本发明专利技术公开了一种量子芯片测试方法和装置，应用于量子测控装置，包括：在接收到脉冲信号指令时，获得与脉冲信号指令对应的参数列表和波形列表；控制功能模块生成与参数列表和/或波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号；向功能模块发送第一脉冲使能信号，控制功能模块输出脉冲测试信号到待测量子芯片进行测试；在接收完待测量子芯片返回的回波数据后，向功能模块发送第二脉冲使能信号，控制功能模块终止脉冲测试信号输出；控制功能模块将下一个控制数据对应的脉冲测试信号输出到待测量子芯片进行测量，直至所有的遍历控制数据对应的脉冲测试信号均遍历完。本发明专利技术能够提高对量子芯片的测量效率、节约人工测试成本。节约人工测试成本。节约人工测试成本。
【技术实现步骤摘要】
一种量子芯片测试方法和装置
[0001]本专利技术属于量子计算领域，特别是一种量子芯片测试方法和装置。
技术介绍
[0002]在对量子芯片测试时，需要通过量子测控装置施加各种控制信号，有直流信号、脉冲信号、微波信号等多种，针对同一种信号，也需要具有不同参数值，以完成芯片测试。针对不同的测试需求，需要对信号的种类和具体参数值进行修改，即需要对量子测控装置进行循环反复的设置，然后进行一系列的重复测试流程，难以实现的独立量子测试流程，极大降低了测试效率，增加了量子测控过程中的人工测试成本。
技术实现思路
[0003]本专利技术的目的是提供一种量子芯片测试方法和装置，以解决现有技术中的不足，它能够提高测量效率、节约人工测试成本。
[0004]本申请采用的技术方案如下：
[0005]一种量子芯片测试方法，应用于量子测控装置，所述方法包括：在接收到脉冲信号指令时，获得与所述脉冲信号指令对应的控制数据列表；其中，所述控制数据列表包括参数列表和波形列表；对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号；向所述功能模块发送第一脉冲使能信号，控制所述功能模块输出所述脉冲测试信号到待测量子芯片进行测试；在接收完所述待测量子芯片基于所述脉冲测试信号返回的回波数据后，向所述功能模块发送第二脉冲使能信号，控制所述功能模块终止所述脉冲测试信号输出；控制所述功能模块将下一个所述遍历控制数据对应的所述脉冲测试信号输出到所述待测量子芯片进行测量，直至所有的所述遍历控制数据对应的所述脉冲测试信号均遍历完。
[0006]进一步的，所述脉冲信号指令包括参数指令和波形指令，在接收到脉冲信号指令时，获得与所述脉冲信号指令对应的控制数据列表，具体包括：对所述脉冲信号指令进行解析，从数据库中获取与所述参数指令对应的参数列表、以及与所述波形指令对应的波形列表。
[0007]进一步的，对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号之前，还包括：将所述参数列表中的第一控制数据通过TCP协议发送到所述中控模块；将所述波形列表中的第二控制数据通过UDP协议发送到所述功能模块。
[0008]进一步的，对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号，包括：对所述参数列表进行遍历时，所述中控模块对所述TCP协议中包含的所述第一控制数据进行解析，获得对应的遍历信号参数；所述功能模块对所述UDP协议中包含的所述第二控制数据进行解析，获得一个信号波形；所述中控模块将所述遍历信号参数发送到所述功能模块，控制所述功能
模块生成与所述遍历信号参数一一对应的第一脉冲测试信号。
[0009]进一步的，对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号，还包括：对所述波形列表进行遍历时，所述功能模块对所述UDP协议中的第二控制数据进行解析，获得对应的遍历信号波形；所述中控模块对所述TCP协议中的所述第一控制数据进行解析，获得一个信号参数；所述中控模块将所述信号参数发送到所述功能模块，控制所述功能模块生成与所述遍历信号波形一一对应的第二脉冲测试信号。
[0010]进一步的，对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号，还包括：对所述参数列表和所述波形列表同时遍历时，所述中控模块对所述TCP协议中的所述第一控制数据进行解析，获得遍历信号参数；所述功能模块对所述UDP协议中的第二控制数据进行解析，获得对应的遍历信号波形；所述中控模块将所述遍历信号参数发送到所述功能模块，控制所述功能模块生成与所述遍历信号参数和所述遍历信号波形均对应的第三脉冲测试信号；其中，所述遍历信号参数和所述遍历信号波形中的遍历次序相同。
[0011]进一步的，所述量子测控装置还包括脉冲采集模块，所述脉冲采集模块分别和所述中控模块、所述待测量子芯片通信连接；所述脉冲采集模块工作流程具体包括：当对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历时，所述中控模块向所述功能模块发送所述第一脉冲使能信号，控制所述功能模块输出所述第一脉冲测试信号或所述第二脉冲测试信号或第三脉冲测试信号到所述待测量子芯片进行测试；所述中控模块控制所述脉冲采集模块采集所述待测量子芯片基于所述第一脉冲测试信号或所述第二脉冲测试信号或所第三脉冲测试信号返回的回波数据，本次所述回波数据采集完毕时，所述脉冲采集模块发送数据采集完毕指令到所述中控模块；所述中控模块接收所述数据采集完毕指令，向所述功能模块发送所述第二脉冲使能信号，控制所述功能模块终止述第一脉冲测试信号或所述第二脉冲测试信号或所第三脉冲测试信号输出。直至所有的所述第一脉冲测试信号或所述第二脉冲测试信号或所第三脉冲测试信号均施加到所述待测量子芯片进行测试，并获得相应的所述回波数据。
[0012]进一步的，所述中控模块向所述功能模块发送所述第一脉冲使能信号和所述第二脉冲使能信号之前，还包括：所述中控模块通过TCP协议接收脉冲使能指令，并对所述脉冲使能指令进行解析，获得所述第一脉冲使能信号或所述第二脉冲使能信号。
[0013]进一步的，所述量子测控装置包括主控模块、中控模块以及至少一个功能模块，所述主控模块与所述中控模块连接，所述中控模块与至少一个所述功能模块连接；所述主控模块，用于在接收到脉冲信号指令时，获得与所述脉冲信号指令对应的控制数据列表，并发送所述控制数据列表至所述中控模块；其中，所述控制数据列表包括参数列表和波形列表；所述中控模块，用于对所述参数列表或所述波形列表进行遍历，控制所述功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号；所述中控模块用于向所述功能模块发送第一脉冲使能信号，控制所述功能模块输出所述脉冲测试信号到待测量子芯片进行测试；并在接收完所述待测量子芯片基于所述脉冲测试信号返回的回波数据后，向所述功能模块发送第二脉冲使能信号，控制所述功能模块终止所述脉冲测试信号输出；所述中控模块用于控制所述功能模块将下一个所述遍历控制数据对应的所述脉冲测试
信号输出到所述待测量子芯片进行测量，直至所有的所述遍历控制数据对应的所述脉冲测试信号均遍历完。
[0014]进一步的，所述主控板包括处理器以及机器可读存储介质，所述机器可读存储介质中存储有机器可读程序指令，当所述机器可读程序指令被所述处理器运行时，实现上述任意一项所述的量子芯片测试方法。
[0015]与现有技术相比，本专利技术在接收到脉冲信号指令时，获得与脉冲信号指令对应的控制数据列表；其中，控制数据列表包括参数列表和波形列表；对参数列表和/或波形列表进行遍历，控制功能模块生成与参数列表和/或波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号；并向功能模块发送第一脉冲使能信号，控制功能模块输出脉冲测试信号到待本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种量子芯片测试方法，其特征在于，应用于量子测控装置，所述方法包括：在接收到脉冲信号指令时，获得与所述脉冲信号指令对应的控制数据列表；其中，所述控制数据列表包括参数列表和波形列表；对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号；向所述功能模块发送第一脉冲使能信号，控制所述功能模块输出所述脉冲测试信号到待测量子芯片进行测试；在接收完所述待测量子芯片基于所述脉冲测试信号返回的回波数据后，向所述功能模块发送第二脉冲使能信号，控制所述功能模块终止所述脉冲测试信号输出；控制所述功能模块将下一个所述遍历控制数据对应的所述脉冲测试信号输出到所述待测量子芯片进行测量，直至所有的所述遍历控制数据对应的所述脉冲测试信号均遍历完。2.根据权利要求1所述的量子芯片测试方法，其特征在于，所述脉冲信号指令包括参数指令和波形指令，在接收到脉冲信号指令时，获得与所述脉冲信号指令对应的控制数据列表，具体包括：对所述脉冲信号指令进行解析，从数据库中获取与所述参数指令对应的参数列表、以及与所述波形指令对应的波形列表。3.根据权利要求1所述的量子芯片测试方法，其特征在于，对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号之前，还包括：将所述参数列表中的第一控制数据通过TCP协议发送到所述中控模块；将所述波形列表中的第二控制数据通过UDP协议发送到所述功能模块。4.根据权利要求3所述的量子芯片测试方法，其特征在于，对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号，包括：对所述参数列表进行遍历时，所述中控模块对所述TCP协议中包含的所述第一控制数据进行解析，获得对应的遍历信号参数；所述功能模块对所述UDP协议中包含的所述第二控制数据进行解析，获得一个信号波形；所述中控模块将所述遍历信号参数发送到所述功能模块，控制所述功能模块生成与所述遍历信号参数一一对应的第一脉冲测试信号。5.根据权利要求3所述的量子芯片测试方法，其特征在于，对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号，还包括：对所述波形列表进行遍历时，所述功能模块对所述UDP协议中的第二控制数据进行解析，获得对应的遍历信号波形；所述中控模块对所述TCP协议中的所述第一控制数据进行解析，获得一个信号参数；所述中控模块将所述信号参数发送到所述功能模块，控制所述功能模块生成与所述遍历信号波形一一对应的第二脉冲测试信号。
6.根据权利要求3所述的量子芯片测试方法，其特征在于，对所述参数列表和/或所述波形列表进行遍历，控制功能模块生成与所述参数列表或所述波形列表中的遍历控制数据对应的脉冲测试信号，还包括：对所述参数列表和所述波形列表同时遍历时，所述中控模块对所述TCP协议中的所述第一控制数据进行解析，获得遍历信号参数；所述功...
【专利技术属性】
技术研发人员：石汉卿，张昂，孔伟成，
申请(专利权)人：合肥本源量子计算科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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