一种修正PCB介电常数模型的建立方法和修正方法及修正系统技术方案

本发明专利技术涉及PCB介电常数领域，具体涉及一种修正PCB介电常数模型的建立方法和修正方法及修正系统。所述建立方法包括步骤：通过阻抗测试获取PCB样品的介电常数测试结果；获取对应PCB样品阻抗线的实际参数，并根据实际参数获取介电常数反推结果；根据多个PCB样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，建立修正PCB介电常数的修正模型。发明专利技术的有益效果在于，与现有技术相比，本发明专利技术建立修正模型，并将后续需要获取修正后介电常数的PCB的相关参数数据，输入至修正模型中，直接快捷方便获取所述PCB的已修正后的介电常数；同时，提供修正的准确性。提供修正的准确性。提供修正的准确性。

【技术实现步骤摘要】
一种修正PCB介电常数模型的建立方法和修正方法及修正系统


[0001]本专利技术涉及PCB介电常数领域，具体涉及一种修正PCB介电常数模型的建立方法和修正方法及修正系统。

技术介绍

[0002]PCB(Printed Circuit Board)，中文名称为印制电路板，又称印刷线路板，是重要的电子部件，是电子元器件的支撑体，是电子元器件电气连接的载体。
[0003]阻抗表示在具有电阻、电感和电容的电路中，对电路中的电流所起的阻碍作用。阻抗常用Z表示，是一个复数，实部称为电阻，虚部称为电抗，其中电容在电路中对交流电所起的阻碍作用称为容抗,电感在电路中对交流电所起的阻碍作用称为感抗，电容和电感在电路中对交流电引起的阻碍作用总称为电抗。阻抗的单位是欧姆，在PCB产品中是非常重要的一个指标。客户通常要求PCB上特定线路的阻抗为特定值，一旦超出客户给定的阻抗值范围则为不合格产品。
[0004]而介电常数在PCB行业又称Dk值，介电常数是否准确对制造PCB的至关重要，介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介电常数(permittivity)又称诱电率，与频率相关。介电常数是相对介电常数与真空中绝对介电常数乘积，如果有高介电常数的材料放在电场中，电场的强度会在电介质内有可观的下降，主要是介电常数能够影响产品的阻抗值。
[0005]随着5G时代的来临，越来越多PCB有着插损和阻抗要求。由于全链路阻抗匹配的要求，对PCB的阻抗值要求也越来越严格。而介电常数是否准确对制造PCB的至关重要，因为介电常数能够影响产品的阻抗值，同时，一般客户使用的Dk值是供应商提供的值，而这一个值并不能真正反映产品上的真实介电常数，如果不加以修正制造出来的阻抗值必将不合格。
[0006]而介电常数并非真实，其根本问题在于供应商提供的Dk值是在特定条件下的测量结果，而真实PCB的电磁场分布与测试的电磁场分布不一样。如图1所示，供应商常用的测试Dk值的方法示意图，又称TDR测试阻抗(TDR(Time domain reflectometry)，即时域反射技术，是雷达探测技术的一种应用。早期主要应用于通讯行业中，用来检测通信电缆的断点位置，因此又称为“电缆探测仪”。参考图1，包括上下设置的金属外壳110，两金属外壳110分别通过支撑柱120与一介质谐振器140连接，金属外壳110上还穿设有靠近对应介质谐振器140的耦合回路130，PCB10设置在两介质谐振器140之间，以进行测试Dk值。
[0007]此时测试的电磁场由上到下的均强磁场，但是真实的PCB上的走线并非如此，而是如图2所示，图2是真实走线的电磁场示意图。
[0008]因此，对这种差异性需要做一定的修正才可以弥补。

技术实现思路

[0009]本专利技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种修正PCB介电
常数模型的建立方法和修正方法及修正系统，解决现有测试阻抗的方式并不能得到真正反映产品上的真实介电常数的问题。
[0010]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种修正PCB介电常数模型的建立方法，包括步骤：
[0011]通过阻抗测试获取PCB样品的介电常数测试结果；
[0012]获取对应PCB样品阻抗线的实际参数，并根据实际参数获取介电常数反推结果；
[0013]根据多个PCB样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，建立修正PCB介电常数的修正模型。
[0014]其中，较佳方案是：所述阻抗测试为TDR测试阻抗。
[0015]其中，较佳方案是：所述实际参数包括切片阻抗线所获取的介质厚度，以及阻抗线的线宽和间距。
[0016]其中，较佳方案是，所述建立方法的步骤包括：
[0017]设置标准线宽/间距，并根据阻抗线的实际参数获取标准线宽/间距的第一反推结果；
[0018]根据多个PCB样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，设置不同线宽/间距的反推结果与第一反推结果的关系公式；
[0019]通过关系公式获取不同线宽/间距已进行修正的第二反推结果。
[0020]其中，较佳方案是：所述关系公式为Dk
修正
＝Dk
标准线宽/间距
+n
×
(X-X
标
)，其中，Dk
修正
为第二反推结果，Dk
标准线宽/间距
为第一反推结果，n为调整系数，X为需要修正的线宽/间距的阻抗线线宽，X
标
为标准线宽/间距的阻抗线线宽。
[0021]其中，较佳方案是：所述标准线宽/间距为6mil/6mil，其阻抗线线宽为6；所述调整系数为0.07。
[0022]其中，较佳方案是：所述调整系数的设置步骤包括：
[0023]根据多个PCB样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正百分比，形成基于多个PCB样品修正百分比的布局分散图；
[0024]根据布局分散图中各分散点的分布情况，获取最密集分布百分比的轴线的数值作为调整系数。
[0025]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种基于修正PCB介电常数模型的修正方法，包括步骤：
[0026]将需要修正PCB的线宽/间距的数值，输入至修正模型中；
[0027]通过修正模型输出修正后的介电常数。
[0028]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种修正系统，所述修正系统包括输入模块、输出模块和具有修正模型的修正模块，所述输入模块输入需要修正PCB的线宽/间距的数值，所述修正模块通过修正模型修正输入模块输入的数值，所述输出模块输出通过修正模型输出修正后的介电常数。
[0029]本专利技术的有益效果在于，与现有技术相比，本专利技术建立修正模型，并将后续需要获取修正后介电常数的PCB的相关参数数据，输入至修正模型中，直接快捷方便获取所述PCB的已修正后的介电常数；同时，提供修正的准确性。
附图说明
[0030]下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：
[0031]图1是现有技术TDR测试阻抗的结构示意图；
[0032]图2是现有技术真实走线的电磁场的示意图；
[0033]图3是本专利技术修正PCB介电常数模型的建立方法的流程示意图；
[0034]图4是本专利技术基于关系公式的建立方法的流程示意图；
[0035]图5是本专利技术基于多个PCB样品修正百分比的布局分散图；
[0036]图6是本专利技术基于修正PCB介电常数模型的修正方法的流程示意图；
[0037]图7是本专利技术修正系统的结构框图。
具体实施方式
[0038]现结合附图，对本专利技术的较佳实施例作详细说明。
[0039]如图3所示，本专利技术提供一种修正PCB介电常数模型的建立方法的优选实施例。
[0040]一种修正PCB介电常数模型的建立方法，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种修正PCB介电常数模型的建立方法，其特征在于，包括步骤：通过阻抗测试获取PCB样品的介电常数测试结果；获取对应PCB样品阻抗线的实际参数，并根据实际参数获取介电常数反推结果；根据多个PCB样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，建立修正PCB介电常数的修正模型。2.根据权利要求1所述的修正方法，其特征在于：所述阻抗测试为TDR测试阻抗。3.根据权利要求1所述的修正方法，其特征在于：所述实际参数包括切片阻抗线所获取的介质厚度，以及阻抗线的线宽和间距。4.根据权利要求1至3任一所述的修正方法，其特征在于，所述建立方法的步骤包括：设置标准线宽/间距，并根据阻抗线的实际参数获取标准线宽/间距的第一反推结果；根据多个PCB样品的介电常数测试结果和介电常数反推结果的修正关系，设置不同线宽/间距的反推结果与第一反推结果的关系公式；通过关系公式获取不同线宽/间距已进行修正的第二反推结果。5.根据权利要求4所述的修正方法，其特征在于：所述关系公式为Dk
修正
＝Dk
标准线宽/间距
+n
×
(X-X
标
)，其中，Dk
修正

【专利技术属性】
技术研发人员：张利华，刘诗涛，李一峰，
申请(专利权)人：深南电路股份有限公司，
类型：发明
国别省市：