定性测试未通过；数据采集模块：根据所述测试集自动设置待测芯片的输入引脚电平，获取所述待测芯片输出引脚的反馈数据；智能终端：用于显示所述待测芯片的检测标签和检测数值；还用于完成与所述处理器之间数据交互。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测系统，其特征在于，所述数据采集模块包括：型号采集单元：用于获取芯片型号，并根据芯片型号生成芯片标签。3.根据权利要求2所述的一种芯片检测系统，其特征在于，所述芯片标签为芯片型号，或者根据所述芯片型号转换成的数字组合。4.根据权利要求1所述的一种芯片检测系统，其特征在于，通过所述处理器生成所述测试数据，包括：通过所述智能终端导入芯片表单；其中，所述芯片表单包括芯片型号；提取...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹小波，罗治，郭棋武，雷彬，孔德君，李久根，毕晓猛，
申请(专利权)人：中大检测湖南股份有限公司，
类型：发明
国别省市：